[發(fā)明專利]特征點(diǎn)匹配方法、拼接方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010781780.3
• 申請(qǐng)日: 2020-08-06
• 公開（公告）號(hào): CN111739081A
• 公開（公告）日: 2020-10-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 賴俊霖
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 成都極米科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G06T7/55
• 分類號(hào): G06T7/55;G06T7/73;G06K9/62
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1.一種特征點(diǎn)匹配方法，其特征在于，所述方法包括：

對(duì)第一圖像和第二圖像進(jìn)行特征點(diǎn)檢測(cè)，確定出所述第一圖像的第一組特征點(diǎn)和所述第二圖像的第二組特征點(diǎn)；

對(duì)所述第一組特征點(diǎn)和所述第二組特征點(diǎn)進(jìn)行校正，以得到第一組校正特征點(diǎn)和第二組校正特征點(diǎn)；

將所述第一組校正特征點(diǎn)和所述第二組校正特征點(diǎn)進(jìn)行匹配，以得到目標(biāo)匹配點(diǎn)對(duì)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述將所述第一組校正特征點(diǎn)和所述第二組校正特征點(diǎn)進(jìn)行匹配，以得到目標(biāo)匹配點(diǎn)對(duì)，包括：

將所述第一組校正特征點(diǎn)和所述第二組校正特征點(diǎn)進(jìn)行約束處理，以得到所述第一組校正特征點(diǎn)中的每個(gè)校正特征點(diǎn)在所述第二組校正特征點(diǎn)中對(duì)應(yīng)的匹配特征點(diǎn)組；

針對(duì)所述第一組校正特征點(diǎn)中的任一校正特征點(diǎn)，將所述任一校正特征點(diǎn)與在所述第二組校正特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)的匹配點(diǎn)組進(jìn)行初匹配，以得到第一匹配點(diǎn)對(duì);

將所述第一匹配點(diǎn)對(duì)進(jìn)行匹配代價(jià)計(jì)算，以確定所述第一匹配點(diǎn)對(duì)匹配代價(jià)；

根據(jù)所述匹配代價(jià)確定出目標(biāo)匹配點(diǎn)對(duì)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述將所述第一匹配點(diǎn)對(duì)進(jìn)行匹配代價(jià)計(jì)算，以確定第一匹配點(diǎn)對(duì)匹配代價(jià)，包括：

計(jì)算所述第一匹配點(diǎn)對(duì)的特征描述符距離，以得到所述第一匹配點(diǎn)對(duì)的匹配代價(jià)；或者，

計(jì)算所述第一匹配點(diǎn)對(duì)的特征點(diǎn)漢明距離，以得到所述第一匹配點(diǎn)對(duì)的匹配代價(jià)。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述將所述第一匹配點(diǎn)對(duì)進(jìn)行匹配代價(jià)計(jì)算，以確定第一匹配點(diǎn)對(duì)匹配代價(jià)，包括：

計(jì)算所述第一匹配點(diǎn)對(duì)的特征描述符距離；

計(jì)算所述第一匹配點(diǎn)對(duì)的特征點(diǎn)漢明距離；

對(duì)所述特征描述符距離以及所述特征點(diǎn)漢明距離進(jìn)行加權(quán)求和，以得到所述第一匹配點(diǎn)對(duì)的匹配代價(jià)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述計(jì)算所述第一匹配點(diǎn)對(duì)的特征點(diǎn)漢明距離，包括：

針對(duì)第一匹配點(diǎn)對(duì)中的兩個(gè)特征點(diǎn)進(jìn)行Census變換以得到兩個(gè)特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)的變換值；

對(duì)第一匹配點(diǎn)對(duì)的兩個(gè)特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)的變換值進(jìn)行異或運(yùn)算，得到異或結(jié)果；

根據(jù)所述異或結(jié)果，得到第一匹配點(diǎn)對(duì)的特征點(diǎn)漢明距離。

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述匹配代價(jià)確定出目標(biāo)匹配點(diǎn)對(duì)，包括：

從所述第一匹配點(diǎn)對(duì)篩選出匹配代價(jià)小于預(yù)設(shè)值的第二匹配點(diǎn)對(duì)，從所述第二匹配點(diǎn)對(duì)中使用一致約束確定出目標(biāo)匹配點(diǎn)對(duì)；或者，

從所述第一匹配點(diǎn)對(duì)篩選出匹配代價(jià)小于預(yù)設(shè)值的目標(biāo)匹配點(diǎn)對(duì)；或者，

從所述第一匹配點(diǎn)對(duì)中使用一致約束確定出目標(biāo)匹配點(diǎn)對(duì)。

7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述將所述第一組校正特征點(diǎn)和所述第二組校正特征點(diǎn)進(jìn)行約束處理，以得到所述第一組校正特征點(diǎn)中的每個(gè)校正特征點(diǎn)在所述第二組校正特征點(diǎn)中對(duì)應(yīng)的匹配特征點(diǎn)組，包括：

將所述第一組校正特征點(diǎn)和所述第二組校正特征點(diǎn)進(jìn)行極線約束處理，或/及，將所述第一組校正特征點(diǎn)和所述第二組校正特征點(diǎn)進(jìn)行視差約束處理，以得到所述第一組校正特征點(diǎn)中的每個(gè)校正特征點(diǎn)在所述第二組校正特征點(diǎn)中對(duì)應(yīng)的匹配特征點(diǎn)組。

8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述將所述第一組校正特征點(diǎn)和所述第二組校正特征點(diǎn)進(jìn)行約束處理，以得到所述第一組校正特征點(diǎn)中的每個(gè)校正特征點(diǎn)在所述第二組校正特征點(diǎn)中對(duì)應(yīng)的匹配特征點(diǎn)組，包括：

針對(duì)第一組校正特征點(diǎn)的任意一個(gè)第一目標(biāo)校正特征點(diǎn)，確定出所述第一目標(biāo)校正特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)極線，在第二組校正特征點(diǎn)中的校正特征點(diǎn)確定出位于所述目標(biāo)極線上校正特征點(diǎn)組，則所述校正特征點(diǎn)為所述第一目標(biāo)校正特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第一匹配特征點(diǎn)組；

針對(duì)第一組校正特征點(diǎn)的任意一個(gè)第二目標(biāo)校正特征點(diǎn)，則根據(jù)設(shè)定的最大視差半徑，從第二組校正特征點(diǎn)中篩選出與所述目標(biāo)校正特征點(diǎn)距離小于最大視差半徑的校正特征點(diǎn)，以得到第二匹配特征點(diǎn)組；

根據(jù)所述第一匹配特征點(diǎn)組和所述第二匹配特征點(diǎn)組，得到匹配特征點(diǎn)組。