[發(fā)明專利]基于串行總線的深空撞擊器測試及優(yōu)化系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010780131.1 | 申請日: | 2020-08-05 |
| 公開(公告)號: | CN111737156B | 公開(公告)日: | 2020-11-20 |
| 發(fā)明(設計)人: | 董煬;楊偉光;陳昭會;李敬一;楊昀臻;李偉楠;劉輝;王云財;韓檸;張松濤 | 申請(專利權(quán))人: | 北京控制與電子技術(shù)研究所 |
| 主分類號: | G06F11/36 | 分類號: | G06F11/36;G06T7/13 |
| 代理公司: | 北京市恒有知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 11576 | 代理人: | 郭文浩;尹文會 |
| 地址: | 100038 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 串行 總線 撞擊 測試 優(yōu)化 系統(tǒng) | ||
1.一種基于串行總線的深空撞擊器測試系統(tǒng),用于對深空撞擊器進行測試,所述深空撞擊器包括高集成裝置和高加固裝置,其特征在于,該深空撞擊器測試系統(tǒng)包括:基于串行總線的測試設備和上位機;所述上位機包括指令獲取模塊、單元測試模塊、系統(tǒng)測試模塊和半實物測試模塊;
所述指令獲取模塊,配置為接收所述基于串行總線的測試設備發(fā)送的測試指令并發(fā)送至深空撞擊器;所述測試指令包括單元測試指令、系統(tǒng)測試指令和半實物測試指令;
所述單元測試模塊,配置為接收深空撞擊器響應所述單元測試指令的應答信息,并基于預設第一規(guī)則,對所述高集成裝置各單元的狀態(tài)進行判斷;
所述系統(tǒng)測試模塊,配置為在所述高集成裝置的各單元正常狀態(tài)下,接收深空撞擊器響應所述系統(tǒng)測試指令的應答信息,并基于預設的第二規(guī)則,對所述高集成裝置和所述高加固裝置的狀態(tài)進行判斷;
所述半實物測試模塊,配置為在所述高集成裝置和所述高加固裝置正常狀態(tài)下,接收深空撞擊器響應所述半實物測試指令的應答信息和第一數(shù)據(jù);基于所述第一數(shù)據(jù),結(jié)合模擬目標天體的灰度圖像樣本數(shù)據(jù)和形心坐標樣本數(shù)據(jù),計算所述形心坐標樣本數(shù)據(jù)與形心坐標測試數(shù)據(jù)的距離,若該距離小于設定閾值,則完成所述深空撞擊器的測試;
所述第一數(shù)據(jù)包括模擬目標天體的灰度圖像測試數(shù)據(jù)及形心坐標測試數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于串行總線的深空撞擊器測試系統(tǒng),其特征在于,所述上位機還包括參數(shù)輸入模塊和告警模塊;
所述參數(shù)輸入模塊,配置為接收人工輸入的系統(tǒng)參數(shù);所述系統(tǒng)參數(shù)包括測試時間、測試環(huán)境參數(shù)、相機曝光參數(shù)和圖像識別算法參數(shù);
所述告警模塊,配置為當檢測到各測試模塊判斷的狀態(tài)為異常時,發(fā)出告警。
3.根據(jù)權(quán)利要求1-2任一項所述的基于串行總線的深空撞擊器測試系統(tǒng),其特征在于,所述測試指令由幀頭、ID號、指令幀的字節(jié)數(shù)、指令幀的幀序號、預設的控制參數(shù)和指令幀的校驗字組成;所述校驗字采用字節(jié)異或和的校驗方式。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于串行總線的深空撞擊器測試系統(tǒng),其特征在于,所述單元測試指令包括高集成裝置上電指令、高集成裝置與基于串行總線的測試設備的通訊檢查指令、高集成裝置電源單元檢查指令、高集成裝置慣測單元自檢指令、高集成裝置射頻通訊單元自檢指令、高集成裝置光學模塊自檢指令以及高集成裝置光學模塊成像檢查指令。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-2任一項所述的基于串行總線的深空撞擊器測試系統(tǒng),其特征在于,所述深空撞擊器、所述上位機和所述基于串行總線的測試設備構(gòu)建的通訊網(wǎng)絡為兩級通訊網(wǎng)絡;一級為所述深空撞擊器中各裝置的內(nèi)部通訊網(wǎng)絡;一級為所述深空撞擊器、所述上位機和所述基于串行總線的測試設備之間的通訊網(wǎng)絡。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-2任一項所述的基于串行總線的深空撞擊器測試系統(tǒng),其特征在于,所述半實物測試模塊中計算所述形心坐標樣本數(shù)據(jù)與形心坐標測試數(shù)據(jù)的距離,其方法為:
基于所述模擬目標天體的灰度圖像樣本數(shù)據(jù)和所述模擬目標天體的灰度圖像測試數(shù)據(jù),進行圖像匹配;
匹配后,通過坐標點的映射將所述形心坐標測試數(shù)據(jù)和所述形心坐標樣本數(shù)據(jù)置于同一圖像中,并計算兩個坐標之間的距離。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于串行總線的深空撞擊器測試系統(tǒng),其特征在于,所述形心坐標樣本數(shù)據(jù),其獲取方法為:
基于所述模擬目標天體的灰度圖像樣本數(shù)據(jù),通過預設的邊緣檢測算法提取模擬目標天體的輪廓線;
將所述輪廓線擬合為圓或橢圓,以所述圓或橢圓的中心作為第一圖像中模擬目標天體的真實形心;所述第一圖像為模擬目標天體的灰度圖像樣本數(shù)據(jù)中的灰度圖像。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京控制與電子技術(shù)研究所,未經(jīng)北京控制與電子技術(shù)研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010780131.1/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





