[發明專利]一種相控陣天線數據驗證的方法

在審

• 申請號: 202010771193.6
• 申請日: 2020-08-04
• 公開（公告）號: CN111913975A
• 公開（公告）日: 2020-11-10
• 發明（設計）人: 王偉;谷濱;胡洋;余鵬;羅烜;郭凡玉
• 申請（專利權）人: 成都天銳星通科技有限公司
• 主分類號: G06F16/23
• 分類號: G06F16/23;G06F16/215
• 代理公司: 蘇州吳韻知識產權代理事務所(普通合伙) 32364
• 代理人: 王銘陸

本申請實施例公開了一種相控陣天線數據驗證的方法，該種方法包括：S1、數據讀?。盒ο到y自相控陣波束控制系統中分段讀取待校準數據，并暫存為校準數據段；S2、數據比對：所述校對系統在原始數據中提取與讀取到的所述校準數據段相對應的原始數據段，將所述原始數據段與所述校準數據段進行比對，并對不一致的比對結果進行記錄；S3、重復所述S1和所述S2，直至所有的所述待校準數據分別與所述原始數據中的數據逐一比對驗證后，輸出驗證結果。本申請的相控陣天線數據驗證的方法，數據驗證速度快、可靠性高。

技術領域

本申請涉及相控陣天線數據驗證技術領域，具體是相控陣天線數據驗證的方法。

背景技術

在相控陣波束控制的技術中，為了確保相控陣天線的最終性能，必須對相控陣每個通道進行幅相校準，再將校準數據處理之后集成到控制系統中。

現有技術中一般采用間接判別法判別系統中的數據準確性，即通過測試相控陣天線的最終性能(例如方向圖)等，來間接判斷相控陣波束控制系統中數據的正確性。但是，采用間接判別法判別相控陣波束控制系統中數據準確性的過程中，由于影響相控陣天線出現最終功能異常的情況的環節較多，排故較為困難，因此，無法直接確定相控陣波束控制系統中的數據是否存在不準確的情況。另一方面，隨著相控陣通道數的增加，即使排故后確定是相控陣波束控制系統中的存在不準確數據，在數據校準過程中，需要校準的數據量也隨之增加，很難逐一排查，導致最終存入相控陣波束控制系統中進行工作的數據的正確性判定難度增加。因此，亟需一種相控陣天線數據驗證的方法來解決這一問題。

發明內容

本發明旨在解決上述技術問題，提供一種相控陣天線數據驗證的方法，快速地驗證相控陣波束控制系統中待校準數據的正確性，縮小相控陣波束控制系統排故過程中的排查范圍，降低排故難度和縮短了排故周期

為實現上述目的，本發明公開了一種相控陣天線數據驗證的方法，該種方法包括：S1、數據讀?。盒ο到y自相控陣波束控制系統中分段讀取待校準數據，并暫存為校準數據段；S2、數據比對：所述校對系統在原始數據中提取與讀取到的所述校準數據段相對應的原始數據段，將所述原始數據段與所述校準數據段進行比對，并對不一致的比對結果進行記錄；S3、重復所述S1和所述S2，直至所有的所述待校準數據分別與所述原始數據中的數據逐一比對驗證后，輸出驗證結果。

基于上述方法，校對系統對相控陣波束控制系統中的待校準數據進行分段讀取，并在原始數據中提取相對應的原始數據段與之逐一比對驗證，在比對過程中，校對系統將校準數據段與原始數據段中數據不一致的數據進行記錄，重復多次分段提取、比對、記錄，最終輸出驗證結果。通過分段比對的方式，提高了待校準數據與原始數據比對時的效率，降低了相控陣波束控制系統在數據校準上排故的難度，提高本申請相控陣天線數據驗證的方法的可靠性。

優選地，所述S1具體包括：S1-1、數據處理：所述相控陣波束控制系統將所述待校準數據處理為標準格式數據后進行存儲；S1-2、計算數據地址：自初始地址起，按照預設分段的字節長度對所述待校準數據和所述原始數據進行地址分段；S1-3、獲取所述校準數據段：所述校對系統按照以預設字節長度分段后的地址對所述相控陣波束控制系統中格式處理后的所述待校準數據進行分段讀取，獲得所述校準數據段；S1-4、數據暫存：所述校對系統對所述分段校準數據進行暫存。

優選地，所述S2具體包括：S2-1、預設原始數據：在所述校對系統中預存與所述待校準數據格式相同的所述原始數據；S2-2、獲取所述原始數據段：所述校對系統根據所述預設字節長度，提取所述原始數據中與暫存的所述校準數據段相對應的數據，獲得所述原始數據段；S2-3、數據比對：所述校對系統將提取到的所述原始數據段與暫存的所述校準數據段進行逐一比對驗證，并記錄比對不一致的結果、及結果對應的數據在所述待校準數據中的位置；S2-4、緩存清理：暫存的所述校準數據段比對完成后，所述校對系統清除該段數據。