[發(fā)明專(zhuān)利]一種鍵盤(pán)開(kāi)短路檢測(cè)裝置及方法

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010764804.4
• 申請(qǐng)日: 2020-08-03
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111796208A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-10-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周澤明;韓玉爭(zhēng);張琛星
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 歐拓飛科技（珠海）有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/52
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/52;G01R31/54
• 代理公司: 廣州市紅荔專(zhuān)利代理有限公司 44214
• 代理人: 王賢義;何承鑫

本發(fā)明提供了一種體積小、成本低、測(cè)試快速便捷、且能保證測(cè)試精度的鍵盤(pán)開(kāi)短路檢測(cè)裝置以及開(kāi)短路檢測(cè)方法。本發(fā)明裝置包括MCU（1）、按鍵接口電路（2）、ADC電壓采樣電路（3）和開(kāi)短路檢測(cè)電路（4），MCU完成硬件層的資源調(diào)用和調(diào)配，對(duì)ADC電壓采樣電路采集的電壓數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，同時(shí)與上位機(jī)進(jìn)行通信，按鍵接口電路用于接入待測(cè)鍵盤(pán)的按鍵回路，ADC電壓采樣電路用于采集待測(cè)鍵盤(pán)按鍵回路的開(kāi)短路電壓數(shù)據(jù)采集并傳輸給MCU，開(kāi)短路檢測(cè)電路提供若干路開(kāi)短路測(cè)試通道，并對(duì)每條通道上的按鍵進(jìn)行電平上拉和下拉，對(duì)鍵盤(pán)按鍵進(jìn)行開(kāi)短路檢測(cè)；其方法以下步驟：開(kāi)路檢測(cè)和短路檢測(cè)的步驟。本發(fā)明可應(yīng)用于檢測(cè)領(lǐng)域。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及檢測(cè)領(lǐng)域，尤其涉及一種鍵盤(pán)開(kāi)短路檢測(cè)裝置及方法。

背景技術(shù)

常規(guī)矩陣鍵盤(pán)在生產(chǎn)過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)按鍵短路（死鍵）、按鍵開(kāi)路、線路短路、開(kāi)路等情況。原因是常規(guī)鍵盤(pán)是由線路板、按鍵和矩陣輸出接口FPC（柔性電路板）組成，這三部分（如圖1）在生產(chǎn)過(guò)程中都會(huì)有一定概率出現(xiàn)開(kāi)短路的情況，由此引起整個(gè)鍵盤(pán)的開(kāi)短路。

現(xiàn)有檢測(cè)方式大都是通過(guò)萬(wàn)用表歐姆檔從鍵盤(pán)接口端接入測(cè)量開(kāi)短路，因?yàn)槿f(wàn)用表只有一對(duì)表筆，所以一次性只能測(cè)量一個(gè)回路，要測(cè)量整個(gè)鍵盤(pán)還需要用一個(gè)繼電器板來(lái)把鍵盤(pán)上的回路一組一組地依次切換連接到萬(wàn)用表上。萬(wàn)用表通過(guò)測(cè)量的阻值來(lái)判斷鍵盤(pán)是否存在開(kāi)短路。此種方式可以通過(guò)萬(wàn)用表測(cè)量開(kāi)短路，從而對(duì)鍵盤(pán)的品質(zhì)進(jìn)行判斷。但是，這樣結(jié)果不直觀，還需要其他條件對(duì)測(cè)量的阻值進(jìn)行分析才能判斷結(jié)果，而且用于數(shù)據(jù)采集的萬(wàn)用表價(jià)格昂貴且體積較大，在工業(yè)生產(chǎn)測(cè)試中增加了不便。

現(xiàn)有技術(shù)存在如下不足：1、用萬(wàn)用表歐姆檔檢測(cè)鍵盤(pán)開(kāi)短路，時(shí)間長(zhǎng)，體積大，成本高；2、用繼電器切換測(cè)試通道，速度慢；3、需要額外軟件對(duì)測(cè)量阻值進(jìn)行解析判斷才能得出結(jié)果，不直接。為了克服上述不足，需要設(shè)計(jì)一種成本低、測(cè)試快速便捷、且能保證測(cè)試精度的鍵盤(pán)開(kāi)短路檢測(cè)裝置。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種體積小、成本低、測(cè)試快速便捷、且能保證測(cè)試精度的鍵盤(pán)開(kāi)短路檢測(cè)裝置，以及利用該裝置對(duì)鍵盤(pán)進(jìn)行開(kāi)短路檢測(cè)的方法。

本發(fā)明所述鍵盤(pán)開(kāi)短路檢測(cè)裝置所采用的技術(shù)方案是：本發(fā)明所述裝置包括MCU、按鍵接口電路、ADC電壓采樣電路和開(kāi)短路檢測(cè)電路，

所述MCU完成硬件層的資源調(diào)用和調(diào)配，對(duì)所述ADC電壓采樣電路采集的電壓數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，同時(shí)與上位機(jī)進(jìn)行通信；

所述按鍵接口電路用于接入待測(cè)鍵盤(pán)按鍵回路；

所述ADC電壓采樣電路用于采集待測(cè)鍵盤(pán)按鍵回路的開(kāi)短路電壓數(shù)據(jù)采集并傳輸給所述MCU；

所述開(kāi)短路檢測(cè)電路提供若干路開(kāi)短路測(cè)試通道，并對(duì)每條通道上的按鍵進(jìn)行電平上拉和下拉，對(duì)鍵盤(pán)按鍵進(jìn)行開(kāi)短路檢測(cè)。

上述方案可見(jiàn)，本發(fā)明以MCU、按鍵接口電路、ADC電壓采樣電路和開(kāi)短路檢測(cè)電路建立開(kāi)短路檢測(cè)裝置，利用按鍵接口電路方便的接入待測(cè)鍵盤(pán)按鍵，通過(guò)MCU實(shí)現(xiàn)不同按鍵檢測(cè)的快速自動(dòng)切換控制，開(kāi)短路檢測(cè)電路提供若干路開(kāi)短路測(cè)試通道，并對(duì)每條通道上的按鍵進(jìn)行電平上拉和下拉，再通過(guò)ADC電壓采樣電路對(duì)采樣點(diǎn)的電平值進(jìn)行采集，通過(guò)電平值變化即可判斷待測(cè)鍵盤(pán)按鍵回路的開(kāi)短路情況，該裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，與現(xiàn)有的采用萬(wàn)用表等昂貴且體積較大的檢測(cè)設(shè)備相比，本發(fā)明裝置大大減小了體積，也降低了成本；通過(guò)MCU的快速自動(dòng)切換控制，實(shí)現(xiàn)按鍵檢測(cè)通道的快速切換，提高了檢測(cè)效率，這避免了原有的采用繼電器切換測(cè)試通道造成的低效率的現(xiàn)象；此外，通過(guò)MCU分析采樣點(diǎn)的電平變化進(jìn)而判斷待測(cè)鍵盤(pán)按鍵回路的開(kāi)短路情況，這保證了檢測(cè)精度，避免人為因素的影響而出現(xiàn)檢測(cè)結(jié)果錯(cuò)誤。

進(jìn)一步地，所述開(kāi)短路檢測(cè)電路提供32路開(kāi)短路測(cè)試通道。由此可見(jiàn)，本發(fā)明可同時(shí)對(duì)多個(gè)鍵盤(pán)按鍵進(jìn)行檢測(cè)，極大地提高了測(cè)試效率。