[發(fā)明專利]一種鍵盤開短路檢測裝置及方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010764804.4
• 申請日: 2020-08-03
• 公開（公告）號: CN111796208A
• 公開（公告）日: 2020-10-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 周澤明;韓玉爭;張琛星
• 申請（專利權(quán)）人: 歐拓飛科技（珠海）有限公司
• 主分類號: G01R31/52
• 分類號: G01R31/52;G01R31/54
• 代理公司: 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214
• 代理人: 王賢義;何承鑫

1.一種鍵盤開短路檢測裝置，其特征在于：該檢測裝置包括MCU（1）、按鍵接口電路（2）、ADC電壓采樣電路（3）和開短路檢測電路（4），

所述MCU（1）完成硬件層的資源調(diào)用和調(diào)配，對所述ADC電壓采樣電路（3）采集的電壓數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，同時與上位機進(jìn)行通信；

所述按鍵接口電路（2）用于接入待測鍵盤的按鍵回路；

所述ADC電壓采樣電路（3）用于采集待測鍵盤按鍵回路的開短路電壓數(shù)據(jù)采集并傳輸給所述MCU（1）；

所述開短路檢測電路（4）提供若干路開短路測試通道，并對每條通道上的按鍵進(jìn)行電平上拉和下拉，對鍵盤按鍵進(jìn)行開短路檢測。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種鍵盤開短路檢測裝置，其特征在于：所述開短路檢測電路（4）提供32路開短路測試通道。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種鍵盤開短路檢測裝置，其特征在于：所述開短路檢測電路（4）由第一模擬開關(guān)（U9）、第二模擬開關(guān)（U10）、第三模擬開關(guān)（U12）和第四模擬開關(guān)（U13）組成，所述第一模擬開關(guān)（U9）和所述第二模擬開關(guān)（U10）共同構(gòu)成16路測試通道，所述第三模擬開關(guān)（U12）和所述第四模擬開關(guān)（U13）共同構(gòu)成另外16路測試通道，所述按鍵接口電路（2）依次連接在所述第一模擬開關(guān)（U9）和所述第二模擬開關(guān)（U10）以及所述第三模擬開關(guān)（U12）和所述第四模擬開關(guān)（U13）構(gòu)成的通道處。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種鍵盤開短路檢測裝置，其特征在于：所述ADC電壓采樣電路（3）內(nèi)置于所述MCU（1）中，所述ADC電壓采樣電路（3）包括ADC模塊及緩沖電路，所述緩沖電路由差分放大器組成。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種鍵盤開短路檢測裝置，其特征在于：所述MCU（1）選自型號為STM32F407VET6。

6.一種利用如權(quán)利要求3所述的鍵盤開短路檢測裝置對鍵盤開短路進(jìn)行檢測的方法，其特征在于，該方法包括開路檢測和短路檢測的步驟：

a.開路檢測步驟：

將待測鍵盤按鍵接入到所述按鍵接口電路（2）中，設(shè)定在不按下按鍵時，所述ADC電壓采樣電路（3）的采樣點為高電平，當(dāng)按鍵按下后，所述ADC電壓采樣電路（3）的采樣點變?yōu)榈碗娖剑藭r，依次使能待測鍵盤的每一個按鍵，同時所述MCU（1）實時采集所述ADC電壓采樣電路（3）的采集點的電平變化，再通過分析采集點的電平是否按照設(shè)定的方式變化，進(jìn)而判斷鍵盤按鍵回路是否存在開路；

b.短路檢測步驟：

將待測鍵盤按鍵接入到所述按鍵接口電路（2）中，設(shè)定在鍵盤不短路狀態(tài)時所述ADC電壓采樣電路（3）的采樣點為高電平，當(dāng)產(chǎn)生短路后，所述ADC電壓采樣電路（3）的采樣點變?yōu)榈碗娖剑来吻袚Q待測鍵盤的每一個按鍵，同時所述MCU（1）實時采集所述ADC電壓采樣電路（3）的采集點的電平變化，再通過分析采集點的電平是否按照設(shè)定的方式變化，進(jìn)而判斷鍵盤按鍵回路是否存在短路。