[發(fā)明專利]薄膜晶體管的制備方法、顯示面板及顯示裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010762035.4 | 申請(qǐng)日: | 2020-07-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111668102B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-04-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 倪柳松;丁遠(yuǎn)奎;王明;趙策;宋威;胡迎賓;徐純潔 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 合肥鑫晟光電科技有限公司;京東方科技集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/336 | 分類號(hào): | H01L21/336;H01L29/786;H10K59/12 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 戴冬瑾 |
| 地址: | 230012 *** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 薄膜晶體管 制備 方法 顯示 面板 顯示裝置 | ||
1.一種薄膜晶體管的制備方法,其特征在于,包括:
在基板上形成遮光層;
將具有所述遮光層的所述基板置于腔室內(nèi),并向所述腔室內(nèi)通入前處理氣體,并對(duì)所述基板進(jìn)行前處理;所述前處理氣體中NH3氣體的體積比小于千分之一;
向所述腔室內(nèi)通入第一緩沖層氣體,以去除殘留的所述前處理氣體;所述第一緩沖層氣體Si含量小于萬(wàn)分之一;
向所述腔室內(nèi)通入所述第一緩沖層氣體和第二緩沖層氣體,以在所述遮光層遠(yuǎn)離所述基板的一側(cè)形成緩沖層;所述第二緩沖層氣體中含有Si;
在所述緩沖層遠(yuǎn)離所述基板的一側(cè)形成有源層,所述有源層是由金屬氧化物半導(dǎo)體材料形成的。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一緩沖層氣體為N2O,所述第二緩沖層氣體中含有SiH4,所述第一緩沖層氣體以及所述第二緩沖層氣體的體積比范圍為(90:1)~(40:1)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,去除殘留的所述前處理氣體時(shí)所述第一緩沖層氣體的流量,和形成所述緩沖層時(shí)所述第一緩沖層氣體的流量一致。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述去除殘留的所述前處理氣體時(shí),向所述腔室內(nèi)通入所述第一緩沖層氣體的時(shí)間為3-8s。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述前處理包括:形成N2等離子體,并利用所述N2等離子體對(duì)所述基板進(jìn)行所述前處理,
所述前處理氣體為N2。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述前處理包括:
向所述腔室內(nèi)通入所述N2的流量為30000-60000毫托;
隨后打開(kāi)等離子體電源,以形成所述N2等離子體,利用所述N2等離子體對(duì)所述基板進(jìn)行所述前處理的時(shí)間為15-25s。
7.一種顯示面板,其特征在于,包括:
基板,以及位于所述基板上的薄膜晶體管和有機(jī)發(fā)光二極管,所述有機(jī)發(fā)光二極管的陽(yáng)極與所述薄膜晶體管的源漏極相連,
所述薄膜晶體管是利用權(quán)利要求1-6任一項(xiàng)所述的方法制備的。
8.一種顯示裝置,其特征在于,包括權(quán)利要求7所述的顯示面板。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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