[發(fā)明專利]一種Micro LED屏幕的顯微成像方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010761188.7 | 申請日: | 2020-07-31 |
| 公開(公告)號: | CN111735768B | 公開(公告)日: | 2020-12-08 |
| 發(fā)明(設計)人: | 劉立宏;張沖;鄭增強 | 申請(專利權)人: | 武漢精立電子技術有限公司;武漢精測電子集團股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G01N21/84;G09F9/33 |
| 代理公司: | 武漢智權專利代理事務所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人: | 張凱 |
| 地址: | 430205 湖北省武*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 micro led 屏幕 顯微 成像 方法 裝置 | ||
一種Micro LED屏幕的顯微成像方法及裝置,涉及Micro LED檢測領域,方法包括:將檢測屏劃分為多個單區(qū)間,顯微成像裝置依次位于每個單區(qū)間上方;根據(jù)抽樣屏的面型數(shù)據(jù)獲取當前檢測屏的Z軸定位集合,所述面型數(shù)據(jù)為屏幕整體高度分布;顯微成像裝置根據(jù)所述Z軸定位集合,對每個單區(qū)間進行自動對焦并成像,直至獲取整個檢測屏的圖像;能夠實現(xiàn)自動對焦,保證在Mciro LED AOI檢測和Demura應用中獲取高質量的成像,減少Tact Time時間及成本。
技術領域
本發(fā)明涉及Micro LED檢測領域,具體來講涉及一種Micro LED屏幕的顯微成像方法及裝置。
背景技術
Micro LED(Micro Light Emitting Diode,微型發(fā)光二極管)顯示技術是業(yè)界期待的下一代顯示技術,具有高解析度、低功耗、高亮度、高對比、高色彩飽和度、反應速度快、厚度薄、以及壽命長等特性,功率消耗量可低至LCD(Liquid Crystal Display,液晶顯示器)的10%、OLED(Organic Light-Emitting Diode,有機發(fā)光二極管)的50%。相比于LED及Mini LED等小間距LED,Micro LED是將傳統(tǒng)的無機LED陣列進一步微小化,每個尺寸在10微米尺寸的LED像素點均可以被獨立的定址、點亮,從而實現(xiàn)對每個芯片放光亮度的精確控制,進而實現(xiàn)圖像顯示。
各大面板廠商及研發(fā)機構投入了大量資源研發(fā)新一代顯示技術及產品,MicroLED批量引用面臨的一些瓶頸技術,特別是巨量轉移工藝及發(fā)光波長一致性取得了一些突破。為了保證顯示面板的生產品質和質量,需要進行一系列的點、線,Mura,臟污缺陷檢測及判定,以及針對發(fā)光亮度不一致進行自動光學補償。自動光學檢測設備(AutomatedOptical Inspection,AOI)及Mura光學補償就是響應客戶上述需求的關鍵光機電集成設備,為了應對不同分辨率(2K、4K、8K)等Micro LED屏幕缺陷檢測,需要通過多種高精度相機和顯微鏡頭配合使用進行AOI檢測和Demura。普通工業(yè)相機鏡頭分辨率一般在3um左右,而Micro LED像素檢測特征尺度通常在1um左右,需要應用更高光學解析度的顯微成像系統(tǒng),這對設備系統(tǒng)結構及對焦技術提出了更高的挑戰(zhàn)。
發(fā)明內容
針對現(xiàn)有技術中存在的缺陷,本發(fā)明的目的在于提供一種Micro LED屏幕的檢測方法及檢測裝置,能夠實現(xiàn)自動對焦,保證在Mciro LED AOI檢測和Demura應用中獲取高質量的成像,減少Tact Time時間及成本。
為達到以上目的,一方面,采取一種Micro LED屏幕的顯微成像方法,包括:
將檢測屏劃分為多個單區(qū)間,顯微成像裝置依次位于每個單區(qū)間上方;
根據(jù)抽樣屏的面型數(shù)據(jù)獲取當前檢測屏的Z軸定位集合,所述面型數(shù)據(jù)為屏幕整體高度分布;
顯微成像裝置根據(jù)所述Z軸定位集合,對每個單區(qū)間進行自動對焦并成像,直至獲取整個檢測屏的圖像。
優(yōu)選的,根據(jù)抽樣屏的面型數(shù)據(jù)獲取當前檢測屏的Z軸定位集合包括:
采集多個抽樣屏的面型數(shù)據(jù),若平面度一致性高于設定值,則根據(jù)任意一個抽樣屏的面型數(shù)據(jù)計算Z軸定位集合。
優(yōu)選的,根據(jù)抽樣屏的面型數(shù)據(jù)獲取當前檢測屏的Z軸定位集合包括:
采集多個抽樣屏的面型數(shù)據(jù),若平面度一致性等于或低于設定值時,則根據(jù)所述多個抽樣屏的面型數(shù)據(jù)得到經驗面型曲線,根據(jù)所述經驗面型曲線選取多個基準點;
獲取所述當前檢測屏的所述多個基準點的Z軸高度值;
根據(jù)所述基準點的Z軸高度值對所述經驗面型曲線進行修正,獲得當前檢測屏的Z軸定位集合。
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