[發明專利]一種雷達罩密封檢驗裝置及檢驗方法

在審

• 申請號: 202010750801.5
• 申請日: 2020-07-30
• 公開（公告）號: CN111766027A
• 公開（公告）日: 2020-10-13
• 發明（設計）人: 郭艷麗;唐培毅;徐亮;李南;張春波
• 申請（專利權）人: 航天特種材料及工藝技術研究所
• 主分類號: G01M3/26
• 分類號: G01M3/26
• 代理公司: 北京格允知識產權代理有限公司 11609
• 代理人: 李亞東

1.一種雷達罩密封檢驗裝置，其特征在于：包括基座和活塞式壓力調節器；

所述基座設有多個第一固定孔，多個所述第一固定孔與待側雷達罩的第一安裝孔相對應，通過第一螺釘與所述第一安裝孔和所述第一固定孔配合，能夠將所述待測雷達罩固定在所述基座，使所述待測雷達罩與所述基座之間形成封閉腔，所述基座上還設有至少一個排氣孔、至少一個進/抽氣孔，所述排氣孔的一端與所述封閉腔連通，另一端通過排氣管與外部空氣連通，所述排氣管上設有排氣控制閥，所述進/抽氣孔的一端與所述封閉腔連通，另一端通過進/抽氣管與所述活塞式壓力調節器連通，所述進/抽氣管上設有進/抽氣控制閥，在所述進/抽氣控制閥與所述封閉腔之間的所述進/抽氣管上設有壓力表；

所述活塞式壓力調節器能夠向所述封閉腔內注入氣體或者將所述封閉腔內的氣體抽出。

2.根據權利要求1所述的雷達罩密封檢驗裝置，其特征在于：還包括一防護罩，所述防護罩具有多個第二安裝孔；

所述基座上設有與多個所述第二安裝孔相對應的第二固定孔，通過第二螺釘與所述第二安裝孔和所述第二固定孔配合，能夠將所述防護罩間隔套設在所述待測雷達罩的外側。

3.根據權利要求2所述的雷達罩密封檢驗裝置，其特征在于：所述第一固定孔和所述第二固定孔交錯排布。

4.根據權利要求1所述的雷達罩密封檢驗裝置，其特征在于：所述進/抽氣控制閥和所述排氣控制閥的耐壓范圍與檢測壓力之比均為2～4。

5.根據權利要求1所述的雷達罩密封檢驗裝置，其特征在于：檢測壓力與所述壓力表的量程之比為是0.6～0.9。

6.根據權利要求1所述的雷達罩密封檢驗裝置，其特征在于：所述進/抽氣孔的直徑與所述排氣孔的直徑之比為0.9～1.1。

7.根據權利要求1所述的雷達罩密封檢驗裝置，其特征在于：所述待測雷達罩的安裝部與所述基座之間通過石墨密封條密封。

8.根據權利要求7所述的雷達罩密封檢驗裝置，其特征在于：所述石墨密封條的徑向寬度與所述待測雷達罩的安裝部的徑向寬度之比為0.5～0.7。

9.根據權利要求1所述的雷達罩密封檢驗裝置，其特征在于：所述基座上還設有把手。

10.一種雷達罩密封檢驗方法，其特征在于：利用如權利要求1-9任一項所述的雷達罩密封檢驗裝置進行密封檢驗；

將待檢測雷達罩安裝在基座；

正壓密封檢驗：

打開進/抽氣控制閥，關閉排氣控制閥，利用活塞式壓力調節器向封閉腔內充氣加壓至預設的檢測壓力；

關閉所述進/抽氣控制閥，在間隔預設時間后觀察壓力表的氣壓值，若此時所述氣壓值相對預設的檢測壓力的變化超過預設值，則所述待檢測雷達的密封檢驗不合格；若此時所述氣壓值相對預設的檢測壓力的變化小于預設值，則所述待檢測雷達的密封檢驗合格；

負壓密封檢驗：

打開進/抽氣控制閥，關閉排氣控制閥，利用活塞式壓力調節器抽取所述封閉腔內氣體，使所述封閉腔的氣壓達到預設的檢測壓力；

關閉所述進/抽氣控制閥，在間隔預設時間后觀察壓力表的氣壓值，若此時所述氣壓值相對預設的檢測壓力的變化超過預設值，則所述待檢測雷達的密封檢驗不合格；若此時所述氣壓值相對預設的檢測壓力的變化小于預設值，則所述待檢測雷達的密封檢驗合格。