[發明專利]固態硬盤的磨損度數據模擬方法、系統及相關設備

有效

• 申請號: 202010746787.1
• 申請日: 2020-07-29
• 公開（公告）號: CN112002368B
• 公開（公告）日: 2022-06-17
• 發明（設計）人: 梁鑫輝;王團結;曹琪
• 申請（專利權）人: 北京浪潮數據技術有限公司
• 主分類號: G11C29/10
• 分類號: G11C29/10;G11C29/44
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 郄晨芳

本申請公開了一種固態硬盤的磨損度數據模擬方法，所述磨損度數據模擬方法包括對固態硬盤中的原始主機寫入量數據執行數據延長操作，得到每一數據寫入周期待寫入所述固態硬盤中的候選數據；確定所述固態硬盤的周期寫放大信息；根據所述候選數據和所述周期寫放大信息計算所述固態硬盤在所有數據寫入周期的實際寫入數據總量；根據所述實際寫入數據總量確定所述固態硬盤的磨損度。本申請能夠模擬固態硬盤磨損度變化數據，以便預測固態硬盤壽命。本申請還公開了一種固態硬盤的磨損度數據模擬系統、一種電子設備及一種存儲介質，具有以上有益效果。

技術領域

本申請涉及計算機技術領域，特別涉及一種固態硬盤的磨損度數據模擬方法、系統、一種電子設備及一種存儲介質。

背景技術

固態硬盤(SSD，Solid State Disk)是一種主要以閃存(NAND Flash)作為永久性存儲器的電腦存儲設備。基于閃存的固態硬盤(SSD)自問世以來就因其高性能而得到廣泛追捧，固態硬盤的使用壽命成為存儲業界普遍關注的問題。

磨損度是表征固態硬盤中NAND磨損情況的一個重要指標。根據廠商規定，磨損度達到100％則代表固態硬盤壽命達到廠商承諾的上限，即使此時固態硬盤并沒有發生損壞，其可靠性也得不到保障。在實際的固態硬盤壽命預測研究及開發測試過程中，真實的固態硬盤磨損度數據很難收集，無法獲取固態硬盤在各個時間點的磨損度。

因此，如何模擬固態硬盤磨損度變化數據是本領域技術人員目前需要解決的技術問題。

發明內容

本申請的目的是提供一種固態硬盤的磨損度數據模擬方法、系統、一種電子設備及一種存儲介質，能夠模擬固態硬盤磨損度變化數據。

為解決上述技術問題，本申請提供一種固態硬盤的磨損度數據模擬方法，該磨損度確定方法包括：

對固態硬盤中的原始主機寫入量數據執行數據延長操作，得到每一數據寫入周期待寫入所述固態硬盤中的候選數據；

確定所述固態硬盤的周期寫放大信息；其中，所述周期寫放大信息包括所述固態硬盤在每一數據寫入周期的寫放大系數；

根據所述候選數據和所述周期寫放大信息計算所述固態硬盤在所有數據寫入周期的實際寫入數據總量；

根據所述實際寫入數據總量確定所述固態硬盤的磨損度。

可選的，所述對固態硬盤中的原始主機寫入量數據執行數據延長操作，得到每一數據寫入周期待寫入所述固態硬盤中的候選數據，包括：

根據所述固態硬盤中所述原始主機寫入量數據的寫入時間確定所述固態硬盤的周期數據增長信息；其中，所述周期數據增長信息包括所述固態硬盤在每一數據寫入周期的數據增長量；

從所述原始主機寫入量數據對應的數據寫入周期中選取任意數量個數據寫入周期作為目標周期；

根據所述周期數據增長信息將每一所述目標周期對應的數據增長量作為下一數據寫入周期要寫入所述固態硬盤中的候選數據；

判斷已得到的候選數據的數量是否大于預設值；

若是，則判定所有周期要寫入所述固態硬盤中的候選數據生成完畢；

若否，則執行從所述原始主機寫入量數據對應的數據寫入周期中選取任意數量個數據寫入周期作為目標周期的操作。

可選的，確定所述固態硬盤的周期寫放大信息，包括：

利用壞塊概率公式確定所述固態硬盤在每一數據寫入周期的壞塊數量；其中，所述壞塊概率公式為y＝(x-b)²，x為數據寫入周期的周期數，y為第x周期出現壞塊的概率，b為大于0的預設參數；

根據壞塊數量與寫放大系數的對應關系確定所述固態硬盤的周期寫放大信息。