[發(fā)明專利]一種膜層厚度檢測方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010745550.1
• 申請日: 2020-07-29
• 公開（公告）號: CN111766127A
• 公開（公告）日: 2020-10-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃紅武;毛喆;李繼良;李正望
• 申請（專利權(quán)）人: 鄭州飛機裝備有限責(zé)任公司
• 主分類號: G01N1/32
• 分類號: G01N1/32;G01B11/06
• 代理公司: 中國航空專利中心 11008
• 代理人: 杜永保

本發(fā)明涉及金屬零件經(jīng)表面處理氧化(鍍)后檢測膜(鍍)層厚度的試樣制備，具體為一種膜層厚度檢測方法。用塑料膜將需要研磨、拋光的試樣橫斷面纏繞包裹，將包裹的試樣裝入夾持裝置，調(diào)整試樣位置至試樣待拋光表面與夾持裝置底面在同一平面，固定并緊固夾持裝置后，再進行研磨、拋光至試樣橫斷面為鏡面，顯微鏡下觀察、測量膜層厚度。本發(fā)明為防止試樣制備不當導(dǎo)致檢測結(jié)果錯誤而提出的快速、高效制備技術(shù)。按照該方法制備的試樣，有效地避免了試樣制作過程造成的膜(鍍)層損傷，可以準確檢測厚度。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及金屬零件經(jīng)表面處理氧化(鍍)后檢測膜(鍍)層厚度的試樣制備，具體為一種膜層厚度檢測方法。

背景技術(shù)

測量膜(鍍)層厚度試樣的處理，必須保證顯微鏡下觀察到的膜(鍍)層真實、連續(xù)、完整，因此試樣的制作是準確測量膜(鍍)層厚度的關(guān)鍵。按GB/T6462膜(鍍)層檢測的試樣在制作前通常進行以下兩種預(yù)處理：①冷、熱鑲嵌，②附加鍍層—在膜(鍍)層外覆鍍一層更容易分辨的保護鍍層(例如金鍍層)后再冷(熱)鑲嵌。鑲嵌的目的是增加試樣打磨面與打磨拋光裝置的接觸面，最大限度保證試樣拋光面為同一水平面，同時保護檢測的膜(鍍)層不損傷。但是鑲嵌材料為高分子材料，其硬度和耐磨性都較金屬零件低，經(jīng)鑲嵌試樣在打磨、拋光過程中容易導(dǎo)致與金相試樣結(jié)合部位的鑲嵌物質(zhì)較試樣先磨損，同時膜(鍍)層也嚴重損傷至無膜(鍍)層，其表現(xiàn)為試樣突出于鑲嵌物之上(觸摸有凸臺感)，導(dǎo)致觀察檢測膜(鍍)層為零的錯誤結(jié)論。

發(fā)明內(nèi)容

針對現(xiàn)有金屬膜(鍍)層試樣在打磨拋光過程中，容易造成試樣覆蓋的膜(鍍)層橫斷面與邊緣不完全平整或邊緣倒角，難以準確觀察檢測到完整的膜(鍍)層厚度，本發(fā)明提供了一種操作簡單、快速、高效的試樣制備方法。按照該方法制備的試樣，有效地避免了試樣制作過程造成的膜(鍍)層損傷，可以準確檢測厚度。

技術(shù)方案

為了解決上述試樣制備中容易發(fā)生的錯誤情況，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：

一種膜層厚度檢測方法，用塑料膜將需要研磨、拋光的試樣橫斷面纏繞包裹，將包裹的試樣裝入夾持裝置，調(diào)整試樣位置至試樣待拋光表面與夾持裝置底面在同一平面，固定并緊固夾持裝置后，再進行研磨、拋光至試樣橫斷面為鏡面，顯微鏡下觀察、測量膜層厚度。

當橫斷面的膜層與基體無法辨識，選用GB/T6462中的浸蝕劑對橫斷面浸蝕。

還包括浸蝕后在兩種金屬的截面上產(chǎn)生細而清晰的界線時，再于顯微鏡下觀察、測量膜層厚度。

所述浸蝕劑為硝酸酒精溶液。

所述試樣為隨零件同槽處理的長條狀。

所述塑料膜為電工絕緣膠帶。

所述夾持裝置材料為金屬。

所述研磨、拋光過程按照金相試樣的制樣程序進行。

具體細節(jié)：

(1)試樣的研磨，手工細磨時，不管砂紙粗細，試樣磨過之后，砂紙上留下的整個痕跡顏色深淺要一致，寬度和試樣磨面大小相同，不要有弧痕的痕跡出現(xiàn)，保證整個磨面的平整，減少試樣倒棱現(xiàn)象；

(2)試樣的拋光時間為3-5min；

(3)侵蝕時間的選擇，試樣侵蝕的時間長短和材料、處理狀態(tài)、侵蝕劑的新舊程度有關(guān)。

試樣橫斷面纏繞包裹將要粘貼的物件固定好，一邊粘一邊轉(zhuǎn)動膠帶軸，小距離的慢慢打開膠帶，確保膠帶打開處平直不可傾斜，直到轉(zhuǎn)動粘貼到所需要長度位置后剪斷膠帶。

技術(shù)效果

本發(fā)明涉及金屬零件經(jīng)表面處理氧化(鍍)后檢測膜(鍍)層厚度的試樣制備，為防止試樣制備不當導(dǎo)致檢測結(jié)果錯誤而提出的快速、高效制備技術(shù)。