[發明專利]一種膜層厚度檢測方法

在審

• 申請號: 202010745550.1
• 申請日: 2020-07-29
• 公開（公告）號: CN111766127A
• 公開（公告）日: 2020-10-13
• 發明（設計）人: 黃紅武;毛喆;李繼良;李正望
• 申請（專利權）人: 鄭州飛機裝備有限責任公司
• 主分類號: G01N1/32
• 分類號: G01N1/32;G01B11/06
• 代理公司: 中國航空專利中心 11008
• 代理人: 杜永保

1.一種膜層厚度檢測方法，其特征在于：用塑料膜將需要研磨、拋光的試樣橫斷面纏繞包裹，將包裹的試樣裝入夾持裝置，調整試樣位置至試樣待拋光表面與夾持裝置底面在同一平面，固定并緊固夾持裝置后，再進行研磨、拋光至試樣橫斷面為鏡面，顯微鏡下觀察、測量膜層厚度。

2.根據權利要求1所述的一種膜層厚度檢測方法，其特征在于：當橫斷面的膜層與基體無法辨識，用浸蝕劑對橫斷面浸蝕。

3.根據權利要求2所述的一種膜層厚度檢測方法，其特征在于：浸蝕后在兩種金屬的截面上產生細而清晰的界線時，再于顯微鏡下觀察、測量膜層厚度。

4.根據權利要求1所述的一種膜層厚度檢測方法，其特征在于：所述浸蝕劑為硝酸酒精溶液。

5.根據權利要求1所述的一種膜層厚度檢測方法，其特征在于：所述試樣為隨零件同槽處理的長條狀。

6.根據權利要求1所述的一種膜層厚度檢測方法，其特征在于：所述塑料膜為電工絕緣膠帶。

7.根據權利要求1所述的一種膜層厚度檢測方法，其特征在于：所述夾持裝置材料為金屬。

8.根據權利要求1所述的一種膜層厚度檢測方法，其特征在于：所述研磨、拋光過程按照金相試樣的制樣程序進行，具體細節：

(1)試樣的研磨，手工細磨時，不管砂紙粗細，試樣磨過之后，砂紙上留下的整個痕跡顏色深淺要一致，寬度和試樣磨面大小相同，不要有弧痕的痕跡出現，保證整個磨面的平整，減少試樣倒棱現象；

(2)試樣的拋光時間為3-5min；

(3)侵蝕時間的選擇，試樣侵蝕的時間長短和材料、處理狀態、侵蝕劑的新舊程度有關。

9.根據權利要求1所述的一種膜層厚度檢測方法，其特征在于：試樣橫斷面纏繞包裹將要粘貼的物件固定好，一邊粘一邊轉動膠帶軸，小距離的慢慢打開膠帶，確保膠帶打開處平直不可傾斜，直到轉動粘貼到所需要長度位置后剪斷膠帶。