[發(fā)明專利]存儲設(shè)備的性能預(yù)測方法、裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010745351.0 | 申請日: | 2020-07-29 |
| 公開(公告)號: | CN111881010A | 公開(公告)日: | 2020-11-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐洪志;王少磊;丁廣杰;趙偉 | 申請(專利權(quán))人: | 北京浪潮數(shù)據(jù)技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/34 | 分類號: | G06F11/34;G06F16/21;G06F16/22 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 劉新雷 |
| 地址: | 100085 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 存儲 設(shè)備 性能 預(yù)測 方法 裝置 計(jì)算機(jī) 可讀 介質(zhì) | ||
1.一種存儲設(shè)備的性能預(yù)測方法,其特征在于,包括:
調(diào)用性能測試工具在預(yù)先搭建的測試環(huán)境中對存儲配置信息下的待測試存儲設(shè)備進(jìn)行性能測試,并獲取相應(yīng)的性能測試數(shù)據(jù);
對所述性能測試數(shù)據(jù)進(jìn)行插值處理,生成性能測試數(shù)據(jù)擴(kuò)增集;
分別對所述性能測試數(shù)據(jù)擴(kuò)增集進(jìn)行多項(xiàng)式擬合和非線性擬合,得到多項(xiàng)式擬合曲線數(shù)據(jù)集和非線性擬合曲線數(shù)據(jù)集;
從所述多項(xiàng)式擬合曲線數(shù)據(jù)集和所述非線性擬合曲線數(shù)據(jù)集中選擇滿足擬合條件的目標(biāo)擬合曲線,以作為所述待測試存儲設(shè)備在所述存儲配置信息下的性能預(yù)測結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲設(shè)備的性能預(yù)測方法,其特征在于,所述獲取待測試存儲設(shè)備在存儲配置信息下的性能測試數(shù)據(jù)之后,還包括:
預(yù)先構(gòu)建數(shù)據(jù)庫,所述數(shù)據(jù)庫包括性能數(shù)據(jù)存儲表和擬合數(shù)據(jù)存儲表;
將所述存儲配置信息和所述性能測試數(shù)據(jù)存儲于所述性能數(shù)據(jù)存儲表中;
將所述目標(biāo)擬合曲線和所述存儲配置信息存儲于所述擬合數(shù)據(jù)存儲表中。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲設(shè)備的性能預(yù)測方法,其特征在于,所述對所述性能測試數(shù)據(jù)進(jìn)行插值處理,生成性能測試數(shù)據(jù)擴(kuò)增集之后,還包括:
基于Z-score標(biāo)準(zhǔn)化方法對所述性能測試數(shù)據(jù)擴(kuò)增集中的各性能測試數(shù)據(jù)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理,得到標(biāo)準(zhǔn)化性能測試數(shù)據(jù)擴(kuò)增集;相應(yīng)的,所述分別對所述性能測試數(shù)據(jù)擴(kuò)增集進(jìn)行多項(xiàng)式擬合和非線性擬合為:
分別對所述標(biāo)準(zhǔn)化性能測試數(shù)據(jù)擴(kuò)增集進(jìn)行多項(xiàng)式擬合和非線性擬合。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任意一項(xiàng)所述的存儲設(shè)備的性能預(yù)測方法,其特征在于,所述從所述多項(xiàng)式擬合曲線數(shù)據(jù)集和所述非線性擬合曲線數(shù)據(jù)集中選擇滿足擬合條件的目標(biāo)擬合曲線包括:
循環(huán)遍歷所述多項(xiàng)式擬合曲線數(shù)據(jù)集和所述非線性擬合曲線數(shù)據(jù)集中的每個(gè)擬合函數(shù),得到各擬合函數(shù)的殘差;
將殘差最小的擬合函數(shù)對應(yīng)的擬合曲線作為所述目標(biāo)擬合曲線。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的存儲設(shè)備的性能預(yù)測方法,其特征在于,所述分別對所述性能測試數(shù)據(jù)擴(kuò)增集進(jìn)行多項(xiàng)式擬合和非線性擬合,得到多項(xiàng)式擬合曲線數(shù)據(jù)集和非線性擬合曲線數(shù)據(jù)集包括:
采用ployfit函數(shù)對所述性能測試數(shù)據(jù)擴(kuò)增集進(jìn)行最高5階函數(shù)擬合、最低2階函數(shù)擬合,得到所述多項(xiàng)式擬合曲線數(shù)據(jù)集;
采用lsqcurvefit函數(shù)對所述性能測試數(shù)據(jù)擴(kuò)增集基于S形曲線和指數(shù)曲線進(jìn)行非線性擬合,得到所述非線性擬合曲線數(shù)據(jù)集。
6.一種存儲設(shè)備的性能預(yù)測裝置,其特征在于,包括:
性能測試及采樣模塊,用于調(diào)用性能測試工具在預(yù)先搭建的測試環(huán)境中對存儲配置信息下的待測試存儲設(shè)備進(jìn)行性能測試,并獲取相應(yīng)的性能測試數(shù)據(jù);
數(shù)據(jù)擴(kuò)增模塊,用于對所述性能測試數(shù)據(jù)進(jìn)行插值處理,生成性能測試數(shù)據(jù)擴(kuò)增集;
數(shù)據(jù)擬合模塊,用于分別對所述性能測試數(shù)據(jù)擴(kuò)增集進(jìn)行多項(xiàng)式擬合和非線性擬合,得到多項(xiàng)式擬合曲線數(shù)據(jù)集和非線性擬合曲線數(shù)據(jù)集;
預(yù)測結(jié)果確定模塊,用于從所述多項(xiàng)式擬合曲線數(shù)據(jù)集和所述非線性擬合曲線數(shù)據(jù)集中選擇滿足擬合條件的目標(biāo)擬合曲線,以作為所述待測試存儲設(shè)備在所述存儲配置信息下的性能預(yù)測結(jié)果。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的存儲設(shè)備的性能預(yù)測裝置,其特征在于,還包括:
數(shù)據(jù)庫構(gòu)建模塊,用于預(yù)先構(gòu)建數(shù)據(jù)庫,所述數(shù)據(jù)庫包括性能數(shù)據(jù)存儲表和擬合數(shù)據(jù)存儲表;
測試數(shù)據(jù)存儲模塊,用于將所述存儲配置信息和所述性能測試數(shù)據(jù)存儲于所述性能數(shù)據(jù)存儲表中;
擬合數(shù)據(jù)存儲模塊,用于將所述目標(biāo)擬合曲線和所述存儲配置信息存儲于所述擬合數(shù)據(jù)存儲表中。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的存儲設(shè)備的性能預(yù)測裝置,其特征在于,還包括標(biāo)準(zhǔn)化處理模塊,所述標(biāo)準(zhǔn)化處理模塊用于基于Z-score標(biāo)準(zhǔn)化方法對所述性能測試數(shù)據(jù)擴(kuò)增集中的各性能測試數(shù)據(jù)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理,得到標(biāo)準(zhǔn)化性能測試數(shù)據(jù)擴(kuò)增集。
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