[發明專利]一種用于X射線熒光光譜法分析石英砂巖化學成分的制樣方法

有效

• 申請號: 202010745171.2
• 申請日: 2020-07-29
• 公開（公告）號: CN111855719B
• 公開（公告）日: 2023-03-24
• 發明（設計）人: 李欣;楊紅巖;吳宏;韓艷麗;王長軍
• 申請（專利權）人: 河北南玻玻璃有限公司;中國南玻集團股份有限公司
• 主分類號: G01N23/2202
• 分類號: G01N23/2202;G01N23/223;H05F3/00;H05F3/02;H05F1/00;A61N1/14
• 代理公司: 北京志霖恒遠知識產權代理有限公司 11435
• 代理人: 姚朝權

1.一種用于X射線熒光光譜法分析石英砂巖化學成分的制樣方法，其特征是，包括以下步驟；

(1)制備砂巖粉末與設備放置

①將石英砂巖進行烘干，利用振動磨進行粗磨；②將粗磨的石英砂巖通過行星式球磨機進行細磨，粗磨過的所述石英砂巖經過細磨后形成砂巖粉末；所述砂巖粉末的細度為200目；③將塑料環放置在制樣用的托盤上端面；所述塑料環呈圓形環狀，其內徑為34mm，其側壁厚度為3mm，其高度為5mm；

(2)排除粉末靜電

將除靜電器接觸步驟(1)中所述砂巖粉末，以消除所述砂巖粉末靜電；

(3)排除設備、人體靜電

①使用濕抹布對壓樣機的壓頭進行擦拭；②人體雙手觸摸單獨地線；③使用加濕裝置局部增加空氣濕度；

(4)將所述托盤接觸所述單獨地線，將步驟(2)中已被消除靜電的所述砂巖粉末用不銹鋼勺逐次均勻攤布在所述塑料環內部，攤鋪在所述塑料環內部的所述砂巖粉末的質量為3.8g；

(5)常規塑料環粉末直接壓片制樣

使用所述壓樣機對步驟(4)中的位于所述塑料環內的所述砂巖粉末直接進行壓片；在壓片過程中，對所述塑料環不使用鑲邊與襯底；在壓樣過程中，所述壓樣機的壓樣壓力小于3000KN。

2.根據權利要求1所述的一種用于X射線熒光光譜法分析石英砂巖化學成分的制樣方法，其特征是：所述單獨地線的電阻不大于2Ω。

3.根據權利要求1所述的一種用于X射線熒光光譜法分析石英砂巖化學成分的制樣方法，其特征是：所述行星式球磨機包括研磨罐、研磨球，所述研磨罐與所述研磨球的材質均為瑪瑙。

4.根據權利要求1所述的一種用于X射線熒光光譜法分析石英砂巖化學成分的制樣方法，其特征是：所述加濕裝置為空氣加濕器。