[發明專利]掉電時校驗數據的方法、裝置、存儲介質及電子設備

在審

• 申請號: 202010742942.2
• 申請日: 2020-07-29
• 公開（公告）號: CN111897685A
• 公開（公告）日: 2020-11-06
• 發明（設計）人: 孫成思;孫日欣;李振華;李家敏
• 申請（專利權）人: 深圳佰維存儲科技股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 深圳市博銳專利事務所 44275
• 代理人: 鄭昱

本發明公開一種掉電時校驗數據的方法、裝置、存儲介質及電子設備，通過構建包含預設參數的寫命令，并根據構建的寫命令對待測試的硬盤盤片進行數據寫入，并對寫入成功的寫命令對應的預設參數進行存儲，預設參數包括起始邏輯區塊地址、數據寫入地址范圍以及數據模型，在數據寫入過程中，對待測試的硬盤盤片進行掉電并重新上電，重新上電后，根據存儲的寫命令對應的預設參數從待測試的硬盤盤片中讀取數據并進行數據校驗，根據驗證結果能夠統計出在掉電那一刻，哪些數據是寫入成功，哪些數據是寫入失敗的，從而能夠準確地驗證硬盤盤片在意外掉電情況下的數據完整性，同時根據驗證結果也能夠驗證硬盤盤片對數據重構的可靠性。

技術領域

本發明涉及硬盤測試領域，尤其涉及一種掉電時校驗數據的方法、裝置、存儲介質及電子設備。

背景技術

在SSD(Solid State Disk，固態硬盤)盤片測試過程中，會做針對性的可靠性測試，其中，異常電源丟失驗證盤片的可靠性是其中之一。大多數硬盤的一致性驗證僅僅對盤片處于正常狀態、電源穩定的情況下先寫后讀的方式驗證數據的完整性。但是，固態硬盤在實際使用過程中，難免會遇到正在讀寫IO的過程中，盤片電源突然發生閃斷或完全掉電的情況，此時就需要SSD在這種極端情況下對盤上數據做到保護。由于SSD固件架構和Cache特性，此時一部分數據已寫入后端的Nand Flash，另一部分數據在Cache中或正在處理過程中，未寫入Nand Flash。那么對于SSD宣稱不支持掉電保護的，需要保證已寫入Nand Flash的數據的一致性，對于SSD宣稱支持掉電保護的，需要保證所有主機收到成功的命令的數據都應該保持一致。然而，現有技術中鮮少有對于異常電源下固態硬盤的測試。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是：提供一種掉電時校驗數據的方法、裝置、存儲介質及電子設備，能夠驗證盤片在意外掉電情況下的數據完整性。

為了解決上述技術問題，本發明采用的一種技術方案為：

一種掉電時校驗數據的方法，包括步驟：

對待測試的硬盤盤片獨立上電，當接收到所述待測試的硬盤盤片被成功識別的指令時，構建包含預設參數的寫命令，所述預設參數包括起始邏輯區塊地址、數據寫入地址范圍以及數據模型；

根據所述寫命令對所述待測試的硬盤盤片進行數據寫入，并對寫入成功的寫命令對應的預設參數進行存儲；

在數據寫入過程中，對所述待測試的硬盤盤片單獨掉電；

對所述待測試的硬盤盤片重新獨立上電，當接收到所述待測試的硬盤盤片被成功識別的指令時，根據所述存儲的寫命令對應的預設參數從所述待測試的硬盤盤片讀取數據并進行數據校驗。

為了解決上述技術問題，本發明采用的另一種技術方案為：

一種掉電時校驗數據的裝置，包括：

上電模塊，用于對待測試的硬盤盤片獨立上電；

命令構建模塊，用于在所述上電模塊對待測試的硬盤盤片獨立上電后，當接收到所述待測試的硬盤盤片被成功識別的指令時，構建包含預設參數的寫命令，所述預設參數包括起始邏輯區塊地址、數據寫入地址范圍以及數據模型；

數據寫入模塊，用于根據所述寫命令對所述待測試的硬盤盤片進行數據寫入，并對寫入成功的寫命令對應的預設參數進行存儲；

掉電模塊，用于在數據寫入過程中，對所述待測試的硬盤盤片單獨掉電；

數據讀取模塊，用于在所述上電模塊對所述待測試的硬盤盤片重新獨立上電后，當接收到所述待測試的硬盤盤片被成功識別的指令時，根據所述存儲的寫命令對應的預設參數從所述待測試的硬盤盤片讀取數據并進行數據校驗。

為了解決上述技術問題，本發明采用的另一種技術方案為：