[發(fā)明專利]掉電時(shí)校驗(yàn)數(shù)據(jù)的方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010742942.2
• 申請(qǐng)日: 2020-07-29
• 公開（公告）號(hào): CN111897685A
• 公開（公告）日: 2020-11-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孫成思;孫日欣;李振華;李家敏
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳佰維存儲(chǔ)科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/22
• 分類號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 深圳市博銳專利事務(wù)所 44275
• 代理人: 鄭昱

1.一種掉電時(shí)校驗(yàn)數(shù)據(jù)的方法，其特征在于，包括步驟：

對(duì)待測(cè)試的硬盤盤片獨(dú)立上電，當(dāng)接收到所述待測(cè)試的硬盤盤片被成功識(shí)別的指令時(shí)，構(gòu)建包含預(yù)設(shè)參數(shù)的寫命令，所述預(yù)設(shè)參數(shù)包括起始邏輯區(qū)塊地址、數(shù)據(jù)寫入地址范圍以及數(shù)據(jù)模型；

根據(jù)所述寫命令對(duì)所述待測(cè)試的硬盤盤片進(jìn)行數(shù)據(jù)寫入，并對(duì)寫入成功的寫命令對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)參數(shù)進(jìn)行存儲(chǔ)；

在數(shù)據(jù)寫入過(guò)程中，對(duì)所述待測(cè)試的硬盤盤片單獨(dú)掉電；

對(duì)所述待測(cè)試的硬盤盤片重新獨(dú)立上電，當(dāng)接收到所述待測(cè)試的硬盤盤片被成功識(shí)別的指令時(shí)，根據(jù)所述存儲(chǔ)的寫命令對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)參數(shù)從所述待測(cè)試的硬盤盤片讀取數(shù)據(jù)并進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種掉電時(shí)校驗(yàn)數(shù)據(jù)的方法，其特征在于，所述寫命令為IO寫命令，并且通過(guò)并發(fā)執(zhí)行所述IO寫命令進(jìn)行數(shù)據(jù)寫入。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種掉電時(shí)校驗(yàn)數(shù)據(jù)的方法，其特征在于，對(duì)所述待測(cè)試的硬盤盤片單獨(dú)掉電和重新獨(dú)立上電之間間隔預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)，所述預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)可動(dòng)態(tài)設(shè)置。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種掉電時(shí)校驗(yàn)數(shù)據(jù)的方法，其特征在于，所述在數(shù)據(jù)寫入過(guò)程中，對(duì)所述待測(cè)試的硬盤盤片單獨(dú)掉電包括：

在數(shù)據(jù)寫入過(guò)程中，判斷所述待測(cè)試的硬盤盤片是否支持掉電保護(hù)，若是，則對(duì)所述待測(cè)試的硬盤盤片單獨(dú)掉電；

若否，則在對(duì)所述待測(cè)試的硬盤盤片單獨(dú)掉電之前執(zhí)行：

對(duì)所述待測(cè)試的硬盤盤片的cache進(jìn)行刷盤，刷盤后對(duì)寫入成功的寫命令對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)參數(shù)不進(jìn)行存儲(chǔ)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的一種掉電時(shí)校驗(yàn)數(shù)據(jù)的方法，其特征在于，根據(jù)所述寫命令對(duì)所述待測(cè)試的硬盤盤片進(jìn)行數(shù)據(jù)寫入包括：

根據(jù)所述寫命令和預(yù)設(shè)的扇區(qū)的數(shù)據(jù)格式對(duì)所述待測(cè)試的硬盤盤片對(duì)應(yīng)的扇區(qū)進(jìn)行數(shù)據(jù)寫入；

所述根據(jù)所述存儲(chǔ)的寫命令對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)參數(shù)從所述待測(cè)試的硬盤盤片讀取數(shù)據(jù)并進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)包括：

根據(jù)所述存儲(chǔ)的寫命令對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)參數(shù)和所述預(yù)設(shè)的扇區(qū)的數(shù)據(jù)格式從所述待測(cè)試的硬盤盤片對(duì)應(yīng)的扇區(qū)讀取數(shù)據(jù)并進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種掉電時(shí)校驗(yàn)數(shù)據(jù)的方法，其特征在于，不同扇區(qū)預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)格式不同。

7.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的一種掉電時(shí)校驗(yàn)數(shù)據(jù)的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述存儲(chǔ)的寫命令對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)參數(shù)從所述待測(cè)試的硬盤盤片讀取數(shù)據(jù)并進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)包括：

根據(jù)所述存儲(chǔ)的寫命令對(duì)應(yīng)的起始邏輯區(qū)塊地址和數(shù)據(jù)寫入地址范圍從所述待測(cè)試的硬盤盤片對(duì)應(yīng)的區(qū)域讀取數(shù)據(jù)，將讀取的數(shù)據(jù)與所述數(shù)據(jù)模型進(jìn)行比較，判斷寫入的數(shù)據(jù)與讀取的數(shù)據(jù)是否一致。

8.一種掉電時(shí)校驗(yàn)數(shù)據(jù)的裝置，其特征在于，包括：

上電模塊，用于對(duì)待測(cè)試的硬盤盤片獨(dú)立上電；

命令構(gòu)建模塊，用于在所述上電模塊對(duì)待測(cè)試的硬盤盤片獨(dú)立上電后，當(dāng)接收到所述待測(cè)試的硬盤盤片被成功識(shí)別的指令時(shí)，構(gòu)建包含預(yù)設(shè)參數(shù)的寫命令，所述預(yù)設(shè)參數(shù)包括起始邏輯區(qū)塊地址、數(shù)據(jù)寫入地址范圍以及數(shù)據(jù)模型；

數(shù)據(jù)寫入模塊，用于根據(jù)所述寫命令對(duì)所述待測(cè)試的硬盤盤片進(jìn)行數(shù)據(jù)寫入，并對(duì)寫入成功的寫命令對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)參數(shù)進(jìn)行存儲(chǔ)；

掉電模塊，用于在數(shù)據(jù)寫入過(guò)程中，對(duì)所述待測(cè)試的硬盤盤片單獨(dú)掉電；

數(shù)據(jù)讀取模塊，用于在所述上電模塊對(duì)所述待測(cè)試的硬盤盤片重新獨(dú)立上電后，當(dāng)接收到所述待測(cè)試的硬盤盤片被成功識(shí)別的指令時(shí)，根據(jù)所述存儲(chǔ)的寫命令對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)參數(shù)從所述待測(cè)試的硬盤盤片讀取數(shù)據(jù)并進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)。

9.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于：所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7任意一項(xiàng)所述的一種掉電時(shí)校驗(yàn)數(shù)據(jù)的方法中的各個(gè)步驟。

10.一種電子設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7任意一項(xiàng)所述的一種掉電時(shí)校驗(yàn)數(shù)據(jù)的方法中的各個(gè)步驟。