[發明專利]一種激光三角測距系統

有效

• 申請號: 202010742736.1
• 申請日: 2020-07-28
• 公開（公告）號: CN111830525B
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發明（設計）人: 賴嘉煒;康偉華;羅林
• 申請（專利權）人: 廣東博智林機器人有限公司
• 主分類號: G01S17/48
• 分類號: G01S17/48;G01S7/481
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 李飛

本申請提供一種激光三角測距系統，涉及激光測距技術領域，該激光三角測距系統包括激光發射機構、第一反射鏡、與第一反射鏡成夾角設置的第二反射鏡和激光接收機構。其中，激光發射機構用于發射測距激光至待測物體，以使待測物體對測距激光進行漫反射，并由第一反射鏡和第二反射鏡分別接收到漫反射的第一反射光和第二反射光；第一反射鏡和第二反射鏡接收到第一反射光和第二反射光之后，對第一反射光和第二反射光進行反射，以使激光接收機構接收到第一反射光和第二反射光，并根據第一反射光和第二反射光生成激光圖像。可見，實施這種實施方式能夠實現提高激光測距準確性的效果。

技術領域

本申請涉及激光測距技術領域，具體而言，涉及一種激光三角測距系統。

背景技術

隨著激光技術的不斷發展，激光的多種特性被應用于了諸多領域，其中，激光技術在測距領域中發展的十分迅速。目前，大部分工程都在使用激光測距儀進行測距，這正是因為激光測距儀較高的準確度和較高的時效性給人們帶來了極大的便利。然而，在實踐中發現，目前的激光測距儀雖然具有上述的優點，但是在進行遠距離運動測量的場景中，其測量結果會隨著距離的變化而發生非線性變化，從而導致測量誤差隨之增大，進而降低了激光測距的準確性。

發明內容

本申請實施例的目的在于提供一種激光三角測距系統，能夠盡可能的避免測量誤差，從而提高激光測距的準確性。

本申請實施例提供了一種激光三角測距系統，所述激光三角測距系統包括激光發射機構、第一反射鏡、與所述第一反射鏡成夾角設置的第二反射鏡和激光接收機構，其中，

所述激光發射機構，用于發射線激光至待測物體；

所述第一反射鏡，用于接收所述待測物體漫反射所述線激光形成的第一反射光，并反射所述第一反射光至所述激光接收機構；

所述第二反射鏡，用于接收所述待測物體漫反射所述線激光形成的第二反射光，并反射所述第二反射光至所述激光接收機構；

所述激光接收機構用于接收所述第一反射光和所述第二反射光，并根據所述第一反射光和所述第二反射光生成激光圖像；其中，所述激光圖像用于計算所述待測物體和所述激光發射機構之間的測量距離。

在上述實現過程中，該種激光三角測距系統包括激光發射機構、第一反射鏡、與第一反射鏡成夾角設置的第二反射鏡和激光接收機構。其中，激光發射機構用于發射測距激光至待測物體，以使待測物體對測距激光進行漫反射，并由第一反射鏡和第二反射鏡分別接收到漫反射的第一反射光和第二反射光；此時，第二反射鏡與第一反射鏡存在固定夾角，第二反射鏡的設置位置可以參照第一反射鏡逆時針旋轉固定夾角后平移的位置；第一反射鏡和第二反射鏡接收到第一反射光和第二反射光之后，對第一反射光和第二反射光進行反射，以使激光接收機構接收到第一反射光和第二反射光，并根據第一反射光和第二反射光生成激光圖像；該激光圖像用于計算待測物體和激光發射機構之間的測量距離。可見，實施這種實施方式，能夠通過第一反射鏡和第二反射鏡之間的組合使得激光接收機構獲取到兩條光線，從而使得其生成的激光圖像中具有相應的兩條光線，進而可以自動選取精確度更高的一條光線進行測量距離的計算，以實現提高激光測距準確性的效果。

進一步地，所述激光發射機構包括半導體激光器和發射透鏡組件，所述半導體激光器和所述發射透鏡組件同光軸設置，其中，

所述半導體激光器，用于發射激光；

所述發射透鏡組件，用于接收所述激光，對所述激光進行整形處理得到線激光，并將所述線激光投射至所述待測物體。

在上述實現過程中，半導體激光器和發射透鏡組件同光軸設置，半導體激光器發射激光之后，該激光就直接進入發射透鏡組件，經由該發射透鏡組件進行整形處理之后得到線激光，該線激光能夠在待測物體表面發生漫反射，依據該漫反射得到的光束能夠計算出激光發射機構與待測物體之間的距離，測量方法簡單易行。