[發明專利]一種激光三角測距系統有效
| 申請號： | 202010742736.1 | 申請日： | 2020-07-28 |
| 公開（公告）號： | CN111830525B | 公開（公告）日： | 2023-04-07 |
| 發明（設計）人： | 賴嘉煒;康偉華;羅林 | 申請（專利權）人： | 廣東博智林機器人有限公司 |
| 主分類號： | G01S17/48 | 分類號： | G01S17/48;G01S7/481 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 李飛 |
| 地址： | 528000 廣東省佛山市順德區北滘鎮順江*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 激光 三角 測距 系統 | ||
1.一種激光三角測距系統，其特征在于，所述激光三角測距系統包括激光發射機構、第一反射鏡、與所述第一反射鏡成夾角設置的第二反射鏡和激光接收機構，其中，
所述激光發射機構，用于發射線激光至待測物體；
所述第一反射鏡，用于接收所述待測物體漫反射所述線激光形成的第一反射光，并反射所述第一反射光至所述激光接收機構；
所述第二反射鏡，用于接收所述待測物體漫反射所述線激光形成的第二反射光，并反射所述第二反射光至所述激光接收機構；
所述激光接收機構用于接收所述第一反射光和所述第二反射光，并根據所述第一反射光和所述第二反射光生成激光圖像；其中，所述激光圖像用于計算所述待測物體和所述激光發射機構之間的測量距離。
2.根據權利要求1所述的激光三角測距系統，其特征在于，所述激光發射機構包括半導體激光器和發射透鏡組件，所述半導體激光器和所述發射透鏡組件同光軸設置，其中，
所述半導體激光器，用于發射激光；
所述發射透鏡組件，用于接收所述激光，對所述激光進行整形處理得到線激光，并將所述線激光投射至所述待測物體。
3.根據權利要求2所述的激光三角測距系統，其特征在于，所述發射透鏡組件包括準直透鏡組、聚焦透鏡組和線激光整形透鏡組，其中，所述準直透鏡組、所述聚焦透鏡組以及所述線激光整形透鏡組三者同光軸設置。
4.根據權利要求1所述的激光三角測距系統，其特征在于，所述第一反射鏡和所述第二反射鏡之間的相交線與所述激光接收機構的光軸相交且相互垂直；
所述第一反射鏡與所述第二反射鏡之間的夾角范圍為0°～5°；其中，所述第二反射鏡的位置能夠通過逆時針旋轉并平移所述第一反射鏡進行確定。
5.根據權利要求1所述的激光三角測距系統，其特征在于，所述激光接收機構包括成像透鏡組件、帶通濾光片以及二維圖像傳感器，所述成像透鏡組和所述帶通濾光片同光軸設置，其中，
所述成像透鏡組，用于接收所述第一反射光得到第一成像光，接收所述第二反射光得到第二成像光；
所述帶通濾光片，用于接收所述第一成像光和所述第二成像光，并分別對所述第一成像光和所述第二成像光進行帶通濾光處理，得到第一過濾光和第二過濾光；
所述二維圖像傳感器，用于根據所述第一過濾光和所述第二過濾光生成激光圖像。
6.根據權利要求5所述的激光三角測距系統，其特征在于，當待測物體位于標準測量點b0時，第一過濾光位于所述激光圖像正中間b21；
當待測物體位于標準測量點b0遠離所述激光發射機構一側時，確定待測物體與標準測量點b0之間的距離為第一物方距離a0b0，確定第一過濾光與所述激光圖像正中間之間的距離為第一像方距離a21b21；
當待測物體位于標準測量點b0靠近所述激光發射機構一側時，確定待測物體與標準測量點b0之間的距離為第二物方距離c0b0，確定第一過濾光與所述激光圖像正中間之間的距離為第二像方距離c21b21；其中，
(a21b21/a0b0)(c21b21/c0b0)。
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