[發明專利]一種五軸聯動高精密檢測平臺

在審

• 申請號: 202010741436.1
• 申請日: 2020-07-29
• 公開（公告）號: CN111735412A
• 公開（公告）日: 2020-10-02
• 發明（設計）人: 孫孟祥;羅永紅;蔡東;許錦銘
• 申請（專利權）人: 蘇州泰科貝爾直驅電機有限公司
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種五軸聯動高精密檢測平臺，包括底座、位于所述底座上的第一驅動模組、能夠沿所述第一驅動模組長度方向進行運動的第二驅動模組、能夠沿所述第二驅動模組長度方向進行運動的第一轉動模組、位于所述第一轉動模組轉動端的第二轉動模組、用于檢測的檢測模組以及驅動所述檢測模組進行運動的第三驅動模組；所述第一驅動模組與所述第二驅動模組均為直線電機驅動模組，所述第一轉動模組與所述第二轉動模組均為力矩電機驅動模組，所述第三驅動模組為伺服電機驅動雙軸模組，所述第二轉動模組的轉動端設置有載臺，所述載臺上設有氣孔。本發明實現了對產品的高精度檢測，能夠對產品的弧度與曲面進行檢測，能夠對產品進行全方位檢測。

技術領域

本發明屬于檢測平臺技術領域，尤其涉及一種五軸聯動高精密檢測平臺。

背景技術

隨著工業的快速發展，對于零件檢測精度的要求越來越高，因此，檢測平臺的使用顯得極為廣泛，傳統的檢測平臺多為三軸檢測平臺，這種檢測平臺存在以下缺陷：

(1)檢測范圍受限，當需要對產品的弧度與曲面進行檢測時，三軸檢測平臺無法完成；

(2)檢測的精度較低，傳統的三軸檢測平臺往往都是采用伺服電機匹配絲杠的方式進行調節檢測，導致精度較低；

(3)檢測不全面，當產品為不規則形狀時，三軸檢測平臺無法對產品進行全面的檢測。

發明內容

本發明克服了現有技術的不足，提供一種五軸聯動高精密檢測平臺，以解決現有技術中存在的問題。

為達到上述目的，本發明采用的技術方案為：一種五軸聯動高精密檢測平臺，包括底座、位于所述底座上的第一驅動模組、能夠沿所述第一驅動模組長度方向進行運動的第二驅動模組、能夠沿所述第二驅動模組長度方向進行運動的第一轉動模組、位于所述第一轉動模組轉動端的第二轉動模組、用于檢測的檢測模組以及驅動所述檢測模組進行運動的第三驅動模組；所述第一驅動模組與所述第二驅動模組均為直線電機驅動模組，所述第一轉動模組與所述第二轉動模組均為力矩電機驅動模組，所述第三驅動模組為伺服電機驅動雙軸模組，所述第二轉動模組的轉動端設置有載臺，所述載臺上設有氣孔。

本發明一個較佳實施例中，所述第一驅動模組沿所述底座長度方向設置。

本發明一個較佳實施例中，所述第二驅動模組通過第一滑動座與所述第一驅動模組連接。

本發明一個較佳實施例中，所述第一轉動模組通過第二滑動座與所述第二驅動模組連接。

本發明一個較佳實施例中，所述第一轉動模組包括支撐架、用于驅動的第一力矩電機以及位于所述第一力矩電機轉軸端的第一轉動軸，所述支撐架位于所述第二滑動座上，所述第一力矩電機與所述第一轉動軸均安裝于所述支撐架上。

本發明一個較佳實施例中，所述第二轉動模組包括第二力矩電機與位于所述第二力矩電機轉軸端的轉動塊，所述第二力矩電機通過安裝塊安裝于所述第一轉動軸上，所述載臺位于所述轉動塊上。

本發明一個較佳實施例中，所述第三驅動模組通過支座與所述底座連接。

本發明一個較佳實施例中，所述第三驅動模組包括Y軸驅動模組與能夠沿所述Y軸驅動模組長度方向進行運動的X軸驅動模組，所述X軸驅動模組通過連接座與所述Y軸驅動模組連接。

本發明一個較佳實施例中，所述檢測模組包括檢測相機與光源，所述檢測相機通過安裝座與所述X軸驅動模組連接。

本發明一個較佳實施例中，還包括機架，所述底座位于所述機架上。

本發明解決了背景技術中存在的缺陷，本發明具備以下有益效果：