[發明專利]貼膜檢測方法、裝置、系統及存儲介質

有效

• 申請號: 202010740704.8
• 申請日: 2020-07-30
• 公開（公告）號: CN112238600B
• 公開（公告）日: 2021-10-26
• 發明（設計）人: 陳建華;任俊東
• 申請（專利權）人: 嘉盛半導體（蘇州）有限公司
• 主分類號: B29C63/02
• 分類號: B29C63/02;G07C3/10
• 代理公司: 北京超成律師事務所 11646
• 代理人: 孔默

1.一種貼膜檢測方法，其特征在于，所述方法應用于貼膜檢測系統，所述貼膜檢測系統包括真空吸嘴、真空感應器和計數器，所述真空感應器設置在所述真空吸嘴的吸附側，所述計數器與所述真空感應器電連接，所述方法包括：

通過所述真空吸嘴與貼膜物料貼合后在所述真空吸嘴和所述貼膜物料間形成吸附腔，并在所述吸附腔內形成真空，以吸附所述貼膜物料；

通過所述真空吸嘴將所述貼膜物料吸附移動至下料區，釋放所述吸附腔，以釋放所述貼膜物料；

通過所述真空感應器將所述吸附腔的壓強轉換為電信號；

在所述電信號表征所述壓強從預設吸附壓強轉變為預設釋放壓強時確定完成單次貼膜動作；

以所述預設吸附壓強對應的電信號值作為周期起點，所述預設釋放壓強對應的電信號值作為周期終點，并以相鄰的周期起點和周期終點的間隔時長作為單次貼膜周期，通過所述計數器對所述單次貼膜周期的數量進行計數；

將所述單次貼膜周期的計數數量記為貼膜數量。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述通過所述計數器對所述單次貼膜周期的數量進行計數，包括：

在所述單次貼膜周期的時長大于或等于預設最小周期時，通過所述計數器對所述單次貼膜周期的數量進行計數。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述通過所述計數器對所述單次貼膜周期的數量進行計數，包括：

在所述單次貼膜周期的時長小于或等于預設最大周期時，通過所述計數器對所述單次貼膜周期的數量進行計數。

4.根據權利要求1-3中任一項所述的方法，其特征在于，所述貼膜檢測系統還包括信號控制器，所述信號控制器分別與所述真空感應器以及所述計數器電連接，通過所述計數器對所述單次貼膜周期的數量進行計數，包括：

通過所述信號控制器將所述真空感應器的電信號值轉換為數據包；

通過所述計數器基于所述數據包對所述單次貼膜周期的數量進行計數。

5.一種貼膜檢測裝置，其特征在于，所述裝置應用于貼膜檢測系統，所述貼膜檢測系統包括真空吸嘴、真空感應器和計數器，所述真空感應器設置在所述真空吸嘴的吸附側，所述計數器與所述真空感應器電連接，所述裝置包括：

吸附模塊，用于通過所述真空吸嘴與貼膜物料貼合后在所述真空吸嘴和所述貼膜物料間形成吸附腔，并在所述吸附腔內形成真空，以吸附所述貼膜物料；

釋放模塊，用于通過所述真空吸嘴將所述貼膜物料吸附移動至下料區，釋放所述吸附腔，以釋放所述貼膜物料；

轉換模塊，用于通過所述真空感應器將所述吸附腔的壓強轉換為電信號；

確定模塊，用于在所述電信號表征所述壓強從預設吸附壓強轉變為預設釋放壓強時確定完成單次貼膜動作；

計數模塊，用于以所述預設吸附壓強對應的電信號值作為周期起點，將所述預設釋放壓強對應的電信號值作為周期終點，并以相鄰的周期起點和周期終點的間隔時長作為單次貼膜周期，通過所述計數器對所述單次貼膜周期的數量進行計數；將所述單次貼膜周期的計數數量記為貼膜數量。

6.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述計數模塊用于：

在所述單次貼膜周期的時長大于或等于預設最小周期時，通過所述計數器對所述單次貼膜周期的數量進行計數。

7.一種貼膜檢測系統，其特征在于，所述系統包括：真空吸嘴、真空感應器、計數器；所述真空吸嘴與所述真空感應器電連接，所述真空感應器與所述計數器電連接；

所述真空吸嘴用于與貼膜物料貼合后在所述真空吸嘴和所述貼膜物料間形成吸附腔，并在所述吸附腔內形成真空，以吸附所述貼膜物料，還用于將所述貼膜物料吸附移動至下料區，釋放所述吸附腔，以釋放所述貼膜物料；

所述真空感應器用于將所述吸附腔的壓強轉換為電信號；

所述計數器用于將預設吸附壓強對應的電信號值作為周期起點，將預設釋放壓強對應的電信號值作為周期終點，將相鄰的周期起點和周期終點的間隔時長作為單次貼膜周期；通過所述計數器對所述單次貼膜周期的數量進行計數；將所述單次貼膜周期的計數數量記為貼膜數量。

8.一種存儲介質，其特征在于，所述存儲介質中存儲有計算機程序指令，所述計算機程序指令被一處理器運行時，執行上述權利要求1-4中任一項方法中的步驟。