[發明專利]DRAM內存顆粒的測試方法及裝置

有效

• 申請號: 202010740446.3
• 申請日: 2020-07-28
• 公開（公告）號: CN111951875B
• 公開（公告）日: 2023-07-21
• 發明（設計）人: 陳曉良
• 申請（專利權）人: 銳捷網絡股份有限公司
• 主分類號: G11C29/12
• 分類號: G11C29/12;G11C29/08;G11C11/401
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種DRAM內存顆粒的測試方法及裝置，該方法包括：獲取所述交互單元接收到的所述待測試DRAM內存顆粒的固有參數和設定參數；基于所述固有參數、所述設定參數和預設的初始工作時序確定所述待測試DRAM內存顆粒的選定工作時序集合；在所述選定工作時序集合中的每個選定工作時序下分別調用所述待測試DRAM內存顆粒執行預定測試項、調用所述電壓采集單元獲取所述待測試DRAM內存顆粒的當前電壓后調用所述電壓調節單元基于所述當前電壓和電壓范圍調節所述待測試DRAM內存顆粒的工作電壓；基于在每個選定工作時序下的測試結果確定所述待測試DRAM內存顆粒是否正常。該方案大大降低了整個測試設備的測試成本。

技術領域

本發明涉及計算機技術領域，尤指一種動態隨機存取存儲器(Dynamic?RandomAccess?Memory，DRAM)內存顆粒的測試方法及裝置。

背景技術

內存是計算機的重要組成部分，作為臨時數據存儲介質存放著計算機正在運行的程序以及所需的數據，可以與中央處理器(Central?Processing?Unit，CPU)直接交換數據，DRAM是最常見的內存，下面以DRAM內存顆粒為例進行說明。

如果內存發生故障，會導致程序不能正常運行甚至宕機。DRAM內存顆粒是內存的基本單元，若要確保內存的可靠性，需要首先確保DRAM內存顆粒的可靠性，這就需要對DRAM內存顆粒進行測試。

目前，主要是通過專門的測試機臺對DRAM內存顆粒進行測試，常用的測試機臺有T5588和T5503A等等，測試機臺可以在高溫條件下一次對128顆至256顆的DRAM內存顆粒進行相關的參數測試。但是，測試機臺的價格非常昂貴，這就導致DRAM內存顆粒的測試成本非常高。

發明內容

本發明實施例提供一種DRAM內存顆粒的測試方法及裝置，用以解決現有技術中存在的DRAM內存顆粒的測試成本非常高的問題。

根據本發明實施例，提供一種DRAM內存顆粒的測試方法，應用于測試設備包括的控制單元中，所述測試設備還包括與所述控制單元連接的交互單元、電壓調節單元、電壓采集單元和待測試DRAM內存顆粒，所述電壓采集單元、所述電壓調節單元分別與所述待測試DRAM內存顆粒連接，所述方法包括：

獲取所述交互單元接收到的所述待測試DRAM內存顆粒的固有參數和設定參數；

基于所述固有參數、所述設定參數和預設的初始工作時序確定所述待測試DRAM內存顆粒的選定工作時序集合；

在所述選定工作時序集合中的每個選定工作時序下分別調用所述待測試DRAM內存顆粒執行預定測試項、調用所述電壓采集單元獲取所述待測試DRAM內存顆粒的當前電壓后調用所述電壓調節單元基于所述當前電壓和預設的電壓范圍調節所述待測試DRAM內存顆粒的工作電壓；

基于在每個選定工作時序下的測試結果確定所述待測試DRAM內存顆粒是否正常。

具體的，基于所述各個固有參數、所述各個設定參數和預設的初始工作時序確定所述待測試DRAM內存顆粒的選定工作時序集合，具體包括：

組合所述各個固有參數的各個參數值和所述各個設定參數的各個參數值，得到各個參數值組合；

分別將各個參數值組合代入預設的初始工作時序，得到所述待測試DRAM內存顆粒的初始工作時序集合；

按照設定規則從所述初始工作時序集合中獲取選定工作時序，得到選定工作時序集合。

具體的，基于在每個選定工作時序下的測試結果確定所述待測試DRAM內存顆粒是否正常，具體包括：

獲取每個選定工作時序的測試結果；

確定每個選定工作時序的測試結果是否均為正常；