[發明專利]基于像素尋優的測井曲線自動追蹤方法、裝置和電子設備有效
| 申請號: | 202010740028.4 | 申請日: | 2020-07-28 |
| 公開(公告)號: | CN111932654B | 公開(公告)日: | 2023-07-14 |
| 發明(設計)人: | 陳天寶 | 申請(專利權)人: | 北京金陽普泰石油技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T11/20 | 分類號: | G06T11/20 |
| 代理公司: | 北京華清迪源知識產權代理有限公司 11577 | 代理人: | 康震 |
| 地址: | 100000 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 像素 測井 曲線 自動 追蹤 方法 裝置 電子設備 | ||
本發明實施例公開了基于像素尋優的測井曲線自動追蹤方法、裝置和電子設備,該方法包括:S1:獲取測井圖像中每個像素點的像素信息;S2:在所述測井圖像中的測井曲線上給定起始追蹤點,根據所述起始追蹤點、給定的顏色閾值和給定的橫向追蹤距離進行橫向追蹤;S3:獲取下一行像素中的當前最優點,并根據所述當前最優點、所述顏色閾值和所述橫向追蹤距離進行橫向追蹤;S4:重復步驟S3,直至所述起始追蹤點與當前最優點之間的距離超出給定的縱向追蹤距離為止,得到最終測井曲線。本發明能夠從測井圖像中快速、準確地自動提取出測井曲線,抗干擾效果好。
技術領域
本發明實施例涉及圖像處理技術領域,具體涉及基于像素尋優的測井曲線自動追蹤方法、裝置和電子設備。
背景技術
測井曲線是油田勘探、生產過程中記錄測井信息的常見載體,對指導油田開發有重要意義。由于測量的參數眾多,測井過程中涉及到多家公司的多種儀器,測井數據往往以圖片中曲線的形式給出,這就需要自動提取圖片測井曲線數據。
由于測井曲線圖紙圖像存在大量背景網格與曲線或曲線與曲線交織,致使曲線跟蹤中斷,需要手工連接,自動曲線提取非常困難。
發明內容
本發明實施例的目的在于提供基于像素尋優的測井曲線自動追蹤方法、裝置和電子設備,用以解決現有測井曲線自動追蹤非常困難的問題。
為實現上述目的,本發明實施例主要提供如下技術方案:
第一方面,本發明實施例提供了一種基于像素尋優的測井曲線自動追蹤方法,包括:S1:獲取測井圖像中每個像素點的像素信息;S2:在所述測井圖像中的測井曲線上給定起始追蹤點,根據所述起始追蹤點、給定的顏色閾值和給定的橫向追蹤距離進行橫向追蹤;S3:獲取下一行像素中的當前最優點,并根據所述當前最優點、所述顏色閾值和所述橫向追蹤距離進行橫向追蹤;S4:重復步驟S3,直至所述起始追蹤點與當前最優點之間的距離超出給定的縱向追蹤距離為止,得到最終測井曲線。
根據本發明的一個實施例,獲取下一行像素中的當前最優點,包括:在下一行像素中的橫向追蹤范圍內,從左到右把顏色閥值范圍內的坐標點和像素值保存到數組中;計算所述數組中所有像素點橫坐標的平均值;根據所述平均值和系數計算公式得到所述數組中所有像素點的系數;將所述數組中所有像素點的系數中系數最小的點作為當前最優點。
根據本發明的一個實施例,所述系數計算公式為:
Ci=(Hpi.Xi-AvgD)/AvgD*0.5+(Hpi.Vi-P.v)/P.v*0.5
其中,Ci為像素點Hpi(Xi,Yi,Vi)的系數,Hpi.Xi為像素點Hpi(Xi,Yi,Vi)的橫坐標,AvgD為所述數組中所有像素點橫坐標的平均值,Hpi.Vi為像素點Hpi(Xi,Yi,Vi)的像素值,P.v為所述起始追蹤點的坐標值。
根據本發明的一個實施例,所述像素信息包括像素點的RGB值。
第二方面,本發明實施例還提供一種基于像素尋優的測井曲線自動追蹤裝置,包括:獲取模塊,用于獲取測井圖像;控制處理模塊,用于獲取測井圖像中每個像素點的像素信息,并在所述測井圖像中的測井曲線上給定起始追蹤點,根據所述起始追蹤點、給定的顏色閾值和給定的橫向追蹤距離進行橫向追蹤;所述控制處理模塊還用于獲取下一行像素中的當前最優點,并根據所述最優點、所述顏色閾值和所述橫向追蹤距離進行橫向追蹤;所述控制處理模塊還用于重復獲取當前最優點進行橫向追蹤,直至所述起始追蹤點與當前最優點之間的距離超出給定的縱向追蹤距離為止,得到最終測井曲線。
根據本發明的一個實施例,所述控制處理模塊用于在下一行像素中的橫向追蹤范圍內,從左到右把顏色閥值范圍內的坐標點和像素值保存到數組中,計算所述數組中所有像素點橫坐標的平均值,根據所述平均值和系數計算公式得到所述數組中所有像素點的系數,將所述數組中所有像素點的系數中系數最小的點作為當前最優點。
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