[發明專利]基于像素尋優的測井曲線自動追蹤方法、裝置和電子設備

有效

• 申請號: 202010740028.4
• 申請日: 2020-07-28
• 公開（公告）號: CN111932654B
• 公開（公告）日: 2023-07-14
• 發明（設計）人: 陳天寶
• 申請（專利權）人: 北京金陽普泰石油技術股份有限公司
• 主分類號: G06T11/20
• 分類號: G06T11/20
• 代理公司: 北京華清迪源知識產權代理有限公司 11577
• 代理人: 康震

1.一種基于像素尋優的測井曲線自動追蹤方法，其特征在于，包括：

S1：獲取測井圖像中每個像素點的像素信息；

S2：在所述測井圖像中的測井曲線上給定起始追蹤點，根據所述起始追蹤點、給定的顏色閾值和給定的橫向追蹤距離進行橫向追蹤；

S3：獲取下一行像素中的當前最優點，并根據所述當前最優點、所述顏色閾值和所述橫向追蹤距離進行橫向追蹤；

S4：重復步驟S3，直至所述起始追蹤點與當前最優點之間的距離超出給定的縱向追蹤距離為止，得到最終測井曲線；

獲取下一行像素中的當前最優點，包括：

在下一行像素中的橫向追蹤范圍內，從左到右把顏色閾值范圍內的坐標點和像素值保存到數組中；

計算所述數組中所有像素點橫坐標的平均值；

根據所述平均值和系數計算公式得到所述數組中所有像素點的系數；

將所述數組中所有像素點的系數中系數最小的點作為當前最優點；

所述系數計算公式為：

Ci＝(Hpi.Xi-AvgD)/AvgD*0.5+(Hpi.Vi-P.v)/P.v*0.5

其中，Ci為像素點Hpi(Xi，Yi,Vi)的系數，Hpi.Xi為像素點Hpi(Xi，Yi,Vi)的橫坐標，AvgD為所述數組中所有像素點橫坐標的平均值，Hpi.Vi為像素點Hpi(Xi，Yi,Vi)的像素值，P.v為所述起始追蹤點的坐標值。

2.根據權利要求1所述的基于像素尋優的測井曲線自動追蹤方法，其特征在于，所述像素信息包括像素點的RGB值。

3.一種基于像素尋優的測井曲線自動追蹤裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取測井圖像；

控制處理模塊，用于獲取測井圖像中每個像素點的像素信息，并在所述測井圖像中的測井曲線上給定起始追蹤點，根據所述起始追蹤點、給定的顏色閾值和給定的橫向追蹤距離進行橫向追蹤；所述控制處理模塊還用于獲取下一行像素中的當前最優點，并根據所述當前最優點、所述顏色閾值和所述橫向追蹤距離進行橫向追蹤；所述控制處理模塊還用于重復獲取當前最優點進行橫向追蹤，直至所述起始追蹤點與當前最優點之間的距離超出給定的縱向追蹤距離為止，得到最終測井曲線；

所述控制處理模塊用于在下一行像素中的橫向追蹤范圍內，從左到右把顏色閾值范圍內的坐標點和像素值保存到數組中，計算所述數組中所有像素點橫坐標的平均值，根據所述平均值和系數計算公式得到所述數組中所有像素點的系數，將所述數組中所有像素點的系數中系數最小的點作為當前最優點；

所述系數計算公式為：

Ci＝(Hpi.Xi-AvgD)/AvgD*0.5+(Hpi.Vi-P.v)/P.v*0.5

其中，Ci為像素點Hpi(Xi，Yi,Vi)的系數，Hpi.Xi為像素點Hpi(Xi，Yi,Vi)的橫坐標，AvgD為所述數組中所有像素點橫坐標的平均值，Hpi.Vi為像素點Hpi(Xi，Yi,Vi)的像素值，P.v為所述起始追蹤點的坐標值。

4.根據權利要求3所述的基于像素尋優的測井曲線自動追蹤裝置，其特征在于，所述像素信息包括像素點的RGB值。

5.一種電子設備，其特征在于，所述電子設備包括：至少一個處理器和至少一個存儲器；

所述存儲器用于存儲一個或多個程序指令；

所述處理器，用于運行一個或多個程序指令，用以執行如權利要求1-2任一項所述的基于像素尋優的測井曲線自動追蹤方法。

6.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質中包含一個或多個程序指令，所述一個或多個程序指令用于執行如權利要求1-2任一項所述的基于像素尋優的測井曲線自動追蹤方法。