[發明專利]屏幕殘影的測試方法

在審

• 申請號: 202010738693.X
• 申請日: 2020-07-28
• 公開（公告）號: CN113176677A
• 公開（公告）日: 2021-07-27
• 發明（設計）人: 駱志鋒;盧建燦;胡燮;許仕林
• 申請（專利權）人: 深圳同興達科技股份有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 深圳市中科創為專利代理有限公司 44384
• 代理人: 彭濤;劉曰瑩

本發明涉及屏幕顯示技術領域，尤其涉及一種屏幕殘影的測試方法，包括如下步驟：步驟S1：將屏幕上的像素點的灰度值全部設置為128；步驟S2：將屏幕按8*8分區；步驟S3：第一次測量并記錄各分區塊中心點的亮度值LV_BPn；步驟S4：將屏幕切換到8*8棋盤格畫面；步驟S5：切換8*8棋盤格畫面至屏幕上像素點的灰度值全部為128的畫面；步驟S6：第二次測量并計量各分區塊中心點的亮度值LV_APn；步驟S7：計算出最大亮度差值比MAX(ABS(LV_APn?LV_BPn)/LV_BPn)；步驟S8：將最大亮度差值比與2％進行比較，當最大亮度差值比小于等于2％，則該屏幕無殘影；當最大亮度差值比大于2％，則該屏幕存在殘影。本發明的屏幕殘影的測試方法可確定出顯示屏的屏幕是否存在殘影現象，有利于提升用戶的體驗。

【技術領域】

本發明涉及屏幕顯示技術領域，尤其涉及一種屏幕殘影的測試方法。

【背景技術】

當顯示屏在顯示一個畫面上停留較長時間，顯示屏內液晶中的帶電粒子會吸附在上下玻璃兩端形成內建電場，畫面切換之后，這些帶電粒子在沒有立刻釋放出，使得液晶分子沒有立刻轉到相應的角度會產生殘影現象，另外由于像素電極在設計階段由于設計不良使得液晶分子在畫面切換時也會因排列錯亂而產生殘影現象。

殘影現象的產生會影響用戶對屏幕的觀感，當用戶在觀看屏幕上的一個畫面后，該畫面的影像未及時消失，導致與后一畫面相重疊，較大地降低了用戶的體驗感。現有的測試方法依賴主觀判斷，工作人員易受感觀及測試環境影響，在生產測試過程中易產生判定誤差。

因此，現有技術存在不足，需要改進。

【發明內容】

為克服上述的技術問題，本發明提供了一種屏幕殘影的測試方法。

本發明解決技術問題的方案是提供一種屏幕殘影的測試方法，包括如下步驟：

步驟S1：將屏幕上的像素點的灰度值全部設置為128；

步驟S2：將屏幕按8*8分區；

步驟S3：第一次測量并記錄各分區塊中心點的亮度值LV_BPn；

步驟S4：將屏幕切換到8*8棋盤格畫面；

步驟S5：切換8*8棋盤格畫面至屏幕上像素點的灰度值全部為128的畫面；

步驟S6：第二次測量并計量各分區塊中心點的亮度值LV_APn；

步驟S7：計算出最大亮度差值比MAX(ABS(LV_APn-LV_BPn)/LV_BPn)；

步驟S8：將最大亮度差值比與2％進行比較，當最大亮度差值比小于等于2％，則該屏幕無殘影；當最大亮度差值比大于2％，則該屏幕存在殘影。

優選地，步驟S1還包括如下步驟：

步驟S11：保持像素點在128灰度值的時間為5分鐘。

優選地，步驟S4還包括如下步驟：

步驟S41：保持8*8棋盤格畫面的時間為60分鐘。

優選地，步驟S5還包括如下步驟：

步驟S51：在8*8棋盤格畫面切換至屏幕上像素點的灰度值全部為128的畫面后，保持3分鐘。

相對于現有技術，本發明的屏幕殘影的測試方法具有如下優點：