[發明專利]屏幕殘影的測試方法在審
| 申請號： | 202010738693.X | 申請日： | 2020-07-28 |
| 公開（公告）號： | CN113176677A | 公開（公告）日： | 2021-07-27 |
| 發明（設計）人： | 駱志鋒;盧建燦;胡燮;許仕林 | 申請（專利權）人： | 深圳同興達科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G02F1/13 | 分類號： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳市中科創為專利代理有限公司 44384 | 代理人： | 彭濤;劉曰瑩 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市龍華區觀瀾街道新瀾*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 屏幕 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種屏幕殘影的測試方法，其特征在于：所述屏幕殘影的測試方法包括如下步驟：
步驟S1：將屏幕上的像素點的灰度值全部設置為128；
步驟S2：將屏幕按8*8分區；
步驟S3：第一次測量并記錄各分區塊中心點的亮度值LVBPn；
步驟S4：將屏幕切換到8*8棋盤格畫面；
步驟S5：切換8*8棋盤格畫面至屏幕上像素點的灰度值全部為128的畫面；
步驟S6：第二次測量并計量各分區塊中心點的亮度值LVAPn；
步驟S7：計算出最大亮度差值比MAX(ABS(LVAPn-LVBPn)/LVBPn)；
步驟S8：將最大亮度差值比與2％進行比較，當最大亮度差值比小于等于2％，則該屏幕無殘影；當最大亮度差值比大于2％，則該屏幕存在殘影。
2.如權利要求1所述的屏幕殘影的測試方法，其特征在于：步驟S1還包括如下步驟：
步驟S11：保持像素點在128灰度值的時間為5分鐘。
3.如權利要求1所述的屏幕殘影的測試方法，其特征在于：步驟S4還包括如下步驟：
步驟S41：保持8*8棋盤格畫面的時間為60分鐘。
4.如權利要求1所述的屏幕殘影的測試方法，其特征在于：步驟S5還包括如下步驟：
步驟S51：在8*8棋盤格畫面切換至屏幕上像素點的灰度值全部為128的畫面后，保持3分鐘。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳同興達科技股份有限公司，未經深圳同興達科技股份有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010738693.X/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：片材搬送裝置以及片材搬送介質
- 下一篇：顯示屏畫面切換與幀率匹配度的測試方法
