[發(fā)明專利]一種輻射成像探測方法和裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010735827.2 | 申請日: | 2020-07-28 |
| 公開(公告)號: | CN111896991A | 公開(公告)日: | 2020-11-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 鄧智;張麗;邢宇翔;高河偉 | 申請(專利權(quán))人: | 清華大學(xué) |
| 主分類號: | G01T1/16 | 分類號: | G01T1/16;G01T1/24 |
| 代理公司: | 北京德琦知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11018 | 代理人: | 杜志敏;宋志強(qiáng) |
| 地址: | 100084*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 輻射 成像 探測 方法 裝置 | ||
本申請?zhí)峁┝艘环N輻射成像探測方法和裝置,通過在探測器的一端集成兩條通道,或分別在探測器的兩端同時分別采集一定時間內(nèi)射線或粒子的積分和和計數(shù)值,用于進(jìn)行圖像分析和重建,既能實(shí)現(xiàn)高強(qiáng)度、大動態(tài)范圍的測量,又能在相對較低的計數(shù)率下獲取粒子能量等信息,以實(shí)現(xiàn)更好的圖像和物質(zhì)成分分辨,以及降低輻射成像所需劑量。可見本方案能夠在降低輻射成像所需的劑量的前提下,提高圖像的分辨率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及輻射成像技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種輻射成像探測方法和裝置。
背景技術(shù)
在一個輻射成像系統(tǒng)中,射線或粒子與被檢測物體發(fā)生作用后形成的透射、散射或衍射圖像往往與物質(zhì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)和成分等有關(guān);而透射、散射或衍射圖像通常通過輻射強(qiáng)度的位置分布來探測。
現(xiàn)有輻射強(qiáng)度的測量主要有獨(dú)立的積分和計數(shù)兩種方式,以X射線成像為例:
積分型探測把一段時間內(nèi)所有X射線光子產(chǎn)生的電流進(jìn)行積分,把積分得到的電荷值作為X射線的強(qiáng)度。
積分型探測結(jié)構(gòu)簡單、可探測的強(qiáng)度范圍很大,是目前醫(yī)療和工業(yè)X射線成像系統(tǒng)主要采用的方式。但這種探測方式無法區(qū)分單個X射線能量,因此需要其他方式才能實(shí)現(xiàn)雙能探測,但這就意味著需要更高的輻射劑量。
計數(shù)型探測把每個X射線光子在探測器中產(chǎn)生的信號進(jìn)行放大和甄別,并記錄一段時間內(nèi)的光子數(shù)目作為X射線的強(qiáng)度。
計數(shù)型探測可以獲得單個X射線的能量信息,通過設(shè)置多個能窗閾值可以實(shí)現(xiàn)雙能甚至多能成像,從而提高圖像分辨和降低劑量。但這種探測方式對探測器的時間響應(yīng)要求很高,隨著入射X射線強(qiáng)度增大、探測器信號堆積變得嚴(yán)重,導(dǎo)致計數(shù)損失和能譜畸變。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本申請?zhí)峁┮环N輻射成像探測方法和裝置,能夠在降低輻射成像所需的劑量的前提下,提高圖像的分辨率。
為解決上述技術(shù)問題,本申請的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的:
在一個實(shí)施例中,提供了一種輻射成像探測方法,在探測器的讀出電路中集成兩個信號處理通道,所述兩個信號處理通道為積分通道和計數(shù)通道;所述方法包括:
通過所述積分通道對探測器信號進(jìn)行積分處理;
通過所述計數(shù)通道將所述探測器信號進(jìn)行計數(shù)處理;
將積分處理的積分結(jié)果和所述計數(shù)處理的計數(shù)結(jié)果輸出到所述成像平臺,使所述成像平臺根據(jù)設(shè)置的輻射強(qiáng)度的范圍,以及所述積分結(jié)果和計數(shù)結(jié)果進(jìn)行圖像分析和重建。
在另一個實(shí)施例中,提供了一種輻射成像探測方法,所述方法包括:
針對探測器通過兩端分別讀出探測探測器信號;
通過其中一端讀出探測器信號時進(jìn)行積分處理;
通過另一端讀出探測器信號時進(jìn)行計數(shù)處理;
將積分處理的積分結(jié)果和所述計數(shù)處理的計數(shù)結(jié)果輸出到所述成像平臺,使所述成像平臺根據(jù)設(shè)置的輻射強(qiáng)度的范圍,以及所述積分結(jié)果和計數(shù)結(jié)果進(jìn)行圖像分析和重建。
在另一個實(shí)施例中,提供了一種輻射成像探測裝置,在探測器的讀出電路中集成兩個信號處理通道,所述兩個信號處理通道為積分通道和計數(shù)通道;所述裝置包括:積分單元、計數(shù)單元和輸出單元;
所述積分單元,用于通過所述積分通道對探測器信號進(jìn)行積分處理;
所述計數(shù)單元,用于通過所述計數(shù)通道將所述探測器信號進(jìn)行計數(shù)處理;
所述輸出單元,用于將所述積分單元進(jìn)行積分處理的積分結(jié)果和所述計數(shù)單元進(jìn)行計數(shù)處理的計數(shù)結(jié)果輸出到所述成像平臺,使所述成像平臺根據(jù)設(shè)置的輻射強(qiáng)度的范圍,以及所述積分結(jié)果和計數(shù)結(jié)果進(jìn)行圖像分析和重建。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于清華大學(xué),未經(jīng)清華大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010735827.2/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





