[發明專利]一種輻射成像探測方法和裝置

在審

• 申請號: 202010735827.2
• 申請日: 2020-07-28
• 公開（公告）號: CN111896991A
• 公開（公告）日: 2020-11-06
• 發明（設計）人: 鄧智;張麗;邢宇翔;高河偉
• 申請（專利權）人: 清華大學
• 主分類號: G01T1/16
• 分類號: G01T1/16;G01T1/24
• 代理公司: 北京德琦知識產權代理有限公司 11018
• 代理人: 杜志敏;宋志強

1.一種輻射成像探測方法，其特征在于，在探測器的讀出電路中集成兩個信號處理通道，所述兩個信號處理通道為積分通道和計數通道；所述方法包括：

通過所述積分通道對探測器信號進行積分處理；

通過所述計數通道將所述探測器信號進行計數處理；

將積分處理的積分結果和所述計數處理的計數結果輸出到所述成像平臺，使所述成像平臺根據設置的輻射強度的范圍，以及所述積分結果和計數結果進行圖像分析和重建。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，當所述探測器為直接探測器，或采用發光二極管PD讀出的間接探測器時，所述通過所述積分通道對探測器信號進行積分處理；通過所述計數通道將所述探測器信號進行計數處理，包括：

將探測器信號通過開關積分器處理；

將所述開關積分器處理后的探測器信號分為兩路子信號；

將其中的一路子信號依次通過相關雙采樣電路CDS和模數轉換器ADC處理；

將另一路子信號依次通過成型電路、甄別器和計數器進行處理。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法進一步包括：

所述開關積分器在每個積分和計數周器復位并重新打開。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，當所述探測器為采用硅光電倍增管SiPM讀出的間接探測器時，所述通過所述積分通道對探測器信號進行積分處理；通過所述計數通道將所述探測器信號進行計數處理，包括：

將所述探測器信號通過電流靈敏前放進行處理獲得電壓信號；

將所述電壓信號分為兩路電壓子信號；

將其中一路電壓子信號進行信號衰減后，依次通過開關積分器、CDS和ADC進行處理；

將其中的另一路電壓子信號依次通過成型電路、甄別器和計數器進行處理。

5.一種輻射成像探測方法，其特征在于，所述方法包括：

針對探測器通過兩端分別讀出探測探測器信號；

通過其中一端讀出探測器信號時進行積分處理；

通過另一端讀出探測器信號時進行計數處理；

將積分處理的積分結果和所述計數處理的計數結果輸出到所述成像平臺，使所述成像平臺根據設置的輻射強度的范圍，以及所述積分結果和計數結果進行圖像分析和重建。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，當所述探測器為采用發光二極管PD讀出的間接探測器時，通過兩端分別讀出的探測器信號各占總信號的一半，探測器的信號的極性由PD讀出；

當所述探測器為采用硅光電倍增管SiPM讀出的間接探測器時，通過兩端分別讀出的探測器信號各占總信號的一半，探測器信號的極性由SiPM讀出；

當所述探測器為直接探測器時，通過兩端分別讀出的探測器信號的幅度相同，極性相反。

7.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，當所述探測器為直接探測器，或采用PD讀出的間接探測器時，所述通過其中一端讀出探測器信號時進行積分處理，包括：

對探測器信號依次通過開關積分器、相關雙采樣電路CDS和模數轉換器ADC處理

所述通過另一端讀出探測器信號時進行計數處理，包括：

對所述探測探測器信號依次通過電荷靈敏前放、成型電路、甄別器和計數器進行處理。

8.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，當所述探測器為采用SiPM讀出的間接探測器時，所述通過其中一端讀出探測器信號時進行積分處理，包括：

對探測器信號依次通過電流靈敏前放、開關積分器、CDS和ADC處理

所述通過另一端讀出探測器信號時進行計數處理，包括：

對所述探測器信號依次通過電荷靈敏前放、成型電路、甄別器和計數器進行處理。