[發明專利]一種去除塑封模具中模盒型腔殘留物的方法在審
| 申請號: | 202010732992.2 | 申請日: | 2020-07-27 |
| 公開(公告)號: | CN111923293A | 公開(公告)日: | 2020-11-13 |
| 發明(設計)人: | 方兆國;陳中洲 | 申請(專利權)人: | 西安微電子技術研究所 |
| 主分類號: | B29C33/72 | 分類號: | B29C33/72;H01L21/56 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責任公司 61200 | 代理人: | 朱海臨 |
| 地址: | 710065 陜西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 去除 塑封 模具 中模盒型腔 殘留物 方法 | ||
本發明提供一種去除塑封模具中模盒型腔殘留物的方法,包括如下步驟:步驟1,先將塑封模具中模盒型腔加熱,使所述的殘留物分解、軟化和焦化,得到焦化后的殘留物;步驟2,將焦化后的殘留物進行清掃,完成塑封模具中模盒型腔殘留物的去除。本發明不涉及退鍍、電鍍和腐蝕等化學試劑處理工藝,在資源節約與環境保護方面遠優于傳統模具返廠維修;相比于化學試劑處理工藝更加溫和,沒有化學試劑的腐蝕影響,對模具和鍍層的影響較小,對操作員工的健康無任何影響;相比于機械打磨工藝,附著殘留物由高溫高壓氣體清理,沒有機械磨損現象,對模具和鍍層的影響較小。
技術領域
本發明屬于半導體集成電路塑料封裝領域,具體為一種去除塑封模具中模盒型腔殘留物的方法。
背景技術
在半導體集成電路封裝的過程中,塑封模具在連續包封后,在該模具中模盒型腔會出現殘留物,該殘留物是環氧樹脂和脫模劑等物質在175℃下的高溫氧化后沉積而成的,一般使用清模條進行日常清模維護后難以做到完全清理干凈。經過長時間使用后,殘留物積累較為顯著,影響產品外觀質量,甚至影響產品質量。
由于這種殘留物附著在塑封模具中模盒型腔的鍍鉻層上,現有維護方法是將模具送至生產廠家對模盒型腔進行退鍍處理,退鍍處理后再重新鍍鉻。這其中模具維護涉及退鍍與電鍍工藝,加工周期長,對環境具有一定的污染,而且浪費大量資源。
發明內容
針對現有技術中存在的問題,本發明提供一種去除塑封模具中模盒型腔殘留物的方法,使用溫和、環保、快捷的方式清理了模盒型腔中的殘留物,從而使模具滿足使用標準。
本發明是通過以下技術方案來實現:
一種去除塑封模具中模盒型腔殘留物的方法,包括如下步驟:
步驟1,先將塑封模具中模盒型腔加熱,使所述的殘留物分解、軟化和焦化,得到焦化后的殘留物;
步驟2,將焦化后的殘留物進行清掃,完成塑封模具中模盒型腔殘留物的去除。
優選的,步驟1將所述的模盒型腔加熱到270~330℃。
進一步,模盒型腔在所述溫度下加熱50~60s。
優選的,步驟1中通過電磁、紅外、激光或氣熱的方式對所述的模盒型腔進行加熱。
優選的,步驟2采用熱風槍將焦化后的殘留物進行清掃。
進一步,熱風槍的清掃溫度為270~330℃。
再進一步,熱風槍的氣源為空氣、氮氣和稀有氣體中的一種或多種。
再進一步,熱風槍的出風口氣壓為0.5~0.7MPa。
與現有技術相比,本發明具有以下有益的技術效果:
本發明一種去除塑封模具中模盒型腔殘留物的方法,先將塑封模具中模盒型腔加熱,這樣可使殘留物分解,軟化和焦化,可得到焦化后的殘留物,最后將焦化后的殘留物進行清掃,即可完成塑封模具中模盒型腔殘留物的去除,不涉及退鍍、電鍍和腐蝕等化學試劑處理工藝,在資源節約與環境保護方面遠優于傳統模具返廠維修;相比于化學試劑處理工藝更加溫和,沒有化學試劑的腐蝕影響,對模具和鍍層的影響較小,對操作員工的健康無任何影響;相比于機械打磨工藝,附著殘留物由高溫高壓氣體清理,沒有機械磨損現象,對模具和鍍層的影響較小。
進一步的,本發明的清理工藝僅有電力消耗,可使用局部加熱配合高溫高壓氣體清理,能量消耗較少,實施代價低,降低了塑封模具的維護消耗時間,減少了塑封模具維護過程中資源的浪費,避免退鍍與電鍍等高污染工藝環節。
附圖說明
圖1為塑封模具中模盒型腔及殘留物的示意圖。
圖2為本發明局部加熱去除殘留物的示意圖。
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