[發明專利]使用退化信息計算最優讀取電壓的存儲設備

在審

• 申請號: 202010729765.4
• 申請日: 2020-07-27
• 公開（公告）號: CN112349324A
• 公開（公告）日: 2021-02-09
• 發明（設計）人: 柳載德;金真憐
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G11C13/00
• 分類號: G11C13/00;G06F3/06;G11C16/04
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 邵亞麗

一種存儲設備，包括：第一存儲器設備，包括多個存儲器塊和被包括在多個存儲器塊中的每一個中的多個頁面；第二存儲器設備，被配置為存儲第一存儲器設備的第一退化信息；以及控制器，被配置為使用第一讀取電壓在第一存儲器設備上執行第一讀取操作以獲取第一退化信息，并且使用第二讀取電壓在第一存儲器設備上執行第二讀取操作。第二讀取電壓是使用第一存儲器設備的第二退化信息計算的，第二退化信息使用第一退化信息估計。第一退化信息和第二退化信息中的每一個包括多個頁面中的每一個的誤比特數。

相關申請的交叉引用

本申請根據35U.S.C.§119要求于2019年8月6日在韓國知識產權局提交的第10-2019-0095757號韓國專利申請的優先權，其公開通過引用而整體并入本文。

技術領域

本發明構思的示例性實施例涉及一種使用退化信息(degradation information)計算最優讀取電壓的存儲設備。

背景技術

由于各種因素，諸如保持(retention)時間的增加、讀取干擾錯誤的發生、由于增加的編程/擦除(Program/Erase，P/E)循環而導致的耐久性的降低等，存儲器設備可能經歷性能退化。讀取容限隨著存儲器設備的集成度增加而降低，并且讀取容限的降低程度隨著存儲器設備的性能退化加劇而增加，這不利地影響數據可靠性。

發明內容

根據本發明構思的示例性實施例，一種存儲設備包括：第一存儲器設備，包括多個存儲器塊和被包括在多個存儲器塊中的每一個中的多個頁面；第二存儲器設備，被配置為存儲第一存儲器設備的第一退化信息；以及控制器，被配置為使用第一讀取電壓在第一存儲器設備上執行第一讀取操作以獲取第一退化信息，并且使用第二讀取電壓在第一存儲器設備上執行第二讀取操作。第二讀取電壓是使用第一存儲器設備的第二退化信息計算的，第二退化信息使用第一退化信息估計。第一退化信息和第二退化信息中的每一個包括多個頁面中的每一個的誤比特數(number of error bits)。

根據本發明構思的示例性實施例，一種存儲設備包括：第一存儲器設備，被配置為存儲由主機請求的數據；第二存儲器設備，被配置為以頁面單位存儲第一存儲器設備的第一退化信息；以及控制器，被配置為使用第一讀取電壓在第一存儲器設備上執行第一讀取操作，并且獲取第一退化信息。第二存儲器設備基于第一退化信息來估計第一存儲器設備的第二退化信息，并且基于第二退化信息來計算第二讀取電壓，其中該第二讀取電壓用于根據主機的請求在第一存儲器設備上執行第二讀取操作。

根據本發明構思的示例性實施例，一種存儲設備包括：第一存儲器設備，被配置為存儲由主機請求的數據；第二存儲器設備，被配置為存儲第一存儲器設備的第一退化信息；以及控制器，被配置為檢測通過第一存儲器設備上的第一讀取操作生成的誤比特數作為第一退化信息。第一存儲器設備響應于來自主機的對第二讀取操作的請求，基于第一退化信息來估計第一存儲器設備的第二退化信息，并且使用基于第二退化信息計算的讀取電壓來執行第二讀取操作。第二存儲器設備的編程單元不同于第一存儲器設備的編程單元。

附圖說明

通過參考附圖詳細描述本發明構思的示例性實施例，將更清楚地理解本發明構思的以上以及其他方面和特征。

圖1是示出根據本發明構思的示例性實施例的存儲系統的視圖。

圖2至圖5B是示出根據本發明構思的示例性實施例的被包括在存儲設備中的存儲器設備的視圖。

圖6是示出根據本發明構思的示例性實施例的根據被包括在圖1的第一存儲器設備中的存儲器單元的退化程度的閾值電壓分布中的變化的視圖。

圖7是示出根據本發明構思的示例性實施例的存儲設備的視圖。

圖8是示出根據本發明構思的示例性實施例的圖7的退化信息存儲單元的視圖。