[發(fā)明專利]充放電MOS管的黏連檢測(cè)電路及其檢測(cè)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010719247.4
• 申請(qǐng)日: 2020-07-23
• 公開（公告）號(hào): CN112798916A
• 公開（公告）日: 2021-05-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張偉峰;程亞兵;張軼;余翠羊
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 浙江高泰昊能科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/26
• 分類號(hào): G01R31/26;G01R31/55
• 代理公司: 杭州知學(xué)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 33356
• 代理人: 張?chǎng)?/td>

本發(fā)明涉及充放電MOS管的黏連檢測(cè)電路及其檢測(cè)方法，該電路包括控制單元、第一檢測(cè)單元、第二檢測(cè)單元、充電MOS管Q2及放電MOS管Q1；控制單元分別與第一檢測(cè)單元、第二檢測(cè)單元、充電MOS管Q2及放電MOS管Q1連接；控制單元，用于控制充電MOS管Q2及放電MOS管Q1的閉合或斷開，并根據(jù)第一檢測(cè)單元和第二檢測(cè)單元輸入的信號(hào)進(jìn)行分析，反饋分析結(jié)果至指定設(shè)備；第一檢測(cè)單元，用于當(dāng)控制單元控制充電MOS管Q2斷開，檢測(cè)充電MOS管Q2的集電極電壓信號(hào)；第二檢測(cè)單元，用于當(dāng)控制單元控制放電MOS管Q1斷開時(shí)，檢測(cè)放電MOS管Q1的集電極電壓信號(hào)。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確且低成本的檢測(cè)充放電MOS管的黏連情況。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及充放電電路，更具體地說是指充放電MOS管的黏連檢測(cè)電路及其檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

在電池的充放電過程中均會(huì)采用保護(hù)板，保護(hù)板的功能本質(zhì)上是通過主控回路上的放電MOS管和充電MOS管的開啟和關(guān)閉來實(shí)現(xiàn)的。

電池在使用過程中總是會(huì)有過流和短路的狀態(tài)出現(xiàn)，電池包含板會(huì)根據(jù)采樣電流來進(jìn)行邏輯控制。檢測(cè)到過流時(shí)，充電時(shí)關(guān)閉充電MOS管，放電時(shí)關(guān)閉放電MOS管；檢測(cè)到短路時(shí)，同時(shí)關(guān)閉充電MOS管和放電MOS管。但是由于這種狀態(tài)下的電流都是比較大的，MOS管有可能損壞，損壞的模式既可能是斷開狀態(tài)，也可能是導(dǎo)通狀態(tài)，如果缺少黏連檢測(cè)功能，就不能識(shí)別出當(dāng)前MOS管的情況，如果MOS管是斷開的損壞模式，那么電池不能進(jìn)行輸出，這個(gè)還是比較安全的；但是如果MOS管是短路的損壞模式。當(dāng)有較大電流需要保護(hù)時(shí)控制系統(tǒng)是不能控制MOS管斷開的，這樣就會(huì)帶來極大的炸管風(fēng)險(xiǎn)，一定程度上可能損傷電池。

黏連的原因是因?yàn)樨?fù)載較大，電流大，在斷開時(shí)產(chǎn)生的電壓高，足以產(chǎn)生一定的熱量，導(dǎo)致接觸點(diǎn)融化，然后快速冷卻后導(dǎo)致觸點(diǎn)不能完全斷開，發(fā)生黏連狀態(tài)，但是目前的黏連檢測(cè)均是使用在繼電器上，并沒有使用在MOS管上的黏連檢測(cè)。

因此，有必要設(shè)計(jì)一種新的電路，實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確且低成本的檢測(cè)充電MOS管以及放電MOS管的黏連情況。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供充放電MOS管的黏連檢測(cè)電路及其檢測(cè)方法。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：充放電MOS管的黏連檢測(cè)電路，包括控制單元、第一檢測(cè)單元、第二檢測(cè)單元、充電MOS管Q2以及放電MOS管Q1；所述控制單元分別與所述第一檢測(cè)單元、第二檢測(cè)單元、充電MOS管Q2以及放電MOS管Q1連接；其中，所述控制單元，用于控制充電MOS管Q2以及放電MOS管Q1的閉合或斷開，并根據(jù)第一檢測(cè)單元和第二檢測(cè)單元輸入的信號(hào)進(jìn)行分析，并反饋分析結(jié)果至指定設(shè)備；所述第一檢測(cè)單元，用于當(dāng)所述控制單元控制充電MOS管Q2斷開時(shí)，檢測(cè)充電MOS管Q2的集電極電壓信號(hào)；所述第二檢測(cè)單元，用于當(dāng)所述控制單元控制放電MOS管Q1斷開時(shí)，檢測(cè)放電MOS管Q1的集電極電壓信號(hào)。

其進(jìn)一步技術(shù)方案為：還包括電源單元，所述電源單元分別與所述第一檢測(cè)單元以及所述第二檢測(cè)單元連接。

其進(jìn)一步技術(shù)方案為：所述第一檢測(cè)單元包括三極管Q8，所述控制單元分別與所述三極管Q8的基極以及所述充電MOS管Q2的漏極連接，所述三極管Q8的基極與所述充電MOS管Q2的漏極連接，所述三極管Q8的發(fā)射極與所述充電MOS管Q2的源極連接，所述三極管Q8的集電極與所述電源單元連接，所述三極管Q8的集電極與所述控制單元連接。

其進(jìn)一步技術(shù)方案為：所述三極管Q8的基極與所述控制單元之間連接有偏置電阻R3，所述控制單元與所述偏置電阻R3之間還連接有電阻R6，所述電阻R6與所述充電MOS管Q2的漏極之間還連接有防反接二極管D6，所述三極管Q8的發(fā)射極連接有防反接二極管D5，所述防反接二極管D5的負(fù)極與所述充電MOS管Q2的源極連接。

其進(jìn)一步技術(shù)方案為：所述三極管Q8的集電極與所述電源單元之間連接有電阻R4，所述控制單元的輸入端腳連接于所述電阻R4與所述三極管Q8的集電極之間。