[發(fā)明專利]測試裝置

在審

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• 申請日: 2020-07-21
• 公開（公告）號: CN111913471A
• 公開（公告）日: 2020-11-10
• 發(fā)明（設計）人: 劉斌;劉龍超;李建強;霍風祥
• 申請（專利權）人: 北京京瀚禹電子工程技術有限公司
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02
• 代理公司: 北京細軟智谷知識產權代理有限責任公司 11471
• 代理人: 譚承世

本發(fā)明涉及一種測試裝置，包括測試主板，測試主板上設有主處理器和測試座，主處理器與測試座連接；測試座用于放置待測芯片；主處理器包括：第一ADC采集器、第一DAC轉換器、第一定時器Timer、第二ADC采集器以及第一USART通信接口；測試座包括：第三ADC采集器、第二DAC轉換器、第二定時器Timer、PMW模塊以及第二USART通信接口；其中，第一ADC采集器與第二DAC轉換器連接，第一DAC轉換器與第三ADC采集器連接，第二ADC采集器與PMW模塊連接，第一USART通信接口與第二USART通信接口連接；本發(fā)明只需要對單片機進行一次測試就能夠驗證單片機的所有功能并進行顯示，更加的方便快捷。

技術領域

本發(fā)明屬于單片機測試技術領域，具體涉及一種測試裝置。

背景技術

伴隨著讓算機技術的不斷發(fā)展，單片機也得到了相應的發(fā)展，而且其應用的領域也得到更好的擴展。我們生活中廣泛使用的各種智能IC卡、數(shù)碼產品，工業(yè)自動化過程的實時控制和數(shù)據(jù)處理，以及軍備中涉及到的重要系統(tǒng)控制都離不開單片機。而為了確保單片機的質量和特性，經常需要對單片機進行測試，而對單片機進行現(xiàn)場測試較為復雜。

相關技術中，對單片機進行測試時，需要對單片機進行多次下載后測試不同的程序，單片機用機臺進行測試功能比較復雜，有些功能通過機臺無法直接測試出來。

發(fā)明內容

有鑒于此，本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術的不足，提供一種測試裝置，以解決現(xiàn)有技術中單片機測試時程序較為復雜的問題。

為實現(xiàn)以上目的，本發(fā)明采用如下技術方案：一種測試裝置，包括：測試主板，所述測試主板上設有主處理器和測試座，所述主處理器與測試座連接；所述測試座用于放置待測芯片；

所述主處理器包括：第一ADC采集器、第一DAC轉換器、第一定時器Timer、第二ADC采集器以及第一USART通信接口；

所述測試座包括：第三ADC采集器、第二DAC轉換器、第二定時器Timer、PMW模塊以及第二USART通信接口；

其中，所述第一ADC采集器與第二DAC轉換器連接，所述第一DAC轉換器與所述第三ADC采集器連接，所述第二ADC采集器與所述PMW模塊連接，所述第一USART通信接口與所述第二USART通信接口連接。

進一步的，所述測試座還包括：

CAN總線，與待測芯片中的控制器連接。

進一步的，所述測試座還包括：

SPI接口，與待測芯片的SPI引腳連接。

進一步的，所述測試座還包括：

IIC器件，與待測芯片的IIC引腳連接。

進一步的，所述主處理器還包括：

顯示屏，用于顯示測試結果。

進一步的，所述測試座還包括：

FMC連接器，所述FMC連接器一端與所述顯示屏連接，另一端與待測芯片的FMC接口連接。

進一步的，所述測試座還包括：

FLASH接口，與待測芯片的FLASH引腳連接。

進一步的，所述顯示屏設有：

紅色指示燈和綠色指示燈；

所述紅色指示燈用于顯示不合格，所述綠色指示燈用于顯示合格。

進一步的，所述主處理器采用STM32F427VIT6單片機；

所述待測芯片為STM32F427VIT6單片機。

進一步的，還包括：