[發明專利]測試裝置在審
| 申請號： | 202010715090.8 | 申請日： | 2020-07-21 |
| 公開（公告）號： | CN111913471A | 公開（公告）日： | 2020-11-10 |
| 發明（設計）人： | 劉斌;劉龍超;李建強;霍風祥 | 申請（專利權）人： | 北京京瀚禹電子工程技術有限公司 |
| 主分類號： | G05B23/02 | 分類號： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京細軟智谷知識產權代理有限責任公司 11471 | 代理人： | 譚承世 |
| 地址： | 102200 北京市昌平區沙河*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試 裝置 | ||
1.一種測試裝置，其特征在于，包括：測試主板，所述測試主板上設有主處理器和測試座，所述主處理器與測試座連接；所述測試座用于放置待測芯片；
所述主處理器包括：第一ADC采集器、第一DAC轉換器、第一定時器Timer、第二ADC采集器以及第一USART通信接口；
所述測試座包括：第三ADC采集器、第二DAC轉換器、第二定時器Timer、PMW模塊以及第二USART通信接口；
其中，所述第一ADC采集器與第二DAC轉換器連接，所述第一DAC轉換器與所述第三ADC采集器連接，所述第二ADC采集器與所述PMW模塊連接，所述第一USART通信接口與所述第二USART通信接口連接。
2.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試座還包括：
CAN總線，與待測芯片中的控制器連接。
3.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試座還包括：
SPI接口，與待測芯片的SPI引腳連接。
4.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試座還包括：
IIC器件，與待測芯片的IIC引腳連接。
5.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述主處理器還包括：
顯示屏，用于顯示測試結果。
6.根據權利要求5所述的測試裝置，其特征在于，所述測試座還包括：
FMC連接器，所述FMC連接器一端與所述顯示屏連接，另一端與待測芯片的FMC接口連接。
7.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試座還包括：
FLASH接口，與待測芯片的FLASH引腳連接。
8.根據權利要求5所述的測試裝置，其特征在于，所述顯示屏設有：
紅色指示燈和綠色指示燈；
所述紅色指示燈用于顯示不合格，所述綠色指示燈用于顯示合格。
9.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，
所述主處理器采用STM32F427VIT6單片機；
所述待測芯片為STM32F427VIT6單片機。
10.根據權利要求1至9任一項所述的測試裝置，其特征在于，還包括：
電源模塊，用于向所述測試裝置提供電能。
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