[發(fā)明專利]存儲(chǔ)器的測(cè)試的方法、裝置、電子設(shè)備和計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010701037.2
• 申請(qǐng)日: 2020-07-20
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111833959B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-08-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 郭子瑜
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京百度網(wǎng)訊科技有限公司;昆侖芯（北京）科技有限公司
• 主分類號(hào): G11C29/56
• 分類號(hào): G11C29/56
• 代理公司: 北京市金杜律師事務(wù)所 11256
• 代理人: 趙林琳;張翠玲

1.一種用于芯片的存儲(chǔ)器的測(cè)試的方法，其中所述芯片包括多個(gè)運(yùn)算模塊，所述運(yùn)算模塊包括至少一個(gè)運(yùn)算單元，所述運(yùn)算單元包括至少一個(gè)所述存儲(chǔ)器，所述方法包括：

針對(duì)所述至少一個(gè)運(yùn)算模塊中的第一運(yùn)算模塊，生成第一測(cè)試向量；以及

獨(dú)立于至少一個(gè)運(yùn)算模塊中的不同于所述第一運(yùn)算模塊的其他運(yùn)算模塊，利用所生成的第一測(cè)試向量，對(duì)所述第一運(yùn)算模塊執(zhí)行存儲(chǔ)器測(cè)試；

其中生成所述第一測(cè)試向量包括：

針對(duì)所述運(yùn)算模塊中的一個(gè)運(yùn)算單元，生成子測(cè)試向量；以及

通過(guò)將所述子測(cè)試向量在所述第一運(yùn)算模塊中的所有運(yùn)算單元之間重用，生成第一測(cè)試向量。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括：

如果所述其他運(yùn)算模塊中的第二運(yùn)算模塊與所述第一運(yùn)算模塊滿足第一準(zhǔn)則，則利用所述第一測(cè)試向量，對(duì)所述第二運(yùn)算模塊執(zhí)行存儲(chǔ)器測(cè)試；以及

如果所述其他運(yùn)算模塊中的所述第二運(yùn)算模塊與所述第一運(yùn)算模塊不滿足所述第一準(zhǔn)則，則針對(duì)所述第二運(yùn)算模塊，生成第二測(cè)試向量，并且獨(dú)立于至少一個(gè)運(yùn)算模塊中的其他運(yùn)算模塊，利用所生成的第二測(cè)試向量，對(duì)所述第二運(yùn)算模塊執(zhí)行存儲(chǔ)器測(cè)試，其中所述第二測(cè)試向量與所述第一測(cè)試向量不同。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中所述第一準(zhǔn)則為所述第二運(yùn)算模塊與所述第一運(yùn)算模塊具有相同的結(jié)構(gòu)或運(yùn)算功能。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括：

根據(jù)第二準(zhǔn)則，將所述運(yùn)算單元中的所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器劃分為至少一個(gè)組，

其中生成所述子測(cè)試向量包括：

針對(duì)所劃分的所述至少一個(gè)組中的每一個(gè)，分別生成各自的組測(cè)試向量；以及

基于所生成的組測(cè)試向量，生成所述子測(cè)試向量。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中根據(jù)所述第二準(zhǔn)則，將所述運(yùn)算單元中的所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器劃分為所述至少一個(gè)組包括：

根據(jù)所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器的位置和類型，將所述運(yùn)算單元中的所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器劃分為所述至少一個(gè)組。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中對(duì)所述第一運(yùn)算模塊執(zhí)行所述存儲(chǔ)器測(cè)試包括：

通過(guò)針對(duì)所述第一運(yùn)算模塊的所述至少一個(gè)運(yùn)算單元中的每個(gè)運(yùn)算單元執(zhí)行相應(yīng)的存儲(chǔ)器子測(cè)試，對(duì)所述第一運(yùn)算模塊執(zhí)行所述存儲(chǔ)器測(cè)試，其中不同的存儲(chǔ)器子測(cè)試之間通過(guò)并行地或串行地方式來(lái)被執(zhí)行。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，還包括：

根據(jù)第三準(zhǔn)則，將所述運(yùn)算單元中的所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器劃分為至少一個(gè)組，其中對(duì)所述每個(gè)運(yùn)算單元執(zhí)行所述相應(yīng)的存儲(chǔ)器子測(cè)試包括：

通過(guò)針對(duì)所劃分的至少一個(gè)組中的每個(gè)組執(zhí)行相應(yīng)的存儲(chǔ)器組測(cè)試，執(zhí)行所述存儲(chǔ)器子測(cè)試，其中不同的存儲(chǔ)器組測(cè)試之間通過(guò)并行地方式來(lái)被執(zhí)行。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中根據(jù)所述第三準(zhǔn)則，將所述運(yùn)算單元中的所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器劃分為所述至少一個(gè)組包括：

根據(jù)所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器的位置和類型，將所述運(yùn)算單元中的所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器劃分為所述至少一個(gè)組。

9.一種用于芯片的存儲(chǔ)器的測(cè)試的裝置，其中所述芯片包括多個(gè)運(yùn)算模塊，所述運(yùn)算模塊包括至少一個(gè)運(yùn)算單元，所述運(yùn)算單元包括至少一個(gè)所述存儲(chǔ)器，所述裝置包括：

第一測(cè)試向量生成模塊，被配置為針對(duì)所述至少一個(gè)運(yùn)算模塊中的第一運(yùn)算模塊，生成第一測(cè)試向量；以及

第一存儲(chǔ)器測(cè)試模塊，被配置為獨(dú)立于至少一個(gè)運(yùn)算模塊中的不同于所述第一運(yùn)算模塊的其他運(yùn)算模塊，利用所生成的第一測(cè)試向量，對(duì)所述第一運(yùn)算模塊執(zhí)行存儲(chǔ)器測(cè)試；

其中所述第一測(cè)試向量生成模塊包括：

子測(cè)試向量生成模塊，被配置為針對(duì)所述運(yùn)算模塊中的一個(gè)運(yùn)算單元，生成子測(cè)試向量；以及

子測(cè)試向量重用模塊，被配置為通過(guò)將所述子測(cè)試向量在所述第一運(yùn)算模塊中的所有運(yùn)算單元之間重用，生成第一測(cè)試向量。