[發明專利]一種可分辨碳同位素的增強型激光誘導擊穿光譜儀

在審

• 申請號: 202010698960.5
• 申請日: 2020-07-20
• 公開（公告）號: CN111912833A
• 公開（公告）日: 2020-11-10
• 發明（設計）人: 孫嶸;郭偉
• 申請（專利權）人: 蘇州星帆華鐳光電科技有限公司
• 主分類號: G01N21/71
• 分類號: G01N21/71;G01N21/01;H05K7/20;B01D46/00
• 代理公司: 南京天華專利代理有限責任公司 32218
• 代理人: 夏平

本發明公開了一種可分辨碳同位素的增強型激光誘導擊穿光譜儀，包括光腔管，抬動桿，第一衰蕩反射鏡，光線聚焦反射鏡，第一螺紋孔，可拆卸維護蓋結構，可多層過濾通風箱結構，可套接頂緊固定座結構，激光器，第一探測管，第一探測器，第二探測管和第二探測器，所述的抬動桿分別螺栓連接在光腔管的上端左右兩側中間位置。本發明固定蓋，第二衰蕩反射鏡，光腔管，抬動桿和第一衰蕩反射鏡的設置，有利于在工作中旋轉固定蓋，進行固定蓋拆卸工作，方便在工作中對光腔管內部的設備進行維護和清理工作；支撐座，套接孔，連接座和光腔管的設置，有利于在工作中進行光腔管固定和安裝工作，方便在使用的過程中進行固定工作。

技術領域

本發明屬于光譜儀設備技術領域，尤其涉及一種可分辨碳同位素的增強型激光誘導擊穿光譜儀。

背景技術

激光誘導擊穿光譜是一種激光燒蝕光譜分析技術，激光聚焦在測試位點，當激光脈沖的能量密度大于擊穿閾值時，即可產生等離子體。基于這種特殊的等離子體剝蝕技術，通常在原子發射光譜技術中分別獨立的取樣、原子化、激發三個步驟均可由脈沖激光激發源一次實現。等離子體能量衰退過程中產生連續的軔致輻射以及內部元素的離子發射線，通過光纖光譜儀采集光譜發射信號，分析譜圖中元素對應的特征峰強度即可以用于樣品的定性以及定量分析，光腔衰蕩光譜技術是近幾年迅速發展起來的一種吸收光譜檢測技術。

但是現有的光譜檢測技術還存在著使用的過程中不方便進行維護清理工作，不方便在使用的過程中進行安裝以及不方便在工作中進行通風降溫的問題。

因此，發明一種可分辨碳同位素的增強型激光誘導擊穿光譜儀顯得非常必要。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是：提供一種可分辨碳同位素的增強型激光誘導擊穿光譜儀，以解決現有的光譜檢測技術存在著使用的過程中不方便進行維護清理工作，不方便在使用的過程中進行安裝以及不方便在工作中進行通風降溫的問題。

為了解決上述技術問題，本發明采用的技術方案為：一種可分辨碳同位素的增強型激光誘導擊穿光譜儀，包括光腔管，抬動桿，第一衰蕩反射鏡，光線聚焦反射鏡，第一螺紋孔，可拆卸維護蓋結構，可多層過濾通風箱結構，可套接頂緊固定座結構，激光器，第一探測管，第一探測器，第二探測管和第二探測器，所述的抬動桿分別螺栓連接在光腔管的上端左右兩側中間位置；所述的第一衰蕩反射鏡螺栓連接在光腔管的右側內壁中間位置；所述的光線聚焦反射鏡螺栓連接在光腔管的內部底端中間位置；所述的第一螺紋孔開設在光腔管的下端左側內部中間位置；所述的可拆卸維護蓋結構安裝在光腔管的左側外壁；所述的可多層過濾通風箱結構安裝在第一螺紋孔的下側內部中間位置；所述的可套接頂緊固定座結構分別安裝在光腔管的外壁左右兩側；所述的激光器安裝在可拆卸維護蓋結構的左側；所述的第一探測管螺紋連接在光腔管的上端中間位置；所述的第一探測器螺紋連接在第一探測管的上側內部中間位置；所述的第二探測管螺紋連接在光腔管的右側上部；所述的第二探測器螺紋連接在第二探測管的右側內部中間位置；所述的可拆卸維護蓋結構包括固定蓋，第二衰蕩反射鏡，第二螺紋孔，連接管和凸透鏡，所述的第二衰蕩反射鏡螺栓連接在固定蓋的右側中間位置；所述的第二螺紋孔開設在固定蓋的下端內部中間位置；所述的連接管的右側螺紋連接在第二螺紋孔的左側內部中間位置；所述的凸透鏡鑲嵌在連接管的內壁右側。

優選的，所述的可多層過濾通風箱結構包括通風箱，螺紋管，第一過濾網，固定板，降溫扇組件和第二過濾網，所述的螺紋管的下端螺紋連接在通風箱的上側內部中間位置；所述的第一過濾網分別螺釘連接在螺紋管的內壁中間位置；所述的固定板分別螺栓連接在通風箱的左右兩側內部中間位置；所述的降溫扇組件螺栓連接在固定板之間；所述的第二過濾網分別螺釘連接在通風箱的內壁下部。