[發明專利]一種可分辨碳同位素的增強型激光誘導擊穿光譜儀

在審

• 申請號: 202010698960.5
• 申請日: 2020-07-20
• 公開（公告）號: CN111912833A
• 公開（公告）日: 2020-11-10
• 發明（設計）人: 孫嶸;郭偉
• 申請（專利權）人: 蘇州星帆華鐳光電科技有限公司
• 主分類號: G01N21/71
• 分類號: G01N21/71;G01N21/01;H05K7/20;B01D46/00
• 代理公司: 南京天華專利代理有限責任公司 32218
• 代理人: 夏平

1.一種可分辨碳同位素的增強型激光誘導擊穿光譜儀，其特征在于，該可分辨碳同位素的增強型激光誘導擊穿光譜儀，包括光腔管(1)，抬動桿(2)，第一衰蕩反射鏡(3)，光線聚焦反射鏡(4)，第一螺紋孔(5)，可拆卸維護蓋結構(6)，可多層過濾通風箱結構(7)，可套接頂緊固定座結構(8)，激光器(9)，第一探測管(10)，第一探測器(11)，第二探測管(12)和第二探測器(13)，所述的抬動桿(2)分別螺栓連接在光腔管(1)的上端左右兩側中間位置；所述的第一衰蕩反射鏡(3)螺栓連接在光腔管(1)的右側內壁中間位置；所述的光線聚焦反射鏡(4)螺栓連接在光腔管(1)的內部底端中間位置；所述的第一螺紋孔(5)開設在光腔管(1)的下端左側內部中間位置；所述的可拆卸維護蓋結構(6)安裝在光腔管(1)的左側外壁；所述的可多層過濾通風箱結構(7)安裝在第一螺紋孔(5)的下側內部中間位置；所述的可套接頂緊固定座結構(8)分別安裝在光腔管(1)的外壁左右兩側；所述的激光器(9)安裝在可拆卸維護蓋結構(6)的左側；所述的第一探測管(10)螺紋連接在光腔管(1)的上端中間位置；所述的第一探測器(11)螺紋連接在第一探測管(10)的上側內部中間位置；所述的第二探測管(12)螺紋連接在光腔管(1)的右側上部；所述的第二探測器(13)螺紋連接在第二探測管(12)的右側內部中間位置；所述的可拆卸維護蓋結構(6)包括固定蓋(61)，第二衰蕩反射鏡(62)，第二螺紋孔(63)，連接管(64)和凸透鏡(65)，所述的第二衰蕩反射鏡(62)螺栓連接在固定蓋(61)的右側中間位置；所述的第二螺紋孔(63)開設在固定蓋(61)的下端內部中間位置；所述的連接管(64)的右側螺紋連接在第二螺紋孔(63)的左側內部中間位置；所述的凸透鏡(65)鑲嵌在連接管(64)的內壁右側。

2.如權利要求1所述的可分辨碳同位素的增強型激光誘導擊穿光譜儀，其特征在于，所述的可多層過濾通風箱結構(7)包括通風箱(71)，螺紋管(72)，第一過濾網(73)，固定板(74)，降溫扇組件(75)和第二過濾網(76)，所述的螺紋管(72)的下端螺紋連接在通風箱(71)的上側內部中間位置；所述的第一過濾網(73)分別螺釘連接在螺紋管(72)的內壁中間位置；所述的固定板(74)分別螺栓連接在通風箱(71)的左右兩側內部中間位置；所述的降溫扇組件(75)螺栓連接在固定板(74)之間；所述的第二過濾網(76)分別螺釘連接在通風箱(71)的內壁下部。

3.如權利要求1所述的可分辨碳同位素的增強型激光誘導擊穿光譜儀，其特征在于，所述的可套接頂緊固定座結構(8)包括支撐座(81)，套接孔(82)，固定槽(83)，連接座(84)，頂緊彈簧(85)，T型頂緊座(86)和頂緊輥(87)，所述的套接孔(82)開設在支撐座(81)的內部中間位置；所述的固定槽(83)開設在套接孔(82)的內部底端中間位置；所述的支撐座(81)的下端焊接在連接座(84)的上端中間；所述的頂緊彈簧(85)的下端螺栓連接在固定槽(83)的內部底端中間位置；所述的T型頂緊座(86)的下端螺栓連接在頂緊彈簧(85)的上側內部中間位置；所述的頂緊輥(87)分別軸接在T型頂緊座(86)的左右兩側內部中間位置。

4.如權利要求1所述的可分辨碳同位素的增強型激光誘導擊穿光譜儀，其特征在于，所述的抬動桿(2)采用倒U型的不銹鋼桿；所述的光腔管(1)分別與第一探測管(10)和第二探測管(12)連通設置。

5.如權利要求1所述的可分辨碳同位素的增強型激光誘導擊穿光譜儀，其特征在于，所述的固定蓋(61)的左側內壁膠接有硅膠墊；所述的第二螺紋孔(63)設置在第二衰蕩反射鏡(62)的下端中間位置。

6.如權利要求1所述的可分辨碳同位素的增強型激光誘導擊穿光譜儀，其特征在于，所述的固定蓋(61)螺紋連接在光腔管(1)的左側外壁；所述的連接管(64)和光腔管(1)連通設置；所述的激光器(9)螺紋連接在連接管(64)的左側內部中間位置。