[發明專利]位姿檢測方法及系統

有效

• 申請號: 202010686564.0
• 申請日: 2020-07-16
• 公開（公告）號: CN111906043B
• 公開（公告）日: 2022-03-29
• 發明（設計）人: 彭明;楊延竹;柳俊先;劉春燕;于波;張華;尹程斌
• 申請（專利權）人: 深圳市格靈人工智能與機器人研究院有限公司;深圳市格靈人工智能與機器人研究院
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/10;B07C5/36;B07C5/02;H01L21/66
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 黃廣龍

1.位姿檢測方法，其特征在于，包括：

檢測待檢測元件并生成檢測信號；

通過所述檢測信號觸發二維檢測器件并對所述待檢測元件的位置信息、姿態信息進行檢測；

根據所述位置信息調整三維檢測器件的位置，以檢測所述待檢測元件的立體信息；

根據所述姿態信息、所述立體信息判斷所述待檢測元件是否為不良元件，并生成不良元件的位置信息；

根據所述不良元件的位置信息對所述不良元件進行剔除。

2.根據權利要求1所述的位姿檢測方法，其特征在于，還包括：

對所述待檢測元件進行檢測并生成第一平面點云數據；

根據所述第一平面點云數據提取平面矯正矩陣；

通過所述平面矯正矩陣對所述第一平面點云數據進行平面矯正并生成第二平面點云數據。

3.根據權利要求2所述的位姿檢測方法，其特征在于，還包括：

根據所述第二平面點云數據生成二值灰度圖像；

對所述二值灰度圖像進行區域劃分以生成若干單連通區域；

將若干所述單連通區域進行遍歷分析并生成每一個單連通區域的偏差值；

對所述偏差值與預設閾值進行比較以判斷所述待檢測元件是否為不良元件。

4.根據權利要求3所述的位姿檢測方法，其特征在于，所述預設閾值包括：

第一坐標誤差閾值、第二坐標誤差閾值、角度誤差閾值；

其中，所述第一坐標誤差閾值表示橫坐標下允許的誤差值，所述第二坐標誤差閾值表示縱坐標下允許的誤差值，所述角度誤差閾值表示Dice姿態允許的角度誤差值。

5.位姿檢測系統，其特征在于，包括：

觸發傳感器，用于檢測待檢測元件并生成檢測信號；

二維檢測器件，接收所述檢測信號并檢測所述待檢測元件的位置信息、姿態信息；

三維檢測器件，檢測所述待檢測元件的立體信息；

姿態分析器，用于根據所述姿態信息、所述立體信息判斷所述待檢測元件是否為不良元件，并生成所述不良元件的位置信息；

剔除裝置，根據所述不良元件的位置信息對所述不良元件進行剔除。

6.根據權利要求5所述的位姿檢測系統，其特征在于，所述二維檢測器件包括：

環形光源，用于提供照明光源；

二維相機，用于采集所述待檢測元件的位置信息、姿態信息。

7.根據權利要求5所述的位姿檢測系統，其特征在于，所述三維檢測器件包括：

激光模組，用于提供檢測光束，所述檢測光束照射至所述待檢測元件的表面并發生反射；三維相機，用于接收反射后的所述檢測光束；

支架，用于固定所述激光模組與所述三維相機的相對位置。

8.根據權利要求7所述的位姿檢測系統，其特征在于，所述三維檢測器件還包括：

第一軸向驅動裝置，用于驅動所述三維檢測器件沿第一軸向移動；

第二軸向驅動裝置，用于驅動所述三維檢測器件沿第二軸向移動；

編碼器，用于對所述待檢測器件進行同步數據掃描。

9.根據權利要求5所述的位姿檢測系統，其特征在于，所述剔除裝置包括：

機械臂，根據所述不良元件的位置信息對所述不良元件進行定位剔除。