[發明專利]一種半導體封裝結構及半導體封裝結構的制造方法在審
| 申請號: | 202010686205.5 | 申請日: | 2020-07-16 |
| 公開(公告)號: | CN111933595A | 公開(公告)日: | 2020-11-13 |
| 發明(設計)人: | 王琇如 | 申請(專利權)人: | 杰群電子科技(東莞)有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/473 | 分類號: | H01L23/473;H01L23/373;H01L21/48 |
| 代理公司: | 北京澤方譽航專利代理事務所(普通合伙) 11884 | 代理人: | 唐明磊 |
| 地址: | 523000 廣東省東莞*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 半導體 封裝 結構 制造 方法 | ||
1.一種半導體封裝結構,其特征在于,包括:
芯片載體(100);
芯片(200),其固定于所述芯片載體(100)的頂部;
封裝膠體(300),其包覆所述芯片(200)和所述芯片載體(100);
若干上散熱通道(410),其橫向地設置于所述半導體封裝結構內,且所述上散熱通道(410)位于所述芯片(200)的上方;
若干下散熱通道(110),其橫向地設置于所述芯片載體(100)內;
豎向散熱通道(500),其豎向地設置于所述半導體封裝結構內,所述豎向散熱通道(500)的至少一部分位于所述封裝膠體(300)內,所述豎向散熱通道(500)兩端的開口與外部連通;
上開口(420),其設于所述半導體封裝結構的側壁,所述上散熱通道(410)通過所述上開口(420)與外部連通;
下開口(120),其設于所述半導體封裝結構的側壁,所述下散熱通道(110)通過所述下開口(120)與外部連通。
2.根據權利要求1所述的半導體封裝結構,其特征在于,還包括金屬框(600),所述金屬框(600)固定于所述封裝膠體(300)的頂部,若干所述上散熱通道(410)設于所述金屬框(600)內。
3.根據權利要求1所述的半導體封裝結構,其特征在于,所述豎向散熱通道(500)的數量至少為兩個。
4.根據權利要求3所述的半導體封裝結構,其特征在于,所述芯片(200)位于若干所述豎向散熱通道(500)之間。
5.根據權利要求1所述的半導體封裝結構,其特征在于,在所述半導體封裝結構的高度方向上,所述芯片(200)的正下方設有所述下散熱通道(110),所述芯片(200)的正上方設有所述上散熱通道(410)。
6.根據權利要求1所述的半導體封裝結構,其特征在于,所述上散熱通道(410)和/或所述下散熱通道(110)和/或所述豎向散熱通道(500)的通道壁面上設有散熱層,所述散熱層為石墨烯散熱層或碳化物散熱層。
7.根據權利要求2所述的半導體封裝結構,其特征在于,還包括豎向金屬管(800);所述豎向金屬管(800)貫穿所述芯片載體(100)、所述封裝膠體(300)和所述金屬框(600),所述豎向金屬管(800)的內部通道為所述豎向散熱通道(500)。
8.根據權利要求7所述的半導體封裝結構,其特征在于,所述豎向金屬管(800)的內壁設有擾流結構(900)。
9.根據權利要求1-6任一項所述的半導體封裝結構,其特征在于,若干所述上開口(420)和若干所述下開口(120)均位于所述半導體封裝結構的同一側壁上。
10.一種半導體封裝結構的制造方法,其特征在于,包括以下步驟:
芯片載體(100)提供步驟:提供芯片載體(100),所述芯片載體(100)的內部具有橫向設置的下散熱通道(110),所述下散熱通道(110)的兩端與外部連通;所述芯片載體(100)還設有第一豎向通孔;
芯片(200)結合步驟:提供芯片載體(100)和芯片(200),采用結合材料將所述芯片(200)固定于所述芯片載體(100)的載芯區;
金屬側框結合步驟:提供金屬側框,所述金屬側框包括相互連接的豎框和橫框,所述橫框上具有第二豎向通孔及若干橫向地設置的上散熱通道(410);采用結合材料將所述豎框圍接于所述芯片載體(100)的周向側壁,以在所述豎框、所述芯片載體(100)的頂部與所述橫框之間圍成可容納注塑材料的注塑槽,所述注塑槽為灌膠空間;
豎向金屬管(800)安裝步驟:將豎向金屬管(800)的一端插設于所述第一豎向通孔內,另一端插設于所述第二豎向通孔內;
注塑步驟:往所述注塑槽內注入封裝膠材,注入的封裝膠材的最大高度低于或齊平于所述豎向金屬管(800)的頂端,封裝膠固化成型后形成封裝體。
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