[發明專利]一種基于核磁共振測井的儲層非均質性評價方法及裝置

有效

• 申請號: 202010680402.6
• 申請日: 2020-07-15
• 公開（公告）號: CN111827968B
• 公開（公告）日: 2023-08-18
• 發明（設計）人: 覃瑩瑤;張宮;何宗斌
• 申請（專利權）人: 長江大學
• 主分類號: E21B47/00
• 分類號: E21B47/00;E21B47/13;E21B49/00
• 代理公司: 武漢智嘉聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 42231
• 代理人: 易賢衛

1.一種基于核磁共振測井的儲層非均質性評價方法，其特征在于，包括以下步驟：通過核磁共振測井，使磁體在井眼和地層中形成梯度磁場，獲取徑向剖面上的核磁共振信號；根據所述核磁共振信號獲取徑向上不同探測深度的回波信號，對所述不同探測深度的回波信號進行反演擬合，得到不同探測深度的核磁橫向弛豫時間分布譜；根據所述不同探測深度的核磁橫向弛豫時間分布譜，得到不同探測深度對應的孔隙度值以測定地層中該深度位置的孔隙度在徑向空間的分布情況，根據所述孔隙度值獲取孔隙度值的變異系數，以所述孔隙度值的變異系數評價儲層非均質性，所述獲取徑向剖面上的核磁共振信號，具體包括，在井筒中某一深度位置發射多種不同頻率的信號，測量地層孔隙流體中氫核的核磁共振信號，得到該深度位置的徑向剖面上不同探測深度的核磁共振信號，對所述不同探測深度的回波信號進行反演擬合，得到不同探測深度的核磁橫向弛豫時間分布譜，具體包括，利用奇異值分解對所述不同探測深度的回波信號進行反演擬合，得到不同探測深度的核磁橫向弛豫時間分布譜。

2.根據權利要求?1所述的基于核磁共振測井的儲層非均質性評價方法，其特征在于，根據所述不同探測深度的核磁橫向弛豫時間分布譜，得到不同探測深度對應的孔隙度值，具體包括，對所述不同探測深度的核磁橫向弛豫時間分布譜進行面積積分，得到不同探測深度對應的孔隙度值。

3.根據權利要求2所述的基于核磁共振測井的儲層非均質性評價方法，其特征在于，對所述不同探測深度的核磁橫向弛豫時間分布譜進行面積積分，得到不同探測深度對應的孔隙度值，具體包括，利用公式

對所述不同探測深度的核磁橫向弛豫時間分布譜進行面積積分，得到不同探測深度對應的孔隙度值，其中，Φm為孔隙度值，T2_max為核磁橫向弛豫時間分布譜布點最大值，T2_min為核磁橫向弛豫時間分布譜布點最小值，T2為核磁橫向弛豫時間，f?(T2)為核磁橫向弛豫時間分布。

4.根據權利要求?1所述的基于核磁共振測井的儲層非均質性評價方法，其特征在于，根據所述孔隙度值獲取孔隙度值的變異系數，具體包括，利用變異系數公式獲取孔隙度值的變異系數，其中，變異系數公式為，N?為不同探測深度得到的孔隙度值的數量，xi?為第?i?個探測深度的孔隙度值乘以?100?的數值，?μ?=?，i=1?，2，…，N?，V?為孔隙度值的變異系數。

5.根據權利要求?1?所述的基于核磁共振測井的儲層非均質性評價方法，其特征在于，以所述孔隙度值的變異系數評價儲層非均質性，具體包括，所述孔隙度值的變異系數越小，則儲層孔隙度差異越小，儲層均質程度越高，所述孔隙度值的變異系數越大，則儲層孔隙度差異越大，儲層均質程度越低。

6.一種基于核磁共振測井的儲層非均質性評價裝置，其特征在于，包括處理器以及存儲器，?所述存儲器上存儲有計算機程序，所述計算機程序被所述處理器執行時，實現如權利要求?1-5任一所述的基于核磁共振測井的儲層非均質性評價方法。

7.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機該程序被處理器執行時，實現如權利要求1-5任一所述的基于核磁共振測井的儲層非均質性評價方法。