[發明專利]一種基于核磁共振測井的儲層非均質性評價方法及裝置有效
| 申請號: | 202010680402.6 | 申請日: | 2020-07-15 |
| 公開(公告)號: | CN111827968B | 公開(公告)日: | 2023-08-18 |
| 發明(設計)人: | 覃瑩瑤;張宮;何宗斌 | 申請(專利權)人: | 長江大學 |
| 主分類號: | E21B47/00 | 分類號: | E21B47/00;E21B47/13;E21B49/00 |
| 代理公司: | 武漢智嘉聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 42231 | 代理人: | 易賢衛 |
| 地址: | 430100*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 核磁共振 測井 儲層非均質性 評價 方法 裝置 | ||
本發明公開一種基于核磁共振測井的儲層非均質性評價方法、裝置及計算機可讀存儲介質,屬于儲層評價技術領域,解決了現有技術中對儲層非均質性評價精度較低的技術問題。一種基于核磁共振測井的儲層非均質性評價方法,包括以下步驟:通過核磁共振測井,使磁體在井眼和地層中形成梯度磁場,獲取徑向剖面上的核磁共振信號;根據所述核磁共振信號獲取不同探測深度的回波信號,對所述回波信號進行反演擬合,得到核磁橫向弛豫時間分布譜;根據所述核磁橫向弛豫時間分布譜,得到不同探測深度對應的孔隙度值,根據所述孔隙度值獲取孔隙度值的變異系數,以所述孔隙度值的變異系數評價儲層非均質性。本發明所述方法提高了對儲層非均質性評價的精度。
技術領域
本發明涉及儲層評價技術領域,尤其是涉及一種基于核磁共振測井的儲層非均質性評價方法、裝置及計算機可讀存儲介質。
背景技術
儲層非均質性是指儲層的空間分布和內部的各種屬性存在極不均勻變化的屬性;在石油勘探開發中,儲層非均質性是油藏描述和表征的核心內容,將直接影響到儲層中油、氣、水的分布及開發效果,所以對儲層的非均質性進行分析是很有必要的。
目前識別儲層非均質性的方法主要包括綜合地質分析方法、儲層地質建模法和實驗室分析法等。綜合地質分析法主要利用滲透率變異參數等來綜合分析儲層非均質性;儲層地質建模法利用地質統計學法,根據已知數據實現對油氣非均質性的表征和刻畫;實驗室分析法通過巖心薄片、掃描電鏡及壓汞識別等方法評價儲層非均質性,主要是對儲層微觀非均質性進行研究。
然而,綜合地質分析方法和儲層地質建模法的孔隙度、滲透率等資料來源于常規測井資料,精度較低,而且這兩種方法僅能從宏觀角度識別儲層非均質性;實驗室識別法所用的巖心較少且零散,實驗室識別法具有很大的局限性,無法全面、連續的對儲層進行非均質性評價。
發明內容
有鑒于此,本發明提供了一種基于核磁共振測井的儲層非均質性分析方法,以解決現有技術中對儲層非均質性評價精度較低的技術問題。
一方面,本發明提供了一種基于核磁共振測井的儲層非均質性評價方法,包括以下步驟:
通過核磁共振測井,使磁體在井眼和地層中形成梯度磁場,獲取徑向剖面上的核磁共振信號;
根據所述核磁共振信號獲取不同探測深度的回波信號,對所述不同探測深度的回波信號進行反演擬合,得到不同探測深度的核磁橫向弛豫時間分布譜;
根據所述不同探測深度的核磁橫向弛豫時間分布譜,得到不同探測深度對應的孔隙度值,根據所述孔隙度值獲取孔隙度值的變異系數,以所述孔隙度值的變異系數評價儲層非均質性。
進一步地,所述獲取徑向剖面上的核磁共振信號,具體包括,發射多種不同頻率的信號,測量地層孔隙流體中氫核的核磁共振信號,得到徑向剖面上不同探測深度的核磁共振信號。
進一步地,對所述回波信號進行反演擬合,得到核磁橫向弛豫時間分布譜,具體包括,對所述不同探測深度的回波信號進行反演擬合,得到不同探測深度的核磁橫向弛豫時間分布譜,具體包括,利用奇異值分解對所述不同探測深度的回波信號進行反演擬合,得到不同探測深度的核磁橫向弛豫時間分布譜。
進一步地,根據所述不同探測深度的核磁橫向弛豫時間分布譜,得到不同探測深度對應的孔隙度值,具體包括,對所述不同探測深度的核磁橫向弛豫時間分布譜進行面積積分,得到不同探測深度對應的孔隙度值。
進一步地,對所述不同探測深度的核磁橫向弛豫時間分布譜進行面積積分,得到不同探測深度對應的孔隙度值,具體包括,利用公式
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