[發(fā)明專利]陣列基板及其制備方法、顯示裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010663090.8 | 申請(qǐng)日: | 2020-07-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111682034A | 公開(公告)日: | 2020-09-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙舒寧 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市華星光電半導(dǎo)體顯示技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/12 | 分類號(hào): | H01L27/12;H01L21/77;G02F1/1362 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570 | 代理人: | 王芳芳 |
| 地址: | 518132 廣東省深*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 陣列 及其 制備 方法 顯示裝置 | ||
本發(fā)明提供了一種陣列基板及其制備方法、顯示裝置。所述陣列基板包括基板、有源層、柵極絕緣層、導(dǎo)體化作用層、介電層以及源漏極層。所述導(dǎo)體化作用層設(shè)于所述基板上并覆蓋所述有源層、所述柵極絕緣層以及所述柵極層。所述導(dǎo)體化作用層中包含活性金屬。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示設(shè)備領(lǐng)域,特別是一種陣列基板及其制備方法、顯示裝置。
背景技術(shù)
隨著顯示科技的進(jìn)步,薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD)由于具有輕、薄、低輻射以及體積小而不占空間的優(yōu)勢(shì),目前已成為顯示器市場(chǎng)的主力產(chǎn)品,為應(yīng)液晶顯示產(chǎn)品的快速發(fā)展,液晶面板廠商的產(chǎn)業(yè)競(jìng)爭(zhēng)日增。如何提升薄膜晶體管的效能、可靠性與降低制作成本,皆為重要的發(fā)展目標(biāo)。
與目前在液晶顯示器有源驅(qū)動(dòng)矩陣中廣泛采用的硅TFT相比,氧化物半導(dǎo)體TFT具有如下優(yōu)勢(shì):(1)場(chǎng)效應(yīng)遷移率較高;(2)開關(guān)比高;(3)制備工藝溫度低;(4)可以制作大面積非晶薄膜,均勻性好,具有良好一致的電學(xué)特性;(5)受可見光影響小,比非晶硅薄膜晶體管穩(wěn)定;(6)可以制作成透明器件。在平板顯示領(lǐng)域,氧化物TFT技術(shù)幾乎滿足包括AMOLED驅(qū)動(dòng)、快速超大屏幕液晶顯示、3D顯示等諸多顯示模式的所有要求。在柔性顯示方面,襯底材料不能承受高溫,而氧化物TFT的制備工藝溫度低,與柔性襯底兼容,因而氧化物TFT具備較大優(yōu)勢(shì)。
新材料IGZO的問世很好得解決了傳統(tǒng)氫化非晶硅的缺點(diǎn)。但是在IGZO TFT的制備過程中,多采用氦或氬的等離子體轟擊IGZO進(jìn)行導(dǎo)體化,待轟擊后,隨著后段制程的退火,導(dǎo)體化區(qū)域會(huì)與ILD中氧結(jié)合,從而導(dǎo)致IGZO的電阻增加,影響顯示面板的性能。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種陣列基板及其制備方法、顯示裝置,以解決現(xiàn)有技術(shù)中IGZO的導(dǎo)體化區(qū)域會(huì)與ILD中氧結(jié)合,從而導(dǎo)致IGZO的電阻增加的問題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供一種陣列基板,所述陣列基板包括基板、有源層、柵極絕緣層、導(dǎo)體化作用層、介電層以及源漏極層。所述有源層設(shè)于所述基板上,其包括溝道區(qū)域和連接溝道區(qū)域的導(dǎo)體化區(qū)域。所述柵極絕緣層設(shè)于所述有源層上。所述柵極層設(shè)于所述柵極絕緣層上。所述導(dǎo)體化作用層設(shè)于所述基板上,并覆蓋所述有源層的導(dǎo)體化區(qū)域、所述柵極絕緣層以及所述柵極層。所述導(dǎo)體化作用層中具有活性金屬,所述活性金屬奪取所述導(dǎo)體化區(qū)域中的氧原子后形成金屬氧化物。所述介電層設(shè)于所述導(dǎo)體化作用層上。所述源漏極層設(shè)于所述介電層上并與所述有源層連接。
進(jìn)一步地,所述活性金屬包含鎂、鉿中的至少一種。
進(jìn)一步地,所述源漏極層包括源極走線和漏極走線。所述源極走線和所述漏極走線穿過所述介電層和所述導(dǎo)體化作用層,并分別與所述有源層的導(dǎo)體化區(qū)域連接。
進(jìn)一步地,所述有源層為氧化物半導(dǎo)體;所述氧化物半導(dǎo)體包含銦鎵鋅氧化物(IGZO)、銦鎵錫氧化物(IGTO)、銦錫鋅氧化物(IZTO)、銦鎵鋅錫氧化物(IGZTO)中的至少一種。
進(jìn)一步地,所述陣列基板還包括緩沖層以及遮光層。所述緩沖層設(shè)于所述基板與所述有源層之間。所述遮光層設(shè)于所述基板與所述緩沖層之間。所述源極走線的一端所述有源層連接,其另一端穿過所述介電層、所述導(dǎo)體化作用層和所述緩沖層與所述遮光層連接。
進(jìn)一步地,所述陣列基板還包括鈍化層。所述鈍化層設(shè)于所述介電層上,其具有一開口,所述開口對(duì)應(yīng)所述源極走線。
本發(fā)明中還提供一種陣列基板的制備方法,其包括以下步驟:
提供一基板。在所述基板上形成有源層。在所述有源層上形成柵極絕緣層。在所述柵極絕緣層上形成柵極層。在所述基板上形成導(dǎo)體化作用層。在所述導(dǎo)體化作用層上形成介電層。在所述介電層上形成源漏極層。
其中,所述導(dǎo)體化作用層中具有活性金屬,所述活性金屬奪取所述導(dǎo)體化區(qū)域中的氧原子后形成金屬氧化物。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
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