[發明專利]一種利用α徑跡蝕刻定位礦石中礦物的方法

在審

• 申請號: 202010650608.4
• 申請日: 2020-07-08
• 公開（公告）號: CN111781218A
• 公開（公告）日: 2020-10-16
• 發明（設計）人: 李光來;尹曉燕;宋炎;劉小波;蘇曄;龍偉康
• 申請（專利權）人: 東華理工大學
• 主分類號: G01N23/00
• 分類號: G01N23/00;G01N21/84
• 代理公司: 蘇州創元專利商標事務所有限公司 32103
• 代理人: 周敏

本發明涉及一種利用α徑跡蝕刻定位礦石中礦物的方法，步驟包括將礦石制備成探針片；去除相機膠片表面的薄膜；將相機膠片覆蓋在探針片上，然后進行輻照；取下相機膠片，然后用蝕刻溶液進行蝕刻，再進行清洗；在光學顯微鏡下尋找相機膠片上的蝕刻密集點并進行標記；在探針片的相應位置上進行標記，然后利用探測儀器對所述探針片上的標記處的礦物成分進行分析以確認礦物種類。該方法可以快速、高效地尋找和定位礦石中含放射性元素的礦物。

技術領域

本發明涉及一種利用α徑跡蝕刻定位礦石中礦物的方法。

背景技術

含鎢礦物承載了大量鎢的礦化信息，長久以來一直是鎢礦床成因研究的重要研究對象。黑鎢礦族礦物和白鎢礦族礦物為鎢礦床中最為重要的兩類礦石礦物，然而，含鎢礦物遠不止這兩類礦物。由于W與Nb、Ta、Ti、Sn等元素化學性質極為相似，他們之間常構成類質同象置換關系，從而，導致含鎢礦物種類十分豐富，典型的如：黑稀金礦、鈮鐵礦族礦物、易解石族礦物、騎田嶺礦、鈦鐵礦、金紅石、細晶石等。然而這類礦物含量通常極低，礦物顆粒又較小，還由于這類礦物不常見，僅利用光學顯微鏡難以準確辨認，而直接利用掃描電鏡、電子探針等手段既耗時又不經濟，不是尋找這種礦物的理想辦法，專門針對這類礦物的研究工作往往不容易開展。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種利用α徑跡蝕刻定位礦石中礦物的方法，該方法可以快速、高效地尋找和定位礦石中含放射性元素的礦物。

為解決上述技術問題，本發明采用如下技術方案：

本發明提供了一種利用α徑跡蝕刻定位礦石中礦物的方法，包括如下步驟：

(1)將礦石制備成探針片；

(2)去除相機膠片表面的薄膜；

(3)將步驟(2)處理后的相機膠片覆蓋在步驟(1)制得的探針片上，然后進行輻照；

(4)將步驟(3)輻照后的相機膠片自所述的探針片上取下，然后用蝕刻溶液進行蝕刻，再進行清洗；

(5)將步驟(4)清洗后的相機膠片在光學顯微鏡下尋找蝕刻密集點并進行標記；

(6)根據步驟(5)標記后的相機膠片上的蝕刻密集點在所述的探針片的相應位置上進行標記，然后利用探測儀器對所述探針片上的標記處的礦物成分進行分析以確認礦物種類。

優選地，所述的礦物為鈾的氧化物的質量含量≤1％的礦物、或釷的氧化物的質量含量≤1％的礦物、或鈾的氧化物和釷的氧化物的總質量含量≤1％的礦物。

本發明中，氧化物的質量含量指的是相應的元素換算成氧化物后的質量分數。

優選地，所述的礦物的結晶粒度為2～100微米，優選2～50微米，進一步優選2～20微米，尤其優選2～5微米。本發明的方法不僅能夠識別結晶粒度大的礦物，對于結晶粒度小的礦物，也能夠很好的識別和定位。

優選地，所述的礦物為富鎢礦物和/或含稀有稀土金屬礦物。

優選地，步驟(2)中可以采用堿液泡洗相機膠片，以去除所述的除去相機膠片的薄膜。

進一步優選地，步驟(2)中所述的堿液包括濃度為8～12％的NaOH溶液。

更優選地，步驟(2)中的相機膠片在堿液泡洗以后，未完全脫落的薄膜可在流動水下手動搓除，確保膠片表層薄膜完全脫落。

優選地，步驟(3)中將所述的步驟(2)處理后的相機膠片切割至略大于探針片大小。

優選地，步驟(3)中所述的輻照過程可以放置于無塵、干燥、常溫的環境下進行，以保證輻照過程不受外界環境干擾。

優選地，控制步驟(3)的輻照時間為25～30天。