[發明專利]一種檢測化學過濾器的去除效率的方法

有效

• 申請號: 202010639369.2
• 申請日: 2020-07-06
• 公開（公告）號: CN111665190B
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發明（設計）人: 楊政諭
• 申請（專利權）人: 亞翔系統集成科技（蘇州）股份有限公司
• 主分類號: G01N17/02
• 分類號: G01N17/02
• 代理公司: 蘇州翔遠專利代理事務所(普通合伙) 32251
• 代理人: 陸金星

1.一種檢測化學過濾器的去除效率的方法，其特征在于，包括如下步驟：

(1)?選擇待測化學過濾器，針對一種污染物，選擇適用的腐蝕試片和檢測機構，測量累積污染物濃度與腐蝕試片的電壓變化關系的標準曲線；

所述檢測機構包括由腐蝕試片A、腐蝕試片B、電阻R₁、電阻R₂組成的惠斯通電橋，且腐蝕試片A和電阻R₁組成一支路，腐蝕試片B和電阻R₂組成另一支路；該惠斯通電橋的檢流計為電壓表；所述電阻R₁、電阻R₂相等；所述腐蝕試片A設于所述待測化學過濾器的上游入口處，所述腐蝕試片B設于所述待測化學過濾器的下游出口處；

(2)?采用與上述步驟(1)相同的污染物和待測化學過濾器，測量累積污染物濃度與待測化學過濾器的去除效率關系的標準曲線；

(3)?根據上述步驟(1)和(2)的兩個標準曲線，計算出檢測機構中腐蝕試片的電壓變化和待測化學過濾器的去除效率的關系曲線；

(4)?根據不同潔凈場合的要求確定待測化學過濾器的去除效率值之后，從步驟(3)的關系曲線得到電壓變化量，將此電壓變化量作為所述待測化學過濾器使用壽命的報警值。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于：所述累積污染物濃度的單位為ppb·hr。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟(1)的檢測機構中：所述腐蝕試片A的阻值:電阻R₁的阻值10；所述腐蝕試片B的阻值:電阻R₂的阻值10000。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟(1)的檢測機構中：所述腐蝕試片A和腐蝕試片B的材料相同或不同，分別為鐵片、銅片、銀片或半導體。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟(1)的檢測機構中：所述腐蝕試片A和腐蝕試片B的阻值相等。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟(1)的檢測機構中：所述腐蝕試片A的阻值:腐蝕試片B的阻值0.02。

7.一種檢測化學過濾器的去除效率的方法，其特征在于，包括如下步驟：

(1)?選擇待測化學過濾器，針對一種污染物，選擇適用的檢測元件和檢測機構，測量累積污染物濃度與檢測元件的電壓變化關系的標準曲線；

所述檢測機構包括由檢測元件A、檢測元件B、電阻R₁、電阻R₂組成的惠斯通電橋，且檢測元件A和電阻R₁組成一支路，檢測元件B和電阻R₂組成另一支路；該惠斯通電橋的檢流計為電壓表；所述電阻R₁、電阻R₂相等；所述檢測元件A設于所述待測化學過濾器的上游入口處，所述檢測元件B設于所述待測化學過濾器的下游出口處；所述檢測元件A、檢測元件B相同或不同，分別是具有吸附氣體的金屬氧化物或/和半導體氧化物，其能夠吸附氣體之后產生導電性能變化；

(2)?采用與上述步驟(1)相同的污染物和待測化學過濾器，測量累積污染物濃度與待測化學過濾器的去除效率關系的標準曲線；

(3)?根據上述步驟(1)和(2)的兩個標準曲線，計算出檢測機構中檢測元件的電壓變化和待測化學過濾器的去除效率的關系曲線；

(4)?根據不同潔凈場合的要求確定待測化學過濾器的去除效率值之后，從步驟(3)的關系曲線得到電壓變化量，將此電壓變化量作為所述待測化學過濾器使用壽命的報警值。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于：所述累積污染物濃度的單位為ppb·hr。

9.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述步驟(1)的檢測機構中：所述檢測元件A、檢測元件B均為三維反蛋白石結構In₂O₃氣敏元件。

10.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述檢測元件A、檢測元件B的阻值相等。