[發明專利]芯片測試系統、測試方法、芯片的測試響應方法和芯片

有效

• 申請號: 202010636785.7
• 申請日: 2020-07-03
• 公開（公告）號: CN111929562B
• 公開（公告）日: 2023-06-23
• 發明（設計）人: 劉凱
• 申請（專利權）人: 上海美仁半導體有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 鄭朝然

本發明涉及集成電路技術領域，提供一種芯片測試系統、測試方法、芯片的測試響應方法和芯片，芯片測試系統包括：測試設備和切換裝置；其中，切換裝置包括第一至第三組通信接口；第一組通信接口與測試設備電連接，第二和第三組通信接口分別用于與被測芯片中的第一和第二組管腳電連接；切換裝置在第一連通態和第二連通態之間進行切換；其中，在第一連通態，被測芯片中除第一組管腳外的其他所有管腳作為被測管腳，第一組管腳作為通信管腳；在第二連通態，第一組管腳作為被測管腳，第二組管腳作為通信管腳。根據本發明實施例的芯片測試系統，無需在測試前對管腳分組，可以實現自動檢測，無需根據被測芯片的型號調試測試設備，通用性強。

技術領域

本發明涉及集成電路技術領域，尤其涉及一種芯片測試系統、測試方法、芯片的測試響應方法和芯片。

背景技術

管腳的輸入特性主要包括其對輸入的模擬電壓的跳變點。在測試管腳的輸入特性時，需要測試設備給被測管腳一個模擬電壓信號，然后從芯片中讀取該管腳的狀態，而從芯片中讀取管腳的狀態，勢必需要用到芯片的其他管腳。

當需要對芯片的所有管腳進行測試時，相關技術需要把被測芯片的管腳分組進行測試，分組測試占用測試流程，且對于不同的芯片，還需要人工對測試設備的程序進行修改，使得整個測試方法高度依賴測試人員的技術素養，測試效率低。

發明內容

本發明旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一。為此，本發明提出一種芯片測試系統，以實現通用的全自動化測試。

本發明還提出一種芯片管腳輸入特性的測試方法。

本發明還提出一種芯片的測試響應方法。

本發明還提出一種芯片。

本發明還提出一種家用電器。

根據本發明第一方面實施例的芯片測試系統，包括：測試設備和切換裝置；其中，所述切換裝置包括第一組通信接口、第二組通信接口和第三組通信接口；所述第一組通信接口與所述測試設備電連接，用于接收所述測試設備發送的指示被測管腳的測試信息，所述第二組通信接口用于與所述被測芯片中的第一組管腳電連接，所述第三組通信接口用于與所述被測芯片中的第二組管腳電連接；所述切換裝置用于基于所述測試設備發送的控制指令，控制在第一連通態和第二連通態之間進行切換；其中，所述第一組通信接口與所述第二組通信接口電連接的情況下為所述第一連通態，在所述第一連通態下，所述被測芯片中除所述第一組管腳外的其他所有管腳作為被測管腳，所述第一組管腳作為通信管腳；所述第一組通信接口與所述第三組通信接口電連接的情況下為所述第二連通態，在所述第二連通態下，所述第一組管腳作為被測管腳，所述第二組管腳作為通信管腳。

根據本發明一些實施例的芯片測試系統，所述測試設備具體用于，在所述第一連通態下，若確定所述測試信息所指示的是所述第一組管腳，則向所述切換裝置發送所述控制指令，切換至所述第二連通態下對所述第一組管腳進行測試；或在所述第一連通態下，若確定所述測試信息所指示的并非所述第一組管腳，則對除所述第一組管腳外的其他管腳基于所述測試信息進行測試；或在所述第二連通態下，若確定所述測試信息所指示的是所述第二組管腳，則向所述切換裝置發送所述控制指令，切換至所述第一連通態下對所述第二組管腳進行測試；或在所述第二連通態下，若確定所述測試信息所指示的并非所述第二組管腳，則對除所述第二組管腳外的其他管腳基于所述測試信息進行測試。

根據本發明一些實施例的芯片測試系統，所述切換裝置還包括控制接口，用于與所述測試設備電連接，接收所述測試設備發送的所述控制指令。

根據本發明一些實施例的芯片測試系統，所述切換裝置為繼電器。