[發明專利]芯片測試系統、測試方法、芯片的測試響應方法和芯片

有效

• 申請號: 202010636785.7
• 申請日: 2020-07-03
• 公開（公告）號: CN111929562B
• 公開（公告）日: 2023-06-23
• 發明（設計）人: 劉凱
• 申請（專利權）人: 上海美仁半導體有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 鄭朝然

1.一種芯片測試系統，其特征在于，包括：

測試設備和切換裝置；

其中，所述切換裝置包括第一組通信接口、第二組通信接口和第三組通信接口；所述第一組通信接口與所述測試設備電連接，用于接收所述測試設備發送的指示被測管腳的測試信息，所述第二組通信接口用于與被測芯片中的第一組管腳電連接，所述第三組通信接口用于與所述被測芯片中的第二組管腳電連接；

所述切換裝置用于基于所述測試設備發送的控制指令，控制在第一連通態和第二連通態之間進行切換；其中，所述第一組通信接口與所述第二組通信接口電連接的情況下為所述第一連通態，在所述第一連通態下，所述被測芯片中除所述第一組管腳外的其他所有管腳作為被測管腳，所述第一組管腳作為通信管腳；所述第一組通信接口與所述第三組通信接口電連接的情況下為所述第二連通態，在所述第二連通態下，所述第一組管腳作為被測管腳，所述第二組管腳作為通信管腳；

所述測試設備具體用于，

在所述第一連通態下，若確定所述測試信息所指示的并非所述第一組管腳，則對除所述第一組管腳外的其他管腳基于所述測試信息進行測試；或

在所述第一連通態下，若確定所述測試信息所指示的是所述第一組管腳，則向所述切換裝置發送所述控制指令，切換至所述第二連通態下對所述第一組管腳進行測試；或

在所述第二連通態下，若確定所述測試信息所指示的并非所述第二組管腳，則對除所述第二組管腳外的其他管腳基于所述測試信息進行測試；或

在所述第二連通態下，若確定所述測試信息所指示的是所述第二組管腳，則向所述切換裝置發送所述控制指令，切換至所述第一連通態下對所述第二組管腳進行測試。

2.根據權利要求1所述的芯片測試系統，其特征在于，所述切換裝置還包括控制接口，用于與所述測試設備電連接，接收所述測試設備發送的所述控制指令。

3.根據權利要求1-2中任一項所述的芯片測試系統，其特征在于，所述切換裝置為繼電器。

4.一種使用如權利要求1-3中任一項所述的芯片測試系統的芯片管腳輸入特性的測試方法，其特征在于，包括：

所述測試設備通過所述第一組通信接口向被測芯片發送測試信息；

若確定所述測試信息所指示的管腳為通信管腳，則向所述切換裝置發送所述控制指令，切換所述切換裝置的連通態；

若確定所述測試信息所指示的管腳為并非通信管腳，則對所述測試信息所指示的管腳進行測試。

5.根據權利要求4所述的芯片管腳輸入特性的測試方法，其特征在于，所述確定所述測試信息所指示的管腳為通信管腳，包括：

在目標時間內，未接收到從所述被測芯片發送的反饋信息，確定所述測試信息所指示的管腳為通信管腳。

6.根據權利要求4所述的芯片管腳輸入特性的測試方法，其特征在于，所述確定所述測試信息所指示的管腳為通信管腳，包括：

從所述被測芯片接收基于所述測試信息確定的反饋信息；

基于所述反饋信息，確定所述測試信息所指示的管腳為通信管腳。

7.根據權利要求4所述的芯片管腳輸入特性的測試方法，其特征在于，所述確定所述測試信息所指示的管腳為并非通信管腳，包括：

從所述被測芯片接收基于所述測試信息確定的反饋信息；

基于所述反饋信息，確定所述測試信息所指示的管腳為并非通信管腳。

8.根據權利要求4-7中任一項所述的芯片管腳輸入特性的測試方法，其特征在于，所述若確定所述測試信息所指示的管腳為通信管腳，則向所述切換裝置發送所述控制指令，切換所述切換裝置的連通態，包括：

在所述第一連通態下，若確定所述測試信息所指示的是所述第一組管腳，則向所述切換裝置發送所述控制指令，切換至所述第二連通態；或

在所述第二連通態下，若確定所述測試信息所指示的是所述第二組管腳，則向所述切換裝置發送所述控制指令，切換至所述第一連通態。