[發(fā)明專(zhuān)利]微發(fā)光二極管芯片巨量轉(zhuǎn)移方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010631080.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-07-03 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112992757B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-04-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張嘉修;鍾光韋;江仁杰 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 重慶康佳光電技術(shù)研究院有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/683 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/683;H01L33/48 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 44202 | 代理人: | 熊永強(qiáng) |
| 地址: | 402760 重慶市璧*** | 國(guó)省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 發(fā)光二極管 芯片 巨量 轉(zhuǎn)移 方法 | ||
1.一種微發(fā)光二極管芯片巨量轉(zhuǎn)移方法,其特征在于,包括:
在DMD芯片的多個(gè)微型振鏡上形成第一膠層;
將第一基板上形成的多個(gè)微發(fā)光二極管芯片粘接在所述第一膠層上,并使多個(gè)所述微發(fā)光二極管芯片與多個(gè)所述微型振鏡一一對(duì)應(yīng);
剝離所述第一基板;
溶解所述第一膠層,以使所述第一膠層之位于相鄰的兩個(gè)所述微發(fā)光二極管芯片之間的部分被除去,所述第一膠層之連接所述微發(fā)光二極管芯片和所述微型振鏡的部分被保留而形成弱化結(jié)構(gòu);
在第三基板上形成第二膠層,并將所述第二膠層與多個(gè)所述微發(fā)光二極管芯片粘接;
調(diào)節(jié)多個(gè)所述微型振鏡中的部分所述微型振鏡旋轉(zhuǎn),以使所述弱化結(jié)構(gòu)斷裂,使所述微發(fā)光二極管芯片與對(duì)應(yīng)的所述微型振鏡分離;
將所述第三基板攜帶的多個(gè)所述微發(fā)光二極管芯片與顯示背板鍵合。
2.如權(quán)利要求1所述的微發(fā)光二極管芯片巨量轉(zhuǎn)移方法,其特征在于,在DMD芯片的多個(gè)微型振鏡上形成第一膠層,包括:
提供所述DMD芯片,所述DMD芯片包括第二基板和設(shè)置在所述第二基板上的多個(gè)所述微型振鏡;每個(gè)所述微型振鏡相對(duì)所述第二基板包括第一狀態(tài)和第二狀態(tài),在所述第一狀態(tài)時(shí),所述微型振鏡的鏡面相對(duì)所述第二基板的板面平行,在所述第二狀態(tài)時(shí),所述微型振鏡的鏡面相對(duì)所述第二基板的板面傾斜;
在形成所述第一膠層時(shí),設(shè)置多個(gè)所述微型振鏡均處于所述第一狀態(tài)。
3.如權(quán)利要求2所述的微發(fā)光二極管芯片巨量轉(zhuǎn)移方法,其特征在于,調(diào)節(jié)多個(gè)所述微型振鏡中的部分所述微型振鏡旋轉(zhuǎn)時(shí),旋轉(zhuǎn)的部分所述微型振鏡從所述第一狀態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)樗龅诙顟B(tài)。
4.如權(quán)利要求3所述的微發(fā)光二極管芯片巨量轉(zhuǎn)移方法,其特征在于,調(diào)節(jié)多個(gè)所述微型振鏡中的部分所述微型振鏡旋轉(zhuǎn)時(shí),設(shè)置相鄰的兩個(gè)處于所述第二狀態(tài)的所述微型振鏡之間至少包含一個(gè)處于所述第一狀態(tài)的所述微型振鏡。
5.如權(quán)利要求4所述的微發(fā)光二極管芯片巨量轉(zhuǎn)移方法,其特征在于,調(diào)節(jié)處于所述第二狀態(tài)的多個(gè)所述微型振鏡時(shí),設(shè)置處于所述第二狀態(tài)的任意相鄰的兩個(gè)所述微型振鏡的間隔距離相等。
6.如權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的微發(fā)光二極管芯片巨量轉(zhuǎn)移方法,其特征在于,溶解所述第一膠層時(shí),包括:
使用溶劑從所述第一膠層之背向所述DMD芯片的表面對(duì)所述第一膠層進(jìn)行溶解,使得所述第一膠層從背向所述DMD芯片的表面向朝向所述DMD芯片的表面的溶解程度逐漸減少,從而使得所述弱化結(jié)構(gòu)形成從所述微發(fā)光二極管芯片一側(cè)向所述DMD芯片的一側(cè)呈尺寸逐漸增大的結(jié)構(gòu)。
7.如權(quán)利要求6所述的微發(fā)光二極管芯片巨量轉(zhuǎn)移方法,其特征在于,調(diào)節(jié)所述溶劑的用量和反應(yīng)時(shí)間,以使所述弱化結(jié)構(gòu)的截面的形狀呈等腰三角形或等腰梯形。
8.如權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的微發(fā)光二極管芯片巨量轉(zhuǎn)移方法,其特征在于,將第一基板上形成的多個(gè)微發(fā)光二極管芯片粘接在所述第一膠層上,包括:
在所述第一基板上形成多個(gè)所述微發(fā)光二極管芯片,所述微發(fā)光二極管芯片包括磊晶以及形成在所述磊晶上的P電極和N電極,所述P電極和所述N電極位于背向所述第一基板的一側(cè),且所述P電極和所述N電極之間具有間隔距離;
將所述第一膠層嵌入所述P電極和所述N電極之間的間隔中。
9.如權(quán)利要求8所述的微發(fā)光二極管芯片巨量轉(zhuǎn)移方法,其特征在于,溶解所述第一膠層時(shí),使所述P電極和所述N電極的外側(cè)的所述第一膠層除去,使所述P電極和所述N電極之間的所述第一膠層保留而形成所述弱化結(jié)構(gòu)。
10.如權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的微發(fā)光二極管芯片巨量轉(zhuǎn)移方法,其特征在于,將所述第三基板攜帶的多個(gè)所述微發(fā)光二極管芯片與顯示背板鍵合后,剝離所述第三基板和所述第二膠層。
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H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專(zhuān)門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專(zhuān)門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
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