[發明專利]角度測量機構

有效

• 申請號: 202010630333.8
• 申請日: 2020-07-03
• 公開（公告）號: CN112171380B
• 公開（公告）日: 2023-07-21
• 發明（設計）人: J.米特賴特
• 申請（專利權）人: 約翰內斯·海德漢博士有限公司
• 主分類號: B23Q17/22
• 分類號: B23Q17/22;G01B7/30;G01B7/00;G01B11/26;G01B11/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 楊國治;王瑋

1.角度測量機構，包括第一結構部件組（1）、第二結構部件組（2）以及支承件（3），其中，所述結構部件組（1、2）相對于彼此繞轉動軸線（A）通過所述支承件（3）能夠轉動地進行布置，其中，

-?所述第一結構部件組（1）包括刻度元件（1.1；1.1'；1.1''），所述刻度元件具有第一分度（1.11；1.11'；1.11''）以及第二分度（1.12；1.12'；1.12''），

-?所述第二結構部件組（2）

具有第一結構單元（2.1），所述第一結構單元具有位置傳感器（2.11），所述位置傳感器與所述刻度元件（1.1；1.1'；1.1''）以空隙對置地進行布置，并且

具有第二結構單元（2.2），所述第二結構單元具有第一、第二、第三、第四、第五和第六位置接收器（2.21、2.22、2.23、2.24、2.25、2.26），所述位置接收器與所述刻度元件（1.1；1.1'；1.1''）以空隙對置地進行布置，

具有補償聯接件（2.3），其中，

通過所述位置傳感器（2.11）能夠掃描所述第一分度（1.11；1.11'；1.11''）以用于確定在所述結構部件組（1、2）之間的相對的角度位置，并且

通過所述第一、第二和第三位置接收器（2.21、2.22、2.23）能夠掃描所述第一分度（1.11；1.11'；1.11''）或布置在所述刻度元件（1.1；1.1'；1.1''）處的另外的分度以用于確定所述刻度元件（1.1；1.1'；1.1''）在平面（P）中的移位，并且

通過所述第四、第五和第六位置接收器（2.24、2.25、2.26）能夠掃描所述第二分度（1.12；1.12'；1.12''）以用于確定所述刻度元件（1.1；1.1'；1.1''）繞傾斜軸線（B）的傾斜，所述傾斜軸線處于所述平面（P）中或平行于所述平面（P），其中，

所述第一結構單元（2.1）借助于所述補償聯接件（2.3）與所述第二結構單元（2.2）轉動剛性地但是軸向和徑向屈服地連接，從而所述位置傳感器（2.11）相對于所述位置接收器（2.21、2.22、2.23、2.24、2.25、2.26）轉動剛性地但是軸向和徑向屈服地進行布置。

2.根據權利要求1所述的角度測量機構，其中，所述第一分度（2.11）包括規律的結構，所述結構沿著第一方向平行于彼此地彼此成排地進行布置，其中，所述第一方向具有沿周緣方向（u）的方向分量，并且

所述第二分度（1.12；1.12'；1.12''）包括規律的結構，所述結構沿著第二方向平行于彼此地彼此成排地進行布置，其中，所述第二方向具有沿軸向方向（z）的方向分量。

3.根據權利要求1或2所述的角度測量機構，其中，所述第二結構部件組（2）具有光源（2.211）并且所述第一分度（1.11；1.11'；1.11''）和所述位置傳感器（2.11）如下地設計，使得在所述結構部件組（1、2）之間的相對的角度位置能夠通過光學的原理確定。

4.根據前述權利要求中任一項所述的角度測量機構，其中，所述刻度元件（1.1；1.1'；1.1''）在所述平面（P）中的移位能夠通過磁的原理確定。

5.根據前述權利要求中任一項所述的角度測量機構，其中，所述第一分度（1.11''）和所述第二分度（1.12''）至少部分重疊地進行布置。

6.根據前述權利要求中任一項所述的角度測量機構，其中，用于確定所述刻度元件（1.1；1.1'；1.1''）的移位的位置接收器（2.21、2.22、2.23）中的至少兩個以繞所述轉動軸線（A）為至少90°的圓心角錯位地進行布置。

7.根據前述權利要求中任一項所述的角度測量機構，其中，用于確定所述刻度元件（1.1；1.1'；1.1''）繞所述傾斜軸線（B）的傾斜的位置接收器（2.24、2.25、2.26）中的至少兩個以繞所述轉動軸線（A）為至少90°的圓心角錯位地進行布置。