[發明專利]元件檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202010628228.0
• 申請日: 2020-07-02
• 公開（公告）號: CN111784674A
• 公開（公告）日: 2020-10-16
• 發明（設計）人: 余標;朱鵬程;黎凱中
• 申請（專利權）人: 深圳明銳理想科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/70;G06T7/13
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 李文淵

本申請涉及一種元件檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質。所述方法包括：獲取待檢測元件對應的元件圖像；在所述元件圖像中定位所述待檢測元件包括的多個引腳，得到所述多個引腳各自對應的引腳坐標；篩選所述引腳坐標中的多個邊緣引腳坐標，根據所述多個邊緣引腳坐標確定所述待檢測元件的旋轉角度；根據所述旋轉角度對所述引腳坐標進行矯正，得到矯正后的引腳坐標；將所述矯正后的引腳坐標與所述待檢測元件對應的標準檢測位置進行匹配，基于匹配的引腳坐標進行元件檢測，得到所述待檢測元件對應的檢測結果。采用本方法能夠提高待檢測元件的檢測結果的準確性。

技術領域

本申請涉及計算機技術領域，特別是涉及一種元件檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質。

背景技術

視覺檢測技術是計算機視覺領域中，利用計算機代替人來做測量或者判斷的計算機技術。對具有特定排布的元件進行缺陷檢測是視覺檢測技術的一種重要應用。比如，計算機可以基于視覺檢測技術，對CPU(central processing unit，中央處理器)插槽這類具有特定的引腳排布的元件進行檢測。

在傳統方式中，計算機通常在元件圖像中根據人為標記找到引腳后，根據人為設置的檢測區域對圖像中的引腳進行偏移檢測，得到元件的檢測結果。在拍攝元件圖像時，元件可能存在旋轉等情況，會增大檢測結果中引腳與檢測區域之間的偏移量，導致檢測結果的準確性降低。

發明內容

基于此，有必要針對上述技術問題，提供一種能夠提高檢測結果的準確性的元件檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質。

一種元件檢測方法，所述方法包括：

獲取待檢測元件對應的元件圖像；

在所述元件圖像中定位所述待檢測元件包括的多個引腳，得到所述多個引腳各自對應的引腳坐標；

篩選所述引腳坐標中的多個邊緣引腳坐標，根據所述多個邊緣引腳坐標確定所述待檢測元件的旋轉角度；

根據所述旋轉角度對所述引腳坐標進行矯正，得到矯正后的引腳坐標；

將所述矯正后的引腳坐標與所述待檢測元件對應的標準檢測位置進行匹配，基于匹配的引腳坐標進行元件檢測，得到所述待檢測元件對應的檢測結果。

在其中一個實施例中，所述篩選所述引腳坐標中的多個邊緣引腳坐標包括：

獲取所述待檢測元件對應的標準檢測位置；

將所述引腳坐標與所述標準檢測位置進行匹配，得到相匹配的多個待測引腳坐標；

從所述多個待測引腳坐標中篩選多個邊緣引腳坐標。

在其中一個實施例中，所述根據所述多個邊緣引腳坐標確定所述待檢測元件的旋轉角度包括：

根據所述多個邊緣引腳坐標進行線性擬合，得到元件邊緣線；

以標準檢測位置對應的標準邊緣線為基準，計算所述元件邊緣線的傾斜度，根據所述傾斜度確定所述待檢測元件的旋轉角度。

在其中一個實施例中，所述元件邊緣線包括所述待檢測元件對應的多條邊緣線；

所述以標準檢測位置對應的標準邊緣線為基準，計算所述元件邊緣線的傾斜度，根據所述傾斜度確定所述待檢測元件的旋轉角度包括：

基于標準檢測位置生成所述邊緣線各自對應的標準邊緣線；

以所述邊緣線各自對應的標準邊緣線為基準，分別計算所述邊緣線對應的傾斜度，根據所述傾斜度確定所述邊緣線對應的邊緣角度；

對多個所述邊緣角度進行平均操作，將得到的平均角度確定為所述待檢測元件的旋轉角度。