[發明專利]元件檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202010628228.0
• 申請日: 2020-07-02
• 公開（公告）號: CN111784674A
• 公開（公告）日: 2020-10-16
• 發明（設計）人: 余標;朱鵬程;黎凱中
• 申請（專利權）人: 深圳明銳理想科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/70;G06T7/13
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 李文淵

1.一種元件檢測方法，所述方法包括：

獲取待檢測元件對應的元件圖像；

在所述元件圖像中定位所述待檢測元件包括的多個引腳，得到所述多個引腳各自對應的引腳坐標；

篩選所述引腳坐標中的多個邊緣引腳坐標，根據所述多個邊緣引腳坐標確定所述待檢測元件的旋轉角度；

根據所述旋轉角度對所述引腳坐標進行矯正，得到矯正后的引腳坐標；

將所述矯正后的引腳坐標與所述待檢測元件對應的標準檢測位置進行匹配，基于匹配的引腳坐標進行元件檢測，得到所述待檢測元件對應的檢測結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述篩選所述引腳坐標中的多個邊緣引腳坐標包括：

獲取所述待檢測元件對應的標準檢測位置；

將所述引腳坐標與所述標準檢測位置進行匹配，得到相匹配的多個待測引腳坐標；

從所述多個待測引腳坐標中篩選多個邊緣引腳坐標。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述多個邊緣引腳坐標確定所述待檢測元件的旋轉角度包括：

根據所述多個邊緣引腳坐標進行線性擬合，得到元件邊緣線；

以標準檢測位置對應的標準邊緣線為基準，計算所述元件邊緣線的傾斜度，根據所述傾斜度確定所述待檢測元件的旋轉角度。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述元件邊緣線包括所述待檢測元件對應的多條邊緣線；

所述以標準檢測位置對應的標準邊緣線為基準，計算所述元件邊緣線的傾斜度，根據所述傾斜度確定所述待檢測元件的旋轉角度包括：

基于標準檢測位置生成所述邊緣線各自對應的標準邊緣線；

以所述邊緣線各自對應的標準邊緣線為基準，分別計算所述邊緣線對應的傾斜度，根據所述傾斜度確定所述邊緣線對應的邊緣角度；

對多個所述邊緣角度進行平均操作，將得到的平均角度確定為所述待檢測元件的旋轉角度。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于匹配的引腳坐標進行元件檢測，得到所述待檢測元件對應的檢測結果包括：

基于所述匹配的引腳坐標生成多個同線引腳集合；

根據所述同線引腳集合中的引腳坐標進行線性擬合，得到所述同線引腳集合對應的偏移參考線；

根據所述引腳坐標以及所述偏移參考線進行偏移檢測，得到引腳偏移量；

統計所述待檢測元件包括的多個引腳各自對應的引腳偏移量，得到所述待檢測元件對應的檢測結果。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述元件圖像中定位所述待檢測元件包括的多個引腳，得到所述多個引腳各自對應的引腳坐標包括：

對所述元件圖像進行預處理，得到預處理后的圖像；

在所述預處理后的圖像中定位所述待檢測元件包括的多個引腳，得到所述多個引腳各自對應的引腳區域；

獲取對于所述待檢測元件對應元件類型配置的元件參數，基于所述元件參數篩選所述引腳區域，得到篩選后的引腳區域；

在所述篩選后的引腳區域中確定所述引腳對應的引腳坐標。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取標準元件對應的標準元件圖像；

對所述標準元件圖像進行預處理，在預處理后的標準元件圖像中，定位所述標準元件對應的多個標準引腳區域；

獲取對于所述標準元件對應元件類型配置的元件參數，根據所述元件參數生成標準引腳網格，所述標準元件與所述待檢測元件的元件類型相一致；

將所述標準引腳區域與所述標準引腳網格進行匹配，根據相匹配的標準引腳區域生成標準檢測區域，在所述標準檢測區域中確定標準檢測位置。