[發明專利]液晶顯示面板的光學量測方法及量測系統

有效

• 申請號: 202010625736.3
• 申請日: 2020-07-02
• 公開（公告）號: CN111812869B
• 公開（公告）日: 2022-07-29
• 發明（設計）人: 海博
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01M11/02
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 高楊麗

一種液晶顯示面板的光學量測方法及量測系統，包括：采用偏光片單體光學量測設備分別量測參考偏光片的平行穿透頻譜MD₀值以及垂直穿透頻譜TD₀值；通過所述MD₀值以及所述TD₀值分別計算出所述參考偏光片的單體穿透率S值以及平行穿透率T_POL值；通過液晶顯示面板穿透率量測設備量測出偏貼所述參考偏光片的液晶顯示面板的實際穿透率T_總值并計算出除去所述參考偏光片外的膜層材料的穿透率T_w/oPOL值；采用所述偏光片單體光學量測設備分別量測出目標偏光片的平行穿透頻譜MD₁值以及垂直穿透頻譜TD₁值；計算出所述目標偏光片的單體穿透率S₁值以及平行穿透率T_POL1值；最終通過上述已知數值計算偏貼所述目標偏光片的液晶顯示面板的實際穿透率T_new總值。

技術領域

本申請涉及顯示技術領域，尤其涉及一種液晶顯示面板的光學量測方法及量測系統。

背景技術

目前常用的液晶面板顯示模式主要包括VA(Vertical alignment，垂直配向)模式。以VA模式為例：VA顯示是一種垂直配向的常黑模式，其上下基板偏光片吸收軸垂直偏貼。VA液晶顯示的原理基于液晶的透光率隨其所施電壓大小而變化的特性。當光通過下基板(陣列基板)的偏振片后，變成線性偏振光，偏振方向與下偏振片穿透方向一致。在不加電壓時，光線經過液晶不會發生偏振方向改變，經過上基板(彩膜基板)偏光，光線被吸收為黑態。當加上電壓以后，液晶在電場作用下沿配向方向發生偏轉，當光通過液晶層時，由于受液晶折射，線性偏振光被分解為兩束光，又由于這兩束光傳播速度不同，因而當兩束光合成后，必然使偏振光的偏振方向發生變化，當入射光達到上基板偏振片時，與下偏振片的穿透方向平行的光線可以通過，為亮態。

由上可知，在整個顯示過程中，偏光片起到至關重要的作用，偏光片會影響液晶面板的穿透率、亮度、對比度、色度等重要參數，故需要對偏光片的各項光學參數，比如單體穿透率、平行穿透率、垂直穿透率、穿透頻譜、色度、偏亮度等各種參數進行監控和量測。目前，針對液晶顯示面板在導入不同偏光片時采用常規的驗證方式評估基本光學參數至少需要兩周以上，耗時耗力。

因此，急需提供一種液晶顯示面板的光學量測方法及量測系統，以解決上述技術問題。

發明內容

本申請實施例提供一種液晶顯示面板的光學量測方法及量測系統，能夠極大地節約液晶顯示面板中偏光片的驗證時間和減少驗證資源，提高偏光片導入產品效率，以解決現有的液晶顯示面板的光學量測方法及量測系統，在目前偏光片導入液晶產品驗證過程中存在耗時耗力的現象。

本申請實施例提供一種液晶顯示面板的光學量測方法，所述方法包括：

S10，提供一參考偏光片，采用偏光片單體光學量測設備分別量測出所述參考偏光片的平行穿透頻譜MD₀值以及垂直穿透頻譜TD₀值；

S20，通過公式S＝(MD+TD)/2、公式T_POL＝(MD²+TD²)/2、所述MD₀值以及所述TD₀值分別計算出所述參考偏光片的單體穿透率S值以及平行穿透率T_POL值；

S30，將兩個所述參考偏光片偏貼在一陣列基板的相對兩側，形成第一液晶顯示面板，通過液晶顯示面板穿透率量測設備量測出所述第一液晶顯示面板的實際穿透率T_總值；

S40，通過公式T_w/oPOL＝T_總/T_POL計算出所述第一液晶顯示面板中除去所述參考偏光片外的膜層材料的穿透率T_w/oPOL值；