[發(fā)明專利]液晶顯示面板的光學(xué)量測方法及量測系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010625736.3
• 申請日: 2020-07-02
• 公開（公告）號: CN111812869B
• 公開（公告）日: 2022-07-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 海博
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市華星光電半導(dǎo)體顯示技術(shù)有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01M11/02
• 代理公司: 深圳紫藤知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570
• 代理人: 高楊麗

1.一種液晶顯示面板的光學(xué)量測方法，其特征在于，所述方法包括：

S10，提供一參考偏光片，采用偏光片單體光學(xué)量測設(shè)備分別量測出所述參考偏光片的平行穿透頻譜MD₀值以及垂直穿透頻譜TD₀值，其中，所述平行穿透頻譜為入射線偏光經(jīng)過與所述參考偏光片透過軸方向的透過頻譜；所述垂直穿透頻譜為入射線偏光經(jīng)過與所述參考偏光片吸收軸方向的透過頻譜；

S20，通過公式S=(MD+TD)/2、公式T_POL=(MD²+TD²)/2、所述MD₀值以及所述TD₀值分別計算出所述參考偏光片的單體穿透率S₀值以及平行穿透率T_POL0值，其中，單體穿透率S₀為自然光經(jīng)過單個所述參考偏光片的透過頻譜；平行穿透率T_POL0為自然光經(jīng)過兩個相互平行設(shè)置的所述參考偏光片的透過頻譜；其中，所述參考偏光片的單體穿透率S₀=0.5MD₀，所述參考偏光片的平行穿透率T_POL0=MD₀²/2=2S₀²；

S30，將兩個所述參考偏光片偏貼在一陣列基板的相對兩側(cè)，形成第一液晶顯示面板，通過液晶顯示面板穿透率量測設(shè)備量測出所述第一液晶顯示面板的實際穿透率T_總值；

S40，通過公式T_w/oPOL=T_總/T_POL計算出所述第一液晶顯示面板中除去所述參考偏光片外的膜層材料的穿透率T_w/oPOL值，T_w/oPOL=T_總/2S₀^-2；

S50，提供另一目標偏光片，將兩個所述目標偏光片偏貼在所述陣列基板的相對兩側(cè)，形成第二液晶顯示面板，采用偏光片單體光學(xué)量測設(shè)備量測出所述目標偏光片的平行穿透頻譜MD₁，以及通過公式T_new總=T_POL1*T_w/oPOL=T_總*S₁²*S₀^-2計算出所述第二液晶顯示面板的實際穿透率T_new總值，其中，平行穿透率T_POL1為自然光經(jīng)過兩個相互平行設(shè)置的所述目標偏光片的透過頻譜，S₁為所述目標偏光片的單體穿透率S值；所述目標偏光片的單體穿透率S₁=0.5MD₁，所述目標偏光片的平行穿透率T_POL1=MD₁²/2=2S₁²。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示面板的光學(xué)量測方法，其特征在于，所述S10中，所述偏光片單體光學(xué)量測設(shè)備為V7100單體光學(xué)量測機臺。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示面板的光學(xué)量測方法，其特征在于，通過所述T_new總值可以計算出所述第二液晶顯示面板的基本光學(xué)參數(shù)，所述基本光學(xué)參數(shù)包括色度x軸坐標、色度y軸坐標、亮度以及穿透率。