[發明專利]密封檢測裝置

在審

• 申請號: 202010624373.1
• 申請日: 2020-06-30
• 公開（公告）號: CN111751065A
• 公開（公告）日: 2020-10-09
• 發明（設計）人: 陶衛東;譚方勇;胡煥昭
• 申請（專利權）人: 博眾精工科技股份有限公司
• 主分類號: G01M3/36
• 分類號: G01M3/36;G01B11/06
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 胡彬

本發明涉及密封檢測技術領域，具體涉及一種密封檢測裝置，該密封檢測裝置包括壓力容器和鐳射機，壓力容器包括容器主體和密封蓋，容器主體具有用于容納產品的容納腔。鐳射機配置為在密封蓋密封容器主體且容納腔充有氣壓的過程中，向產品發出射線，以檢測產品的高度變化。本發明的密封檢測裝置的有益效果在于：當密封蓋密封容器主體且容納腔充有壓力后，如果產品密封不合格，會發生漏氣的情況，導致產品的高度發生變化。如果產品密封合格，則產品的高度不會發生變化。本發明通過鐳射機發出的射線來檢測產品的高度變化，進而判斷產品密封是否合格，檢測精度高，進而使得本發明的密封檢測裝置的檢測準確率高。

技術領域

本發明涉及密封檢測技術領域，具體涉及一種密封檢測裝置。

背景技術

產品的兩個部件在密封連接之后，需要判斷是否密封合格。例如，手機的手機后殼與屏幕之間密封連接之后，需要判斷手機后殼與屏幕之間是否密封合格。

現有一般是通過人眼去判斷，通過這種人工檢測的方法的問題在于：判斷錯誤率高，即容易存在誤判斷的情況，導致一些不合格的產品流向市場以及導致一些密封完好的產品二次密封。

發明內容

本發明的目的在于提供一種密封檢測裝置，以解決現有的檢測錯誤率高的問題。

為達此目的，本發明采用以下技術方案：

一種密封檢測裝置，包括：

壓力容器，所述壓力容器包括容器主體和密封蓋，所述容器主體具有用于容納產品的容納腔；

鐳射機，所述鐳射機配置為在所述密封蓋密封所述容器主體且所述容納腔充有氣壓的過程中，向所述產品發出射線，以檢測所述產品的高度變化。

優選地，在上述的密封檢測裝置中，所述鐳射機的數量為至少兩個，至少兩個所述鐳射機分別用于向至少兩個所述產品發出所述射線。

優選地，在上述的密封檢測裝置中，所述壓力容器還包括位于所述容納腔的支架和安裝于所述支架的載具，所述載具用于承托所述產品。

優選地，在上述的密封檢測裝置中，所述載具具有至少兩個容納槽，所述容納槽用于容納所述產品。

優選地，在上述的密封檢測裝置中，至少兩個所述容納槽陣列分布。

優選地，在上述的密封檢測裝置中，所述密封檢測裝置還包括水平調節機構，所述水平調節機構與所述鐳射機相連且用于調節所述鐳射機橫向和縱向的位置。

優選地，在上述的密封檢測裝置中，每個所述鐳射機配置有一個水平調節機構。

優選地，在上述的密封檢測裝置中，所述密封檢測裝置還包括豎直調節機構，所述豎直調節機構與所述鐳射機相連且用于調節所述鐳射機豎直的位置。

優選地，在上述的密封檢測裝置中，每個所述鐳射機配置有一個所述豎直調節機構，所述容納腔中還具有校驗塊，所述校驗塊用于檢測各個所述鐳射機的豎直方向的高度。

優選地，在上述的密封檢測裝置中，所述密封檢測裝置還包括底座和承托于所述底座且連接于所述底座的安裝架，所述壓力容器承托于所述底座，所述安裝架具有豎直的滑道；所述鐳射機滑設于所述滑道。

本發明的密封檢測裝置的有益效果在于：當密封蓋密封容器主體且容納腔充有壓力后，如果產品密封不合格，會發生漏氣的情況，導致產品的高度發生變化。如果產品200密封合格，則產品200的高度不會發生變化。本發明通過鐳射機發出的射線來檢測產品的高度變化，進而判斷產品密封是否合格，檢測精度高，進而使得本發明的密封檢測裝置的檢測準確率高。

附圖說明

圖1是本發明實施例密封檢測裝置的立體圖；

圖2是本發明實施例密封檢測裝置的壓力容器的立體圖；